一、產(chǎn)品概述

工業(yè)領(lǐng)域，電子設(shè)備在變得自動(dòng)化、智能化的同時(shí)，設(shè)計(jì)也變得更加復(fù)雜，由于多層高密度PCB板以及BGA封裝器件的大量使用，使得對電路板的測試變得極為困難，然而為了應(yīng)對用戶越來越苛刻的質(zhì)量要求以及設(shè)備現(xiàn)場使用需要，卻又不得不加強(qiáng)測試能力的建設(shè)，盡管國外有專用的測試設(shè)備，然而價(jià)格極為昂貴，使得產(chǎn)品綜合成本居高不下。雖然國內(nèi)有用戶應(yīng)用虛擬測試儀器，但是軟件開發(fā)應(yīng)用較為繁瑣復(fù)雜。如何開發(fā)一款功能強(qiáng)大，價(jià)格低廉的通用性測試設(shè)備，成為眾多測試設(shè)備廠商努力的方向。

 

 

 

        北京博基興業(yè)科技有限公司結(jié)合多年的技術(shù)積累和分析客戶需求特點(diǎn)、綜合市場等因素，推出一款PXI測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)在技術(shù)上結(jié)合ICT技術(shù)、邊界掃描技術(shù)、PCT技術(shù)、模擬電路故障字典、熱紅外成像技術(shù)；性能上結(jié)合功能測試和通斷測試；另外，該系統(tǒng)平衡了測試速度、精度、可靠性、升級性以及預(yù)算等通用需求上存在的矛盾,滿足各整機(jī)設(shè)備廠家生產(chǎn)測試維修的強(qiáng)烈需求，實(shí)現(xiàn)了“專業(yè)儀器便宜化，通用設(shè)備專業(yè)性”理念，是ATE測試設(shè)備的方案。

二、產(chǎn)品特點(diǎn)：

通用性、開放性和模塊化

BK-PXI系統(tǒng)采用通用開放式集成測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，將數(shù)字、模擬測試系統(tǒng)集成在高性能PXI測試總線上；系統(tǒng)具有2個(gè)PXI機(jī)箱，每個(gè)機(jī)箱都有12插槽，且混合3U和6U規(guī)格， 可滿足各種測試需求，具備良好的擴(kuò)展和升級能力； 系統(tǒng)具有的適配板接口設(shè)計(jì)，只需更換很少的適配板便可測試各種接口板卡，如： CPCI，PXI，PCI，PCIe； 模塊可根據(jù)用戶需要進(jìn)行組合、互換，具有模塊化、系列化、通用化和易擴(kuò)展的特點(diǎn)； 用戶使用BK-PXI系統(tǒng)，只需要開發(fā)被測板TPS和專用適配器，即可靈活構(gòu)建新的電路板檢測系統(tǒng)。

具備IEEE1149/IEEE1445標(biāo)準(zhǔn)接口以及功能測試能力

本系統(tǒng)數(shù)字測試模塊具備IEEE1149/IEEE1445文件接口，可將利用ScanWorks邊界掃描工具和LASAR電路仿真軟件以及LASAR后處理軟件開發(fā)的電路板測試文件，直接導(dǎo)入系統(tǒng)并用來測試和診斷； 系統(tǒng)具備邊界掃描功能，可實(shí)現(xiàn)板級互聯(lián)測試，可以測試電路板物理連接特性，能準(zhǔn)確的定位短路、開路等故障； 基于單元電路的功能測試，可測試/確認(rèn)電路板功能的正確性，并能準(zhǔn)確定位到元器件故障；
本系統(tǒng)可節(jié)約TPS開發(fā)成本，降低TPS開發(fā)難度，縮短TPS開發(fā)時(shí)間；并解決了對以往已開發(fā)的TPS再利用的問題。

具備對主控計(jì)算機(jī)板卡功能測試能力

系統(tǒng)采用處理器控制測試（PCT）技術(shù)，可對各種主控計(jì)算機(jī)板卡進(jìn)行壞板診斷、全速功能測試、高速FLASH燒錄、有效故障隔離。 PCT技術(shù)作為一種CPU仿真技術(shù)，利用CPU內(nèi)部的Debug接口，可實(shí)現(xiàn)在無BIOS的情況下對板上處理器進(jìn)行仿真，對MEMORY以I/O進(jìn)行讀寫以及設(shè)置斷點(diǎn)，代碼單步執(zhí)行等操作。

的雙屏顯示，人性化的鍵盤、鼠標(biāo)設(shè)計(jì)，使得對設(shè)備操作更加靈活方便

設(shè)備前面板帶有可靈活旋轉(zhuǎn)屏幕的12寸觸摸液晶屏，在設(shè)備的上方安裝有三維擺動(dòng)旋轉(zhuǎn)擺臂，可固定各種尺寸的液晶顯示器。在測試過程中，雙屏即可分開單獨(dú)使用，也可以作為主副屏共同顯示，軟件快捷切換顯示，非常便于操作。

熱紅外成像儀的使用，可以直觀發(fā)現(xiàn)故障所在

作為邊界掃描測試、PCT測試、功能測試的有效補(bǔ)充，設(shè)備帶有2套熱紅外成像儀（具體可按客戶要求選配），該成像儀使用美國FLIR公司的產(chǎn)品，分辨率可達(dá)：640*512，通過不間斷掃描成像，獲取板上器件功耗值，并變成可視信息供測試人員進(jìn)行故障診斷，可有效發(fā)現(xiàn)由于局部過流、過壓導(dǎo)致的器件損壞 。

