分析方法能量色散X熒光分析方法 測量元素范圍鎂（Mg）到鈾（U）之間的元素均可測量 同時檢測元素數(shù)幾十種元素可同時分析 處理器和內(nèi)存CPU：667MHz,內(nèi)存：256M，擴展存儲支持32G，標配2G，可以海量存儲數(shù)據(jù) 含量范圍ppm～99.99% 檢測時間3-30秒 GPS、WIFI內(nèi)置系統(tǒng) 檢測對象固體、液體、粉末 探測器25mm2 0.3mil，SDD探測器 探測器分辨率可達139eV 激發(fā)源40KV/100uA-銀靶端窗一體化微型X光管及高壓電源 視頻系統(tǒng)高清晰攝像頭 顯示屏半透半反式液晶顯示觸摸屏，其分辨率是640*480 檢出限檢出限達ppm級 安全性自帶密碼管理員模式，數(shù)據(jù)可隨意保存 可充氣系統(tǒng)常壓充氦氣系統(tǒng) 數(shù)據(jù)傳輸數(shù)字多道技術，SPI數(shù)據(jù)傳輸，分析，高計數(shù)率 操作環(huán)境濕度≤90% 儀器外形尺寸234×306×82mm（L×H×W） 儀器重量1.9Kg（配備電池），1.6Kg（無電池）
手持光譜儀是一種基于XRF(X Ray Fluorescence,X射線熒光)光譜分析技術的光譜分析儀器，主要由X光管、探測器、CPU以及存儲器組成，由于其便攜具有便攜、準確等特點，使其在合金、礦石、環(huán)境、消費品等領域有著重要的應用。尤其適合于不銹鋼材料的牌號確認以及定量測量元素。合金材料分析 目前在合金材料檢測領域，它主要用于、航天、鋼鐵、石化、電力、制藥等領域金屬材料中元素成份的現(xiàn)場測定，是伴隨世界經(jīng)濟崛起的工業(yè)和制造領域*的成份鑒定工具。 重金屬檢測 除了傳統(tǒng)的合金材料檢測，貴金屬，RoHs合規(guī)篩查，礦石分析，手持式XRF儀器同樣在地質(zhì)勘探和環(huán)境評估中發(fā)揮著重要的作用，通過分析土壤中的重金屬元素，可以知道整個區(qū)域的礦產(chǎn)分布和污染分布。 其他領域 XRF技術還可以用于一些新的領域，比如風電和汽車領域，通過對油品中金屬元素含量進行檢測，可以間接反映軸承的磨損情況。還有許多新的XRF應用領域正在被開發(fā)出來，使得XRF技術在各個行業(yè)領域得到了廣泛的應用。比如工廠的生產(chǎn)制造環(huán)節(jié)的焊接質(zhì)量控制，也會用到XRF合金分析儀。
手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術的光譜分析儀器，當能量高于原子內(nèi)層電子結合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時,驅逐一個內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個空穴,使整個原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當較外層的電子躍遷到空穴時,產(chǎn)生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，發(fā)生俄歇效應,亦稱次級光電效應或無效應。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X 射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。因此，射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應的關系。由Moseley定律可知，只要測出熒光X射線的波長,可以知道元素的種類,這是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系,據(jù)此,可以進行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉換成易于測量的電信號來得到待測元素的特息。
手持式光譜儀的應用非常廣泛，涉及：電力、石化、考古、金屬加工、壓力容器、廢舊物資回收、航空航天、地質(zhì)勘探、礦山測繪、開采、礦石分選、礦產(chǎn)貿(mào)易、金屬冶煉、環(huán)境監(jiān)測、土壤監(jiān)測、玩具、服裝、鞋帽、電子產(chǎn)品等眾多領域。便宜、的手持式拉曼光譜儀正在迅速成為原料藥采購質(zhì)量控制的有力工具。拉曼光譜儀是未知化合物的有力工具，例如檢測高純度化學品、成分驗證和高分子材料的表征。拉曼光譜儀器大受歡迎主要是由于現(xiàn)代儀器所配備的智能決策軟件和譜圖庫，使得它成為理想的分子指紋圖譜分析技術。不同于傳統(tǒng)的分子光譜技術，拉曼光譜儀可用于生產(chǎn)環(huán)境或現(xiàn)場應用，因為它能產(chǎn)生尖銳、特異的譜峰，幾乎不需要樣品前處理或直接與樣品接觸。此外，它還具有特的能力，可以通過透明的包裝材料，如玻璃或塑料，直接測試樣品，并對光譜信息沒有任何干擾。手持式光譜儀正在成為原料藥采購中質(zhì)量控制的有力分析工具。其被廣泛接受的原因是，它用于倉庫化學品的識別，比傳統(tǒng)的實驗室分析技術更具成本效益。
手持式分析儀 探測器：13mm2 電致冷Si-PIN探測器 激發(fā)源：40KV/50uA-銀端窗一體化微型X光管 檢測時間：10-200秒（可手持式或座立式測試） 檢測對象：固體、液體、粉末 檢測范圍：硫(S)到鈾(U)之間所有元素 可同時分析元素：多至26個元素 元素檢出限：0.001%～0.01% 校正方式： 銀(Ag) 性：自帶模式，非人員無法使用 Data使用性：可在PDA內(nèi)進行編輯，可導入PC機進行 保存打印，配備海量存儲卡 電 源： 兩塊鋰電池滿電可連續(xù)工作8小時
手持式光譜儀系統(tǒng)誤差的來源有： (1)標樣和試樣中的含量和化學組成不相同時，可能引起基體線和分析線的強度改變，從而引入誤差。 (2)標樣和試樣的物理性能不相同時，激發(fā)的特征譜線會有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。 (3)澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結構不相同時，測出的數(shù)據(jù)會有所差別。 (4)未知元素譜線的重疊干擾。如熔煉過程中加入脫氧劑、除硫磷劑時，混入未知合金元素而引入系統(tǒng)誤差。 (5)要系統(tǒng)誤差，必須嚴格按照標準樣品制備規(guī)定要求。為了檢查系統(tǒng)誤差，需要采用化學分析方法分析多次校對結果。
