替Max TC 接觸式芯片高低溫沖擊測試設(shè)備
接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對芯片可靠性測試的專用設(shè)備，通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現(xiàn)能量傳遞，與傳統(tǒng)氣流式高低溫設(shè)備（熱流儀、溫箱等）相比具有升降溫效率高，操作簡單方便，體積小巧，噪音低等特點。
替Max TC 接觸式芯片高低溫沖擊測試設(shè)備
· 可在室溫下直接操作，省去拉扯各種測試線纜的煩惱
· 可以單獨給某一顆芯片升降溫，其他器件依然工作在室溫中，方便問題的排除。
· 升降溫速率快，節(jié)省工程師寶貴的時間，提高測試效率。
· 對于使用Socket的芯片和已經(jīng)焊接到PCB的芯片都適用。
· 具有防冷凝和防結(jié)霜功能。
· 免維護，插電即可使用，不用冷水機、液氮等外圍輔助設(shè)備及耗材，長期使用成本低。
· 噪音低，給工程師創(chuàng)造一個安靜地工作環(huán)境。溫度范圍，-70℃至+200℃
溫度穩(wěn)定性±0.5℃ThermoTST ATC860通過測試頭與DUT之間直接接觸，將DUT的溫度(殼溫或者結(jié)溫)調(diào)整到目標溫度點進行相應(yīng)的性能測試。同時適用于已焊接的芯片和使用socket的芯片，可以真正做到只控制待測芯片溫度而不影響外圍電路，排除外圍電路引起的不確定性。
溫度范圍，-70℃至+200℃
溫度穩(wěn)定性±0.5℃ThermoTST ATC860通過測試頭與DUT之間直接接觸，將DUT的溫度(殼溫或者結(jié)溫)調(diào)整到目標溫度點進行相應(yīng)的性能測試。同時適用于已焊接的芯片和使用socket的芯片，可以真正做到只控制待測芯片溫度而不影響外圍電路，排除外圍電路引起的不確定性。
