測量元件,操作控制,控制設備和評估電子設備也都節(jié)省了空間,并放置在手持式設備中。儀器操作僅需電源。該設備的操作通過發(fā)光的觸摸屏顯示器實現(xiàn)。
TIR100-2紅外熱發(fā)射率測定儀,TIR100-2熱輻射率儀功能:
用100°C半球形黑體輻射器漫射物體表面。在屬于儀器的校準標準的校準值的幫助下,測量反射的紅外輻射并將其轉換為發(fā)射率的jue dui 值。結果立即顯示在設備的觸摸屏上。詳細的說明手冊介紹了測量過程的物理基礎以及進行精確測量的方法。
TIR100-2紅外熱發(fā)射率測定儀,TIR100-2熱輻射率儀應用領域
TIR100-2可用于涂覆過程后的質量控制,或用于實驗室的研究和開發(fā)。
玻璃的測量結果相當?shù)扔?br style="box-sizing: border-box;"/>
符合EN 12898的結果。
涂層箔作為建筑箔的發(fā)射率是
在prEN 15976之后測量。
TIR100-2熱輻射率儀的一些典型的應用:
鍍膜玻璃的鑒定:1.鍍膜玻璃的質量控制熱保護絕緣玻璃的的低U-值取決于玻璃鍍膜的低發(fā)射率,TIR 100對鍍膜的質量控制以及實驗室中開發(fā)新鍍膜非常有用。
涂有涂層的太陽能集熱板的鑒定:太陽能收集器生產的質量控制
優(yōu)質的太陽能收集器的效率取決于收集器表面非產低的發(fā)射率,因此TIR 100也是此行業(yè)質量控制的理想設備
涂層箔的鑒定
衛(wèi)星熱鍍層鑒定
TIR100-2熱輻射率儀技術數(shù)據(jù)
測量范圍溫度。發(fā)射率<0,020…0,980
重復精度(精度)+-0.005(lowE).. +-0,01(hiE)
光譜范圍2,5μm-40μm
zui 大輻射能8μm
黑體溫度100°C
測量時間5秒
測量點約 5毫米
zui 大額定功率 130 V在...上230 V?/ 115 V?
RS232接口(可選的打印機輸出)
尺寸230毫米x 140毫米x 120毫米
重量2.0公斤
參考(校準標準)帶肋的鋁塊,具有熱穩(wěn)定性
低輻射率:高精度研磨鋁
高發(fā)射率:黑光陷阱
低發(fā)射面的參考發(fā)射率典型值?0,012
模具高發(fā)射面的典型值> 0.96
出廠時,所有參考文獻均已單獨調整至國家物理實驗室(GB)的校準標準。
電壓范圍 | 90伏交流電– 260伏交流電 |
---|---|
額定功率 | zui 大240 VAC zui 大130 W 120 VAC 260瓦 |
測量范圍 | 作為校準標準 |
測量不確定度 | +-0,005(lowE)…+ -0,01(hiE) |
光譜范圍 | 2,5 – 40µm |
λzui 大輻射能量的 | 7.8微米 |
散熱器溫度 | 100°攝氏度 |
測量持續(xù)時間 | 大約 5秒 |
測量點 | 大約 5毫米 |
界面 | USB-B |
尺寸 | 230毫米x 140毫米x 120毫米 |
重量 | TIR100-2:大約 2,0公斤 |
TIR100-2熱輻射率儀的測量原理
樣品在100°C的溫度下經受熱輻射。黑體半球形輻射器用于封裝樣品,以確保均勻照明。以一定角度觀察反射的紅外輻射,并將其轉換為數(shù)值。然后根據(jù)高和低發(fā)射率參考標準的校準表繪制該值。使用TIR時,只需按一下按鈕即可完成所有這些操作。
TIR100-2熱輻射率儀測量方法:
TIR100-2熱輻射率儀標配包括:
TIR100-2型號,您可以選擇電源電壓(115V或230V)。
二合一校準標準:拋光鋁的低發(fā)射率值側和黑體阱的高發(fā)射率側。
校準標準的校準證書,可追溯至柏林(GER)的Physikalisch-Technische Bundesanstalt(PTB)的參考標準,參考。編號73213 PTB 16和73214 PTB16。有效期為兩年。
可上鎖的便攜式硬質鋁制外殼,可輕松存儲和運輸TIR100-2和標準件。
英文印刷版手冊。
TIR100-2熱輻射率儀可選配:鋁箔支架
箔片固定器是一種實用的設備,可將薄涂層的箔片樣品(和其他紡織品)平整且均勻地夾持在固定器板的整個表面上,如圖所示。
兩側各使用兩個磁夾將樣品鎖定在適當?shù)奈恢谩?br style="box-sizing: border-box;"/>
使用箔架的另一個好處是可以幫助樣品在測量過程中保持室溫更長的時間。當使用薄材料(如薄涂層的箔)時,這將有助于減少波動,從而提高發(fā)射率結果的準確性。