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公司介紹主營產(chǎn)品

北京費(fèi)恩科技有限公司位于北京經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)，是一家從事專業(yè)光電精密測量測試設(shè)備的代理商。產(chǎn)品源于美國、波蘭、意大利等，涵蓋了精密測量設(shè)備、成像系統(tǒng)測試設(shè)備及模塊、診斷工具等，可提供高精度的測厚設(shè)備、紫外到遠(yuǎn)紅外整個(gè)波段的成像測試系統(tǒng)、紅外測量系統(tǒng)和探測器、夏克-哈特曼波前傳感器等。我們的用戶覆蓋了各高校、科研院所、航空航天、各類光電企業(yè)等不同領(lǐng)域。費(fèi)恩科技擁有專業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊(duì)，不僅為用戶提供各類標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品，還可根據(jù)用戶的具體需求，提供完整的系統(tǒng)解決方案。同時(shí)，我們還擁有優(yōu)秀的售后技術(shù)支持團(tuán)隊(duì)，可及時(shí)為用戶提供售后服務(wù)，包括安裝、調(diào)試、培訓(xùn)、技術(shù)指導(dǎo)等工作。費(fèi)恩科技秉承“一、客戶至上、服務(wù)為先”的經(jīng)營理念，帶領(lǐng)專業(yè)技術(shù)團(tuán)隊(duì)，為廣大用戶提供各類光電檢測設(shè)備及解決方案，用心開拓國內(nèi)市場，為光電檢測行業(yè)帶來的技術(shù)和服務(wù)。

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產(chǎn)品簡介在線詢價(jià)

JIMS測試系統(tǒng)作為JT測試系統(tǒng)的特殊版本，適用于測試光學(xué)口徑超過1000mm的光電系統(tǒng)

JIMS大型多傳感器軸對(duì)準(zhǔn)測試系統(tǒng) 產(chǎn)品詳情

JIMS測試系統(tǒng)作為JT測試系統(tǒng)的特殊版本，適用于測試光學(xué)口徑超過1000mm的光電系統(tǒng)。是一套對(duì)于水平方向布局的光電系統(tǒng)測試?yán)硐氲慕鉀Q方案。由于CEB模塊產(chǎn)生的內(nèi)部對(duì)準(zhǔn)誤差較小， JIMS測試系統(tǒng)的測試精度（0.2mrad）會(huì)比JT測試系統(tǒng)（低于0.1mrad）略差。JIMS可以看作JT400系統(tǒng)帶有CEB平行光管折鏡的附加模塊，可以在某方向（通常是水平方向）將平行光管孔徑增加到1000毫米。對(duì)于成像/激光傳感器位于大型水平平臺(tái)上的超大型地球觀測監(jiān)視系統(tǒng)，JIMS是一個(gè)理想且經(jīng)濟(jì)的軸對(duì)準(zhǔn)測試解決方案。

產(chǎn)品參數(shù)

表1 基于距離的JIMS系統(tǒng)型號(hào)

產(chǎn)品型號(hào)	被測光電系統(tǒng)兩傳感器中心距離
JIMS600	600mm
JIMS700	700mm
JIMS800	800mm
JIMS900	900mm
JIMS1000	1000mm

