HCP 晶圆探针台用于晶片芯片多种器件电测量-仪表网

武汉光谷薄膜技术有限公司成立于2018年，总部位于武汉东湖综合保税区，是以薄膜物性测量仪器作为战略定位，技术自主创新的科技企业。公司专注于液氮低温恒温器、冷热台、探针台等薄膜材料低温测试仪器的研发以及提供测试技术服务。

武汉光谷薄膜技术有限公司始终坚持自主研发与应用创新，拥有自己的技术工程师研发团队，建有省级工程实验室、新型研发机构以及市级企业技术中心平台，拥有知识产权10余项。核心产品广泛应用于大专院校、科研院所、第三方检测机构和工业企业等细分领域，并服务于国内近100家客户。未来，公司依托省级科研共享平台的大数据分析，为用户的薄膜技术研究及战略方向提供理论依据与数据支撑。

武汉光谷薄膜技术有限公司秉承技术创新、应用为上的行动准则，遵循“专注、创新、成长、勤勉”的核心价值理念，认真做好每一款产品，为客户提供合适的产品与优质的服务！

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产地	国产	加工定制	是	适用领域	科研

晶圆探针台用于晶片芯片多种器件电测量。可以实现基础测试、保护气氛电路测试、光电流分析、FA失效分析等测量和分析平台。

晶圆探针台用于晶片芯片多种器件电测量产品详情

在常温下用于晶片、晶圆、芯片等多种器件的精密电测量。可以实现基础测试、保护气氛电路测试、光电流分析、FA失效分析等测量和分析平台。

晶圆探针台HCP-1W技术参数：

样品台尺寸：150mm*150mm（6in.）；

探针数量：≤4；

移动精度：0.01mm；

探针XYZ行程：100mm*100mm*10mm；

样品台旋转角度：360°，精度±1；

样品台侧倾角度：±8°，精度±1；

显微镜放大倍数：15x~100x；

晶圆探针台HCP-1W产品特点：

产品功能：晶圆探针台在常温环境下用于晶片、晶圆、芯片等多种器件的精密电测量；

使用范围：帮助精准测量和分析判断晶圆器件的性能。

应用领域：提供材料/器件的IV/CV特性测试，LD/LED/PD的光强/波长测试，射频特性器件失效分析，芯片内部线路/电极/PAD测试等技术解决方案；

定制服务：定制样品台和测量方式；

自动控温：PID自整定连续多点控温。

晶圆探针台应用：

提供材料/器件的IV/CV特性测试；

LD/LED/PD的光强/波长测试；

射频特性器件失效分析；

芯片内部线路/电极/PAD测试：

关键词：显微镜

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