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DR-HAST-350Z 元器件內部老化HAST高壓加速試驗箱

參考價
35700-681600/臺
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 型號DR-HAST-350Z
  • 品牌德瑞檢測
  • 所在地東莞市
  • 更新時間2024-11-26
  • 廠商性質生產廠家
  • 入駐年限4
  • 實名認證已認證
  • 產品數量3000
  • 人氣值166274
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德瑞檢測源自中國臺灣,成立于2005年,總部設于中國臺灣省高雄市,專注于可靠性檢測設備行業(yè);2021年因集團戰(zhàn)略布局誕生廣東德瑞檢測設備有限公司。

德瑞檢測設備是一家集研發(fā)、設計、生產、銷售于一體的模擬環(huán)境測試設備的高科技生產企業(yè),大陸新總部及研發(fā)基地設立于制造之城廣東省東莞市。

公司自成立以來,始終堅持以質量求生存、以誠信求發(fā)展、以管理求效益的經營理念,不斷引進國內外技術、積累豐富的經驗,所有產品的主要部件均采用歐、美、日及中國臺灣等國家和地區(qū)的進口元器件,確保產品的品質與性能,優(yōu)化產品設計,走綠色、低碳、環(huán)保的可持續(xù)發(fā)展道路,為實現(xiàn)企業(yè)自身的轉型與升級而努力前進。

公司產品系列包括:恒溫恒濕系列、步入式恒溫恒濕房系列、冷熱沖擊系列、快速溫變系列、高低溫交變系列、老化房系列、高空低氣壓系列、氙燈耐氣候系列、UV紫外線老化系列、砂塵試驗系列、IP淋雨系列、鹽霧試驗系列、三綜合試驗箱系列機、電池檢測系列等等;軟件開發(fā)、計量檢測及維修咨詢整包服務。產品廣泛用于:科研單位、質檢機構、大專院校、電子電器、新能源電池、汽車船舶、LED照明、電線電纜、航空航天、五金配件、橡膠塑料、金屬、包裝、建材等行業(yè)和領域;成為材料開發(fā)、特性試驗、教學研究、品質管制、進料檢驗的得力助手。

生產的檢測設備符合:GBGJB、ISO、IEC、ASTM、EN、JISTAPPI、ISTA、DIN、BS、CE、UL、BS、GMP、FDA等標準。




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產地國產 額定電壓380V 加工定制
濕度范圍65~100% R.H 適用領域橡膠 外形尺寸650*1200*940mm
溫度波動度1℃ 溫度范圍110~147℃ 溫度均勻度1%
重量358kg
元器件內部老化HAST高壓加速試驗箱元器件內部老化是測試的一個重要方向。HAST試驗主要通過模擬高溫、高濕和高壓環(huán)境來加速元器件在實際使用中可能遭遇的老化過程。通過這些加速條件,可以有效預測元器件在長期使用中的失效模式,尤其是對封裝、焊接和內部材料的影響。
元器件內部老化HAST高壓加速試驗箱 產品詳情


元器件內部老化HAST高壓加速試驗箱

元器件內部老化HAST高壓加速試驗箱

在HAST(高壓加速試驗)中,元器件內部老化是測試的一個重要方向。HAST試驗主要通過模擬高溫、高濕和高壓環(huán)境來加速元器件在實際使用中可能遭遇的老化過程。通過這些加速條件,可以有效預測元器件在長期使用中的失效模式,尤其是對封裝、焊接和內部材料的影響。

HAST試驗對元器件內部老化的影響

在電子元器件的封裝過程中,許多因素可能導致元器件內部的老化。HAST高壓加速試驗箱通過模擬這些環(huán)境,能幫助發(fā)現(xiàn)以下幾個方面的潛在問題:

  1. 焊接點老化:焊接點是元器件封裝中的關鍵部分,焊接質量直接影響其可靠性。HAST測試中的高溫、高濕和高壓環(huán)境能夠加速焊點的老化,導致焊接點的疲勞、裂紋或斷裂。此類問題可能會導致短路或開路,影響元器件的電氣性能。

  2. 封裝材料老化:封裝材料(如塑料、環(huán)氧樹脂、硅膠等)在長時間使用過程中會發(fā)生熱膨脹和收縮,尤其是在高溫環(huán)境下會加速熱應力的積累,進而影響封裝的密封性和保護作用。HAST試驗通過加速這些過程,可以觀察封裝材料是否發(fā)生脆化、裂縫、變形或剝離等現(xiàn)象。