表2 JIMS測試系統(tǒng)版本

編碼	計(jì)算機(jī)化控制/軸對(duì)準(zhǔn)/測試功能	模塊
X1	非計(jì)算機(jī)化測試系統(tǒng) 典型的成像系統(tǒng)的軸對(duì)準(zhǔn)（熱像儀，電視相機(jī)，光學(xué)瞄準(zhǔn)系統(tǒng)等）測試范圍：可見光-近紅外相機(jī)以及熱像儀的分辨率測試	CJT400平行光管，VIR-A光源，CVIR-A控制器，USAF1951靶標(biāo)，IR-USAF1951靶標(biāo)，多圖形靶標(biāo)，CEB擴(kuò)展器
X2	非計(jì)算機(jī)化測試系統(tǒng) 典型的成像系統(tǒng)的軸對(duì)準(zhǔn)（熱像儀，電視相機(jī)，光學(xué)瞄準(zhǔn)系統(tǒng)等）以及單脈沖激光測距機(jī) 測試范圍：可見光-近紅外相機(jī)以及熱像儀的分辨率測試	CJT400平行光管，VIR-A光源，CVIR-A控制器，USAF1951靶標(biāo)，IR-USAF1951靶標(biāo)，多圖形靶標(biāo)，一組MON卡，一組TEG卡，一組TEP卡，一組OA衰減器，AH1適配器，CEB擴(kuò)展器
X3	X2+多脈沖激光測距機(jī)與激光指示器可以被校準(zhǔn)，增加了ABS卡，LIC卡以及兩個(gè)ILU卡。	CJT400平行光管，VIR-A光源，CVIR-A控制器，USAF1951靶標(biāo)，IR-USAF1951靶標(biāo)，多圖形靶標(biāo)，一組MON卡，一組TEG卡，一組TEP卡，一組OA衰減器，AH1適配器，ABS卡，LIC卡以及兩套ILU卡，CEB擴(kuò)展器
Y1	計(jì)算機(jī)化測試系統(tǒng) 典型的成像系統(tǒng)的軸對(duì)準(zhǔn)（熱像儀，電視相機(jī)，光學(xué)瞄準(zhǔn)系統(tǒng)等）與單脈沖激光測距機(jī) 測試范圍：可見光-近紅外相機(jī)以及熱像儀的分辨率測試粗略測試激光測距機(jī)的發(fā)散角	CJT400平行光管，VIR-A光源，CVIR-A控制器，USAF1951靶標(biāo)，IR-USAF1951靶標(biāo)，多圖形靶標(biāo)，一組MON卡，一組TEG卡，一組TEP卡，一組OA衰減器，AH1適配器，圖像采集卡，計(jì)算機(jī)，BOR軟件，CEB擴(kuò)展器
Y2	Y1+多脈沖激光測距機(jī)與激光指示器軸對(duì)準(zhǔn)	CJT400平行光管，VIR-A光源，CVIR-A控制器，USAF1951靶標(biāo)，IR-USAF1951靶標(biāo)，多圖形靶標(biāo)，一組MON卡，一組TEG卡，一組TEP卡，一組OA衰減器，AH1適配器，圖像采集卡，計(jì)算機(jī)，BOR軟件，ABS卡，LIC卡以及兩套ILU卡，CEB擴(kuò)展器
Y3	Y2+ JT系統(tǒng)的光軸可以垂直于被測系統(tǒng)所在的平臺(tái)參考機(jī)械平面	Y2+更新了自動(dòng)準(zhǔn)直CJT平行光管、及BRL相機(jī)
Y4	Y2+精確測量被測激光測距機(jī)的發(fā)散角	CJT平行光管，VIR-A光源，CVIR-A控制器，USAF1951靶標(biāo)，IR-USAF1951靶標(biāo)，多圖形靶標(biāo)，一組MON卡，一組TEG卡，一組TEP卡，一組OA衰減器，AH1適配器，圖像采集卡，計(jì)算機(jī)，BOR軟件，ABS卡，LIC卡以及兩套ILU卡，BRL相機(jī)，SR10相機(jī)，CEB擴(kuò)展器

關(guān)鍵詞：傳感器功能模塊熱像儀指示器圖像采集卡

熱門產(chǎn)品

產(chǎn)品名稱	參考價(jià)	地區(qū)	公司名稱	更新時(shí)間
凍干導(dǎo)熱塊溫度測量探頭合金配件溫度驗(yàn)證	￥200	濟(jì)南市	濟(jì)南凱朗自動(dòng)化設(shè)備有限公司	2023-01-05	在線詢價(jià)

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