CX系列粗糙度輪廓儀
粗糙度輪廓儀是一種用于測量物體表面粗糙度和輪廓形狀的精密儀器，應用于機械加工、制造業(yè)、材料科學等領域。它能夠同時評估微觀表面粗糙度和宏觀幾何形狀，幫助用戶全面分析工件的表面質(zhì)量與幾何精度。精度高（可達納米級），適用于大多數(shù)材料。
本儀器使用金剛石探針接觸表面，探針隨表面凹凸上下移動，通過傳感器將位移轉(zhuǎn)換為電信號。采用一體化傳感器，優(yōu)化了操作軟件，使儀器測量精確，重復性穩(wěn)定，使用方便。有大規(guī)格以及特殊工件檢測的測量儀器供新老用戶選擇。
本公司積極向國際水平看齊，經(jīng)努力研制開發(fā)了本儀器。儀器采用天然金剛石觸針及硬制合金斧形觸針(可互換)，電感式觸頭及高精度傳感器，智能化程度高，測量精度高，穩(wěn)定性重復性好，外形美觀，打印輸出使用方便，使適用于機械加工制造行業(yè)及軸承制造行業(yè)使用。并可為用戶測量特殊工件而開發(fā)并為客戶量身定制設計專用的軟件。
一、性能介紹
1. 表面粗糙度測量
- 測量微觀表面凹凸不平的參數(shù)（如Ra、Rz、Rq等），評估加工表面的光滑度。
- 常見參數(shù)：
- Ra（算術平均偏差）：輪廓偏離平均線的juedui值的平均值。
-Rz（zui大高度差）：輪廓峰頂?shù)焦鹊椎膠ui大垂直距離。
- Rq（均方根粗糙度）：輪廓偏差的均方根值。
2. 輪廓形狀分析
- 測量宏觀幾何形狀（如直線度、圓弧度、臺階高度、溝槽深度等）。
- 可繪制2D/3D輪廓圖，分析工件的形狀誤差。
規(guī)格型號 | CX-3/100 | CX-3/160 | CX-1G |
粗糙度測量 | |||
評定參數(shù)： | Ra Ry Rz Rt Rq Rp Rv Rmax S Sm tp | Ra Ry Rz Rt Rq Rp Rv Rmax S Sm tp | Ra Ry Rz Rt Rq Rp Rv Rmax S Sm tp |
測量范圍： | Ra 0.01μm-10μm | Ra0.01μm-10μm | Ra 0.01μm-10μm |
觸針位移： | ±500μm | ±500μm | ±500μm |
分 辯 率： | 0.001μm | 0.001μm | 0.001μm |
示值誤差： | ≤3%±5nm | ≤3%±5nm | ≤3%±5nm |
輪廓測量 | |||
使用范圍： | X:0-100mm Z:0-450mm | X:0-160mm Z:0-550mm | x0-100mm, z 0-300mm |
測量范圍： | X:0-100mm Z:±3、±6、±10 | X:0-160mm Z:±6、±10、±15 | x0-100mm, z =±6mm |
分 辯 率： | 0.001μm、0.1μm | 0.001μm、0.1μm | 0.001mm,0.1mm |
半徑誤差： | 范圍0.1% - 0.8% | 范圍0.1% - 0.8% | 范圍1%-0.2% |
凈 重 | 約70Kg | ||
注：輪廓測量范圍分別有±3mm,±6mm,±15mm,三種可選。 | |||
二、應用領域
1. 機械加工：檢測車削、銑削、磨削等工藝后的表面質(zhì)量。
2. 汽車制造：評估發(fā)動機部件、齒輪、軸承的粗糙度。
3. 電子元件：測量半導體晶圓、光學鏡片的表面平整度。
4.航空航天：檢查渦輪葉片、機身涂層的表面特性。
5. 科研與質(zhì)檢：材料摩擦學、涂層性能研究等。
