MPS20系列脈沖雷達物位計是基于時域反射原理的測量系統(tǒng)。雷達物位計的天線發(fā)射極窄的微波脈沖,這個脈沖以光速在空間傳播,遇到被測介質(zhì)表面時,由于介電常數(shù)發(fā)生突變,微波脈沖的部分能量被反射回來,并被天線系統(tǒng)接收。
發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間間隔與雷達天線到被測介質(zhì)表面的距離成正比。通過測量發(fā)射脈沖與反射脈沖的時間差,并由式(1)即可計算出被測物質(zhì)到儀表法蘭的距離。
D=1/2·ct (1)
其中D為測量參考面到被測介質(zhì)的距離,c為光(電磁波)在真空的的傳播速度,t為發(fā)射脈沖與反射脈沖的時間差。
然后根據(jù)用戶設(shè)定的空料位位置,由式(2)即可計算出物料高度。
L=E-D (2)
其中E為測量參考面到用戶設(shè)定的空料位位置,D為測量參考面到被測介質(zhì)的距離,L為物料高度。