Veeco D3100 Dimension Head ( AFM Scanner )
Veeco D3100 掃描頭 ( AFM Scanner )
掃描范圍:90um*90um
Dimension 3100 SPM使用自動(dòng)化的原子力顯微鏡和掃描隧道顯微鏡技術(shù),可用來測(cè)量直徑可達(dá)200毫米的半導(dǎo)體硅片、刻蝕掩膜、磁介質(zhì)、CD/DVD、生物材料、光學(xué)材料和其它樣品的表面特性。它的激光點(diǎn)定位系統(tǒng)和無需工具改變掃描技術(shù)的能力保證了儀器的適用性、易操作性和高的數(shù)據(jù)處理能力。
儀器名稱: | Dimension3100原子力顯微鏡 | |
型 號(hào): | Dimension 3100 |
生產(chǎn)廠家: | Veeco |
主要配置: | – Dimension 3100 掃描頭和Nanoscope IIId控制器 – 樣品尺寸可達(dá)到8英寸晶圓,測(cè)量區(qū)域可達(dá)到6英寸范圍。 – 全面的表面局域電學(xué)測(cè)量模塊(SCM/CAFM/SSRM,與Multimode共用) | 性能指標(biāo): | 同主要用途 | |
主要用途: |
– 表面形貌、成分分辨 ? 具備接觸、輕敲等多種模式成形貌像,XY分辨率0.25nm,Z噪聲<0.05nm ? 摩擦力圖像、定量相位圖像 – 表面局域電場(chǎng)力、磁場(chǎng)力和表面電勢(shì): ? 電場(chǎng)力、磁場(chǎng)力圖像 ? 表面電勢(shì)可分辨表面兩點(diǎn)電勢(shì)差值,分辨率10mV – 載流子濃度、氧化層缺陷、局域?qū)щ娦?br> ? 掃描電容模塊(SCM)可測(cè)量dc/dV曲線,表征表面局域載流子濃度、氧化層缺陷等 ? 導(dǎo)電原子力(CAFM) 可測(cè)量I/V曲線,表征表面局域?qū)щ娦浴F珘悍秶?mV-12V,電流范圍10nA-1uA ? 掃描擴(kuò)展電阻(SSRM)可測(cè)量表面電阻分布,表征局域?qū)щ娦院洼d流子濃度等。偏壓范圍1mV-12V,電流范圍10pA-1mA – 納米加工 ? 可編程控制針尖動(dòng)作和測(cè)量過程,對(duì)表面進(jìn)行納米操縱、刻蝕等 |