德國(guó)IE生產(chǎn)的新款光譜儀EX2,EX2-VIS-IR。它比EX1更加緊湊,EX2-VIS可測(cè)的光譜范圍是350nm-870nm。它的光譜分辨率是2.4nm以及更高的靈敏度。
EX2-VIS-IR包含EX2-VIS的一切特性,只不過(guò)光譜范圍更廣,光譜范圍是380-1100nm,光譜分辨率是2.35nm。用其可以測(cè)試近紅外光的光譜分布。
原理 | 線性CMOS探測(cè)器,通過(guò)光纖測(cè)量(25°FOV) |
光譜范圍 | 350-860nm |
380-1100nm(IR版) | |
分辨率 | 2048pixel |
積分時(shí)間 | 30us-59s |
1.05ms-10min(IR版) | |
預(yù)熱時(shí)間 | 建議預(yù)熱時(shí)間5min |
系統(tǒng)要求 | win7或更高,USB接口 |
校準(zhǔn) | NIST traceable calibrated,建議每年校準(zhǔn)一次 |
電壓 | USB供電,500mA |
尺寸 | 95x68x20mm |
重量 | 174g |