數(shù)字式立式光學(xué)計(jì)JDG-S2
一、用途
這是我廠(chǎng)新研制的大量程、高精度的計(jì)量?jī)x器。 本儀器是一種采用量塊或標(biāo)準(zhǔn)零件與試件相比較的方式測(cè)量物體外形尺寸的儀器。主要用于五等精度量塊,一級(jí)精度柱型規(guī)及各種圓柱形,球形,線(xiàn)形等物體的直徑或板形物體的厚度的精密測(cè)量,對(duì)被測(cè)件作微小位移測(cè)量。亦可用來(lái)控制精密零件的加工。
規(guī) 格
1、被測(cè)件長(zhǎng)度: 180 mm
2、直接測(cè)量范圍 :10 mm
3、最小顯示值 :0.0001 mm
4、測(cè)量力: (2±0.2) N
5、不準(zhǔn)確度 比較測(cè)量時(shí):±0.00025 mm
直接測(cè)量時(shí): ±0.0005 mm6、測(cè)量誤差: ±(0.5+L/100) µm L是被測(cè)長(zhǎng)度,以mm
7、儀器體積:250X150X440mm
8、儀器重量: 18kg
9、標(biāo)準(zhǔn)配件 可調(diào)帶筋園臺(tái)、可調(diào)園平臺(tái)
10、平面測(cè)帽、平面測(cè)帽、小球面測(cè)帽、刃形測(cè)帽