可替Max TC 集成電路IC芯片溫度沖擊測試機
ThermoTST ATC840是一臺精密的接觸式高低溫沖擊機,具有更廣泛的溫度范圍-45℃到+200℃,提供了很強的溫度轉(zhuǎn)換測試能力。
可替Max TC 集成電路IC芯片溫度沖擊測試機
ThermoTST ATC840通過測試頭與DUT之間直接接觸,將DUT的溫度(殼溫或者結(jié)溫)調(diào)整到目標溫度點進行相應(yīng)的性能測試。同時適用于已焊接的芯片和使用socket的芯片,可以真正做到只控制待測芯片溫度而不影響外圍電路,排除外圍電路引起的不確定性。
特點
有效溫度范圍,-45℃至+200℃
溫度穩(wěn)定性±0.5℃
觸摸屏操作,人機交互界面
支持DUT溫度控制
桌面設(shè)計,低噪音、低震動、低環(huán)境散熱
溫度波動小
低溫環(huán)境測試無冷凝
應(yīng)用
適用于IC特性、測試和失效分析:
ATE, SLT和工作臺
高低溫測試箱/低溫冷卻機代換
OEM集成
特點
有效溫度范圍,-45℃至+200℃
溫度穩(wěn)定性±0.5℃
觸摸屏操作,人機交互界面
支持DUT溫度控制
桌面設(shè)計,低噪音、低震動、低環(huán)境散熱
溫度波動小
低溫環(huán)境測試無冷凝
應(yīng)用
適用于IC特性、測試和失效分析:
ATE, SLT和工作臺
高低溫測試箱/低溫冷卻機代換
OEM集成