產(chǎn)品概述
射頻導納物位計是基于射頻導納原理的連續(xù)物位測量產(chǎn)品。該產(chǎn)品具有穩(wěn)定性高、靈敏度高、應用場合廣泛等優(yōu)點。相比傳統(tǒng)的電容式物位計，采用模塊化設計，能夠簡潔方便地實現(xiàn)儀表設定，一旦設定完成，即可正常使用并且終身免維護。使用戶能夠直觀地了解設備運行情況，并及時處理出現(xiàn)的問題，在復雜的工業(yè)場合也一樣安全可靠。
測量原理
傳統(tǒng)的電容式物位計，隨著物位上漲、物料覆蓋探頭，電路中探頭和介質之間的電容值（導電物料場合）或者探頭和管壁之間的電容值（絕緣物料場合）隨之增加。由于物位的變化導致了電容橋的失衡，所以電容值的變化取決于被測物料的介電常數(shù)。然后通過對信號的檢波、放大，最后輸出相應的信號。然而，電容式物位儀表有一些缺點，特別是當探頭有掛料的時候會嚴重影響測量結果。
射頻導納測量技術是具有優(yōu)勢的物位測量技術。雖然跟一般的電容式測量技術的概念很相似，但是射頻導納技術在電子單元中加入了Driving-Shield電路和斬波電路，因此能夠實現(xiàn)阻抗和容抗的單獨測量。通過物理定律計算可得，任何掛料的阻抗和容抗的大小是相等的，所以由掛料產(chǎn)生的影響能夠被測量出來并且通過振蕩電路的移相，從總的輸出中消除。
射頻導納物位計的探頭安裝在儲料罐中，通過探頭獲得物位變化引起的射頻信號的變化。探頭的Driving-Shield端能夠阻止射頻電流通過掛料形成回路，保證了儀表測量的準確性。
通過移相消除掛料所引起的電流誤差 帶Driving-Shield探頭的射頻導納探頭
射頻導納技術測量結果精度高，并且不受探頭掛料的影響，是目前使用場合泛的一種測量技術。從低溫-100℃到高溫800℃、從真空到6.3MPa強壓場合、從超短量程到120米超大量程，都能夠正常應用，并且能夠應用于不同類型的物料。
設計特點
抗掛料：的Driving-Shield電路設計提高了抗掛料能力
供電范圍：電源工作區(qū)間：13～35VDC
適應性：探頭過程溫度：-100℃～800℃
無死區(qū)測量，可以應用到十幾公分甚至幾公分的物位測量場合大量程
測量量程可達上百米，甚至幾百米
粘稠性物料界面測量是該儀表的巨大優(yōu)勢
穩(wěn)定性：穩(wěn)定可靠的輸出，耐飛灰、落料、水汽、結晶、結蠟影響
免維護：無活動、無易磨損部件，無需經(jīng)常清潔、保養(yǎng)、調試
