礦相顯微鏡電腦型 XPL-600V詳細技術參數
一、儀器的用途
礦相顯微鏡數碼型及熔點測定系統是地質、礦產、冶金、石油化工、化纖、半導體工業(yè)以及藥品檢驗等部門和相關高等院校高分子等專業(yè)的專業(yè)實驗儀器。透反射偏光顯微鏡可供廣大用戶作單偏光觀察,正交偏光觀察,錐光觀察及顯微攝影,觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉化。透反射偏光顯微鏡采用微電腦檢測,有自動P、I、D調節(jié)及模糊手動調節(jié)功能,通過LED顯示溫度值及設定溫度值,儀表顯示準確、清晰、穩(wěn)定,對溫度控制可設定程序,設有“上、下”限自動報警裝置,并可隨時檢查設定的溫度數據,是新一代熔點測溫、控溫裝置。顯微鏡配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件。本儀器具有可擴展性,可以接計算機和數碼相機,對圖片進行編輯、保存和打印。是一組具有較完備功能的新型產品。
二、系統簡介
高精度礦相顯微鏡系統是將精密的光學顯微鏡技術、的光電轉換技術、的計算機圖像處理技術地結合在一起而開發(fā)研制成功的一項高科技產品??梢燥@示屏上很方便地觀察實時動態(tài)圖像,并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。
三、技術參數
1.目鏡
類別 | 放大倍數 | 視場(mm) |
大視野目鏡 | 10X | φ18 |
分劃目鏡 | 10X | φ18 |
十字目鏡 | 10X | φ18 |
2.物鏡
類別 | 放大倍數 | 數值孔徑(NA) | 工作距離(mm) | 玻片厚度(mm) |
長工作距離 平場消色差物鏡 | 4X | 0.1 | 7.80 | - |
10X | 0.25 | 4.70 | - |
25X | 0.4 | 1.75 | 0.17 |
40X | 0.65 | 0.72 | 0.17 |
63X | 0.85 | 0.18 | 0.17 |
3.放大倍數:40X-630X 系統放大倍數:40X-2600X
4.聚光鏡數值孔徑:NA1.2/0.22 搖出式消色差聚光鏡,中心可調。
5.起偏鏡:振動方向360°可調,帶鎖緊裝置,可移動光路
6.檢偏鏡:可移出光路,旋轉范圍90°內置勃氏鏡,中心、焦距可調
7.補償器:λ片(φ18mm,一級紅,光程差551nm) λ/4片(φ18mm, 光程差147.3nm)
石英楔子(12x28mm,Ⅰ-Ⅳ級)
8.調焦系統:帶限位和調節(jié)松緊裝置的同軸粗微調,格值為0.002mm
9.電光源:6V/20W鹵素燈(亮度可調)
四、系統組成
電腦型(XP-600V):1、偏光顯微鏡 2、適配鏡 3、攝像器(CCD) 4、A/D(圖像采集)
數碼型(XP-600D):1、偏光顯微鏡 2、適配鏡 3、數碼相機
五、總放大參考倍數
XPL-600V型:40--3600倍 XPL-600D型:40--2000倍
六、選購件
1.偏光顯微鏡分析軟件 2. 圖像測量軟件