Innova-IRIS 原子力-拉曼顯微鏡聯(lián)用系統(tǒng)、完整的TERS系統(tǒng)

Innova-IRIS

Innova-IRIS 結合了業(yè)界性能的AFM和布魯克的針尖增強拉曼光譜（TERS）探頭，能提供一整套完備、有保障的TERS解決方案。它與 Renishaw inVia 顯微拉曼系統(tǒng)融合，組成一個高效且集成的測量平臺，同時保留了每個獨立組件的功能， 可用于微、納米尺度各類性質成像，可將 AFM 的應用擴展到納米光譜及納米化學分析領域。

聯(lián)合、原子力顯微鏡和拉曼顯微鏡

提供高性能的TERS和完整的SPM功能。

專屬、TERS 探頭

零光譜干擾，實現(xiàn)高空間分辨率成像和高性能TERS功能。

優(yōu)化、硬件和軟件

降低傳統(tǒng)TERS操作的復雜性。

特征：專為TERS設計

文獻研究表明光路離軸反射結構是充分考慮探針陰影和極化效應條件下，實現(xiàn)光捕獲的解決方案。Innova-IRIS 采用新型光學架構，激發(fā)光從探頭的正面進入探針-樣品交匯點，提供了理想的無障礙物光學路徑。

布魯克創(chuàng)新的樣品掃描 AFM 結合Renishaw InVia 顯微拉曼系統(tǒng)，通過聯(lián)合研發(fā)設計，在掃描過程中集成了的光學"熱點"跟蹤方式，在拉曼較長信號積分時間內，可以保持探針的完整性和精確定位，能滿足TERS成像的嚴苛要求。

關聯(lián)的互補數(shù)據：

Innova-IRIS 與 Renishaw InVia 的集成保留了 AFM 和拉曼顯微鏡的全部功能。單獨使用時，可以采用相對各自獨立的實時控制和數(shù)據分析軟件。通過系統(tǒng)集成，可實現(xiàn)互補的納米級形貌、熱、電學和力學信息測量的整合。

使用 Innova-IRIS 和 inVia 拉曼系統(tǒng)獲取的石墨烯AFM 形貌（左）和拉曼化學成像（右圖）。

配件：

布魯克 AFM 探針

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