| 產(chǎn)品&規(guī)范 | 高溫 | 低溫 | 溫變率 | 循環(huán)數(shù) | 循環(huán) 時間 | 備注 | |
| MIL-STD-2164、GJB-1032-90 電子產(chǎn)品應力篩選 | 工作極限溫度 | 工作極限溫度 | 5℃/min | 10～12 | 3h20min | ||
| MIL-344A-4-16 電子設備環(huán)境應力篩選 | 71℃ | -54℃ | 5℃/min | 10 | |||
| MIL-2164A-19 電子設備環(huán)境應力篩選 | 工作極限溫度 | 工作極限溫度 | 10℃/min | 10 | 駐留時間為內(nèi)部達到設定溫度10℃時 | ||
| NABMAT-9492 美軍hai軍制造篩選 | 55℃ | -53℃ | 15℃/min | 10 | 駐留時間為內(nèi)部達到設定溫度5℃時 | ||
| GJB/Z34-5.1.6 電子產(chǎn)品定量環(huán)境應力篩選 | 85℃ | -55℃ | 15℃/min | ≧25 | 達到溫度穩(wěn)定的時間 | ||
| GJB/Z34-5.1.6 電子產(chǎn)品定量環(huán)境應力篩選 | 70℃ | -55℃ | 5℃/min | ≧10 | 達到溫度穩(wěn)定的時間 | ||
| 筆記型計算機 | 85℃ | -40℃ | 15℃/min |
電腦硬件冷熱沖擊加速老化實驗箱是一種專門用于模擬和測試電腦硬件（如主板、顯卡、硬盤、內(nèi)存條、電源等）在惡劣溫差條件下的工作穩(wěn)定性和耐用性的重要設備。通過在快速變化的溫度環(huán)境中加速老化過程，幫助研發(fā)人員評估硬件的可靠性、性能和長期使用過程中可能出現(xiàn)的潛在問題。
主要功能與作用：
模擬惡劣溫差變化：冷熱沖擊加速老化實驗箱可以在短時間內(nèi)將硬件暴露于高溫和低溫環(huán)境，模擬設備在實際使用中的溫度變化（如電源啟動時的冷啟動、長時間運行后的高溫等）。
加速硬件老化：通過反復的冷熱沖擊循環(huán)，促使硬件在短時間內(nèi)經(jīng)歷長時間使用中可能遭遇的溫度應力，從而加速老化過程，提前發(fā)現(xiàn)潛在故障。
評估硬件的環(huán)境適應性：測試硬件在快速溫度變化下是否會發(fā)生故障、損壞或性能下降，確保其在各種環(huán)境條件下的穩(wěn)定性和可靠性。
工作原理：
冷熱沖擊加速老化實驗箱通過控制內(nèi)部溫度，在高溫和低溫之間快速切換，使設備經(jīng)歷快速溫差變化。箱體通常設有冷區(qū)、熱區(qū)和過渡區(qū)，用于快速、平穩(wěn)地切換溫度。
快速溫度變化：設備的溫度可以在幾分鐘內(nèi)從極低溫升高到高溫，模擬硬件設備在不同環(huán)境下的溫度變化。
溫度循環(huán)與加速老化：設備在設定的高溫和低溫之間進行快速循環(huán)，加速硬件老化的過程，同時模擬長時間的環(huán)境應力。
實時數(shù)據(jù)監(jiān)控：試驗箱通常配備溫度、濕度和其他參數(shù)的監(jiān)控系統(tǒng)，實時記錄測試過程中硬件的響應和表現(xiàn)。
試驗過程：
樣品準備：將需要測試的電腦硬件（如主板、顯卡、硬盤、內(nèi)存條等）放入實驗箱內(nèi)，確保樣品在測試前達到穩(wěn)定狀態(tài)。
設定溫度范圍和循環(huán)條件：設定實驗箱的溫度范圍（例如：-40℃到+85℃），選擇溫度變化的速度（如：幾分鐘內(nèi)從低溫升至高溫）以及測試循環(huán)的次數(shù)。