  3. 金屬芯片的氧化與腐蝕:高濕、高溫和高壓條件下,元器件內部的金屬芯片可能會出現(xiàn)氧化或腐蝕現(xiàn)象。這種氧化會改變金屬的導電性能,甚至導致元器件失效。HAST試驗能夠加速這種氧化過程,揭示封裝和芯片材料的抗腐蝕性能。

  4. 內部界面的老化:集成電路和封裝材料之間的界面在長期使用過程中可能會發(fā)生老化,尤其是在溫度波動較大的情況下。由于封裝材料與芯片之間的熱膨脹系數不同,可能會導致界面分離、微裂紋或界面電阻增大。HAST試驗通過高溫高濕環(huán)境可以加速這一過程,提前評估界面材料的耐久性。

  5. 內應力積累和封裝失效:高溫和高壓環(huán)境下,封裝外殼和內部元件的熱膨脹不匹配可能導致應力積累,從而影響封裝的結構完整性。這種內應力可能導致封裝殼體裂開或破損,進而影響元器件的工作性能。

HAST高壓加速試驗箱的作用

元器件內部老化HAST高壓加速試驗箱的作用是模擬在環(huán)境下的元器件老化過程,加速測試并預測元器件的長期使用可靠性。HAST試驗的關鍵作用包括:

  • 加速老化過程:通過高溫、高濕和高壓條件加速元器件的老化,短時間內暴露出可能的失效模式。通常測試周期為200小時到1000小時,能夠預測元器件在幾年甚至十幾年的使用過程中可能出現(xiàn)的故障。

  • 模擬真實環(huán)境:HAST試驗不僅僅是加速老化,還能模擬元器件在實際應用中可能遇到的環(huán)境變化。例如,在航空、汽車、消費電子等行業(yè)中,元器件可能會經歷不同的溫濕度和壓力變化,而HAST能幫助評估在這些條件下元器件的表現(xiàn)。

  • 篩選高風險元器件:通過HAST試驗,可以快速篩選出那些在高濕高溫條件下容易老化或失效的元器件,為生產線提供可靠的質量保障。

HAST測試中的關鍵參數與控制

為了準確模擬元器件的內部老化過程,HAST試驗中的幾個重要參數需要精確控制:

  1. 溫度:溫度通常設定在85°C至150°C之間,高溫能夠加速材料的熱老化過程。較高的溫度會使得封裝材料和焊接點更容易發(fā)生熱應力,從而加速老化。

  2. 濕度:濕度一般設定為95%-100%,模擬潮濕環(huán)境。在高濕環(huán)境下,封裝的密封性可能受到挑戰(zhàn),水分的滲透可能導致金屬芯片的氧化腐蝕,甚至引發(fā)短路。

  3. 壓力:在HAST測試中,壓力通常設置在2-5大氣壓之間。高壓能夠加速氣體滲透、密封失效和焊接點的損傷。同時,高壓條件還可模擬電子元器件在高海拔或高氣壓環(huán)境中的表現(xiàn)。

  4. 時間:HAST試驗通常進行200小時至1000小時,這個測試周期相當于元器件在自然環(huán)境中工作數年。通過加速的環(huán)境條件,可以縮短測試時間,快速評估元器件的長期可靠性。

  5. 電氣性能監(jiān)測:在HAST試驗期間,還需對元器件的電氣性能進行實時監(jiān)測。測試過程中,元器件可能會出現(xiàn)電阻增大、漏電或開路等問題,這些變化能夠反映出元器件內部的老化狀況。

總結

元器件內部老化HAST高壓加速試驗箱通過模擬高溫、高濕和高壓環(huán)境,可以有效加速元器件的內部老化過程,揭示元器件在條件下可能發(fā)生的失效模式。通過這種加速試驗,制造商可以在產品投放市場之前預測元器件的可靠性,提前發(fā)現(xiàn)潛在問題,優(yōu)化封裝設計,確保產品在長期使用中的穩(wěn)定性和可靠性。因此,HAST試驗是現(xiàn)代電子元器件質量評估和可靠性測試中重要的重要工具。


關鍵詞:電子元器件
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