圖形化的TPS開發(fā)和執(zhí)行界面

系統(tǒng)TPS開發(fā)采用圖形化設(shè)計(jì)技術(shù)，將模塊化、組件化、可配置、易用性很好的融合在一起，降低TPS開發(fā)難度，易學(xué)易用是其一個(gè)重要特點(diǎn)；操作簡單，具有在線引導(dǎo)提示，降低了對維修人員的技術(shù)要求； 離線式TPS編輯方式：TPS編輯模塊可脫離儀器和硬件設(shè)備的限制，使得開發(fā)和執(zhí)行可獨(dú)立運(yùn)行，互不干擾，開發(fā)和測試同步進(jìn)行。

采用組件化軟件設(shè)計(jì)模式

程序開發(fā)采用軟件復(fù)用技術(shù)，實(shí)現(xiàn)軟件可移植性，提高系統(tǒng)的可維護(hù)性和可靠性。軟件結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)為框架式，有利于平臺(tái)的升級和維護(hù)； 應(yīng)用控件技術(shù)，提供了可視化編程環(huán)境、圖形化輸入方式及和諧、友好的人機(jī)界面，降低了用戶使用的技術(shù)門檻。

可滿足不同維修級別要求

本系統(tǒng)由于具有系列化、通用化、實(shí)用化等優(yōu)異性能，只要配置不同功能的測試模塊便可滿足研發(fā)、生產(chǎn)、維護(hù)維修等需求。
基礎(chǔ)設(shè)備：配置測試模塊，實(shí)現(xiàn)常見故障板的維修，實(shí)用現(xiàn)場維修。
擴(kuò)展設(shè)備：配置豐富的測試模塊，能實(shí)現(xiàn)各種電路板的測試和故障診斷，具有可擴(kuò)展性，適用中繼級和基地級維修。

具有自檢、自校準(zhǔn)功能，系統(tǒng)操作簡單、易于掌握

系統(tǒng)自檢模塊用于對全系統(tǒng)的各個(gè)單元進(jìn)行自檢及初始化配置，并能顯示出相應(yīng)的狀態(tài)；系統(tǒng)的校準(zhǔn)，通過校準(zhǔn)模擬器對系統(tǒng)誤差的檢測，在測試軟件中進(jìn)行補(bǔ)償，確保系統(tǒng)的測量精度；通過自檢模塊實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)自檢、自校準(zhǔn)，保證了系統(tǒng)的可靠性，降低了操作者技術(shù)水平的要求和減輕了操作者的檢測、校準(zhǔn)系統(tǒng)的勞動(dòng)強(qiáng)度； 系統(tǒng)的TPS開發(fā)和儀器、執(zhí)行軟件的操作都有豐富的信息提示，操作簡單，用戶能夠快速掌握系統(tǒng)的應(yīng)用，較適于軍事應(yīng)用的實(shí)際需要。

 

三、系統(tǒng)性能指標(biāo)

 

 

	主控制器	intel ATOM：Dule Core 主頻：1.6GHz
	總線機(jī)箱	設(shè)備內(nèi)置2個(gè)PXI機(jī)箱，具有智能控溫功能
	人機(jī)交互	觸摸屏、顯示器、鼠標(biāo)鍵盤
	電源	可編程數(shù)字電源10路，提供電壓范圍： 0v ～ ±15v
	I/O量	16組*160，支持TTL,LVTTL,SSTTL,LVDS等電平
	系統(tǒng)時(shí)鐘	可編程數(shù)字時(shí)鐘5路，0-200MHz
	模擬輸入	模擬采集通道8路，12bit,量程范圍：0-10v，數(shù)據(jù)率：5MHz
	模擬輸出	模擬輸出通道1路，16bit,250K
	數(shù)字多用表	6? Digit DMM，測量速度100S/s，可測電壓：±300 VDC，可測 電流：±1 ADC
	任意波形發(fā)生器	2路，12bit, Sine 30MHz,AWG MODE 10MHZ
	矩陣開關(guān)	64路信號(hào)開關(guān)切換
	其他接口	JTAG：3路，SPI：8路，I2C：1路，USB：3路，CAN：2路
		RS232：4路，RS485:2路
	操作系統(tǒng)	WINDOWS XP/2007/2008
	軟件接口	支持PCT 支持IEEE1149 支持IEEE1445
	測試執(zhí)行軟件	C語言、C++、Labview ……
	被測對象	數(shù)字電路、模擬電路、數(shù)?；旌想娐?

 

 

四、軟件特點(diǎn)

 

通用的軟件開發(fā)平臺(tái)，支持各種電路板的TPS開發(fā)，靈活實(shí)現(xiàn)被測目標(biāo)功能測試、故障診斷、故障分析、故障定位以及故障信息記錄。

統(tǒng)一被測電路板從研制開發(fā)、設(shè)計(jì)驗(yàn)證、生產(chǎn)過程、質(zhì)量控制、維修補(bǔ)給多階段，使得電路板每一階段都可使用iTEST軟件進(jìn)行電路分析或故障排查，配有測試數(shù)據(jù)庫，可提供從開發(fā)至生產(chǎn)的無縫轉(zhuǎn)移。提供信息統(tǒng)計(jì)的功能，通過選取系統(tǒng)名稱、設(shè)備名稱、設(shè)備編號(hào)、插板名稱、插板編號(hào)、測試時(shí)間、測試人員中一個(gè)或多個(gè)，方便查詢測試記錄。負(fù)責(zé)執(zhí)行系統(tǒng)中的PCB測試診斷程序，完成PCB的診斷，同時(shí)對故障進(jìn)行分析和統(tǒng)計(jì)。