冷熱沖擊循環(huán)：實驗箱根據(jù)設定的條件，模擬設備在使用中的冷熱變化，通常包括冷啟動、熱膨脹、冷收縮等溫差變化。
數(shù)據(jù)采集與評估：通過測試期間的數(shù)據(jù)監(jiān)控，記錄硬件在惡劣環(huán)境下的表現(xiàn)，包括外觀、功能、性能等方面的變化。
主要應用領域：
電腦硬件制造商：硬件廠家通過冷熱沖擊實驗，測試其產(chǎn)品（如主板、顯卡、硬盤、內(nèi)存等）在惡劣溫度條件下的穩(wěn)定性和可靠性。
質(zhì)量控制與測試：質(zhì)量檢測機構和第三方檢測實驗室使用冷熱沖擊加速老化實驗箱進行認證檢測，確保硬件符合行業(yè)標準。
硬件研發(fā)與優(yōu)化：硬件研發(fā)團隊使用此設備對新產(chǎn)品進行環(huán)境適應性測試，提前發(fā)現(xiàn)潛在問題，優(yōu)化設計。
售后服務與改進：制造商可以通過加速老化測試來評估產(chǎn)品在長期使用中的表現(xiàn)，為用戶提供更加穩(wěn)定和耐用的硬件產(chǎn)品。
測試標準：
冷熱沖擊加速老化實驗箱的測試過程通常符合以下標準：
IEC 60068-2-14：適用于電子產(chǎn)品的冷熱沖擊測試，能夠模擬硬件在不同環(huán)境下的適應性。
MIL-STD-810：美國JUN事標準，涵蓋了設備在惡劣環(huán)境中的可靠性測試，包括溫度沖擊。
JEDEC JESD22-A104：用于半導體和電子元件的冷熱沖擊測試，尤其適用于內(nèi)存條和存儲設備。
ISO 16750-4：適用于汽車電子設備的環(huán)境測試標準，涵蓋了冷熱沖擊、溫差循環(huán)等條件。
試驗箱的主要特點：
寬溫范圍：冷熱沖擊實驗箱通常能夠提供-40℃到+85℃的溫度范圍，部分設備甚至能夠提供更廣泛的溫度范圍（例如：-70℃到+150℃）。
快速溫度變化：該設備能夠在幾分鐘內(nèi)快速實現(xiàn)溫度從低至高的劇烈變化，模擬真實工作環(huán)境中的溫差變化。
高效氣流系統(tǒng)：確保溫度分布均勻，避免測試過程中局部溫度不均勻?qū)е碌膶嶒炚`差。
高精度溫控系統(tǒng)：具備高精度的溫度控制系統(tǒng)，能夠精確設置溫度變化的時間、幅度等參數(shù)。
多次循環(huán)測試：設備支持多次溫度沖擊循環(huán)，幫助檢測硬件在反復冷熱變化中的表現(xiàn)和耐久性。
測試結果評估：
外觀檢查：測試后，檢查硬件是否出現(xiàn)裂紋、變形、脫膠、褪色等物理損傷。
功能性檢查：檢查硬件在冷熱沖擊后的性能，是否能正常啟動，是否出現(xiàn)性能下降、故障等問題。
穩(wěn)定性與可靠性測試：評估硬件在經(jīng)歷反復冷熱沖擊后是否能夠保持其功能和穩(wěn)定性，如顯示輸出、存儲訪問速度、數(shù)據(jù)讀取等是否正常。
老化與壽命預測：通過冷熱沖擊加速老化的過程，模擬長期使用中的硬件衰退，評估硬件的使用壽命。
結論：
電腦硬件冷熱沖擊加速老化實驗箱是電腦硬件測試和研發(fā)過程中重要的工具。它能夠有效地加速硬件在惡劣溫差條件下的老化過程，幫助廠商評估其產(chǎn)品的可靠性與耐久性，提前發(fā)現(xiàn)可能的問題，優(yōu)化產(chǎn)品設計，確保硬件在各種環(huán)境下的穩(wěn)定運行。這種設備對于提高硬件的質(zhì)量控制、優(yōu)化產(chǎn)品的環(huán)境適應性、延長使用壽命等方面具有重要意義。
