D8 ADVANCE—面向未來的X射線衍射解決方案:
基于無二的D8衍射儀系列平臺的D8 ADVANCE，是所有X射線粉末衍射和散射應用的理想之選，如：
典型的X射線粉末衍射（XRD）
對分布函數（PDF）分析
小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）
由于具有出色的適應能力，僅使用D8 ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。
無論是新手用戶還是專家用戶，都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克的DAVINCI設計實現的：配置儀器時，免工具、免準直，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。
不僅如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證。目前，在峰位、強度和分辨率方面，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8 ADVANCE。
D8 ADVANCE應用
粉末衍射
X射線粉末衍射（XRPD）技術是最重要的材料表征工具之一。粉末衍射圖中的許多信息，直接源于物相的原子排列。在D8 ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件的支持下，您將能簡單地實施常見的XRPD方法：
鑒別晶相和非晶相，并測定樣品純度
對多相混合物的晶相和非晶相進行定量分析
微觀結構分析（微晶尺寸、微應變、無序…）
熱處理或加工制造組件產生的大量殘余應力
織構（擇優(yōu)取向）分析
指標化、從頭晶體結構測定和晶體結構精修
對分布函數分析
對分布函數（PDF）分析是一種分析技術，它基于Bragg以及漫散射（“總散射”），提供無序材料的結構信息。其中，您可以通過Bragg衍射峰，了解材料的平均晶體結構的信息（即長程有序），通過漫散射，表征其局部結構（即短程有序）。
就分析速度、數據質量以及對非晶、弱晶型、納米晶或納米結構材料的分析結果而言，D8 ADVANCE和TOPAS軟件代表了市面上性能的PDF分析解決方案：
相鑒定
結構測定和精修
納米粒度和形狀
薄膜和涂層
薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同，不過進一步提供了光束調節(jié)和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鑒定、晶體質量、殘余應力、織構分析、厚度測定以及組分與應變分析。在對薄膜和涂層進行分析時，著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析（從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜）。D8 ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進行以下高質量的薄膜分析：
掠入射衍射
X射線反射法
高分辨率X射線衍射
倒易空間掃描
亮點
D8 ADVANCE系列特點:安全外殼
D8 ADVANCE外殼旨在在更小的占地面積中，帶來的人體工程學優(yōu)勢和安全性優(yōu)勢。其LED X射線燈和交互式屏幕按鍵，可準確顯示當前的儀器狀態(tài)，便于您查看。內部采用可調光的LED照明。電纜管理置于外殼內部，采用可拆卸的迷宮結構，便于布線。設備底座采用標準的19英寸機架，可安裝溫控樣品臺等輔助控制器。
的安全性和質量：D8 ADVANCE符合所有現行的歐盟指令，因此該系列在X射線安全性、機器安全性、電氣安全性和電磁兼容性方面，創(chuàng)下了X射線分析設備的高標準，并為此提供保證。
D8 ADVANCE系列特點:D8測角儀
通過儀器性能驗證與的NIST剛玉標樣SRM 1976提供準直保證
測角儀采用堅固且免維護的設計，為整個生命周期內的性能提供了保證
適用于受管制行業(yè)（如制藥業(yè)）的IQ / OQ程序
D8 ADVANCE系列特點:DAVINCI設計
DAVINCI.DESIGN是布魯克推出的采用開創(chuàng)性設計的衍射儀，可實現真正意義上的“即插即用”，面對不斷變化的需求、多用戶環(huán)境以及研究，它將是您的理想之選。借助DAVINCI設計，您將能輕松切換包括X射線管、光學器件、樣品臺和探測器在內的光路組件，而無需對準。而通過自動識別所有組件，您還可以實現配置實時調整與驗證。DIFFRAC.DAVINCI軟件插件是一無二的虛擬測角儀軟件解決方案，它可顯示真實測角儀的所有光路組件及其狀態(tài)，并對存在的任何配置沖突進行報告。
有了DAVINCI設計加持，D8 ADVANCE成為了真正意義上的通用系統，不論是當前還是未來的任何X射線衍射和散射應用，它都具有的適應能力。
帶有DAVINCI設計的D8 ADVANCE：操作輕松、直觀、暢通無阻且支持失效保護，適合任何用戶（包括新手和專家）使用。
D8 ADVANCE 規(guī)格
