電子耐熱高溫老化房通過精確控制溫度和時(shí)間，為電子產(chǎn)品提供一個(gè)高溫、穩(wěn)定的環(huán)境，以測(cè)試其在高溫條件下的性能衰減、熱穩(wěn)定性、可靠性等指標(biāo)。這種測(cè)試對(duì)于確保電子產(chǎn)品在高溫環(huán)境中能夠正常工作至關(guān)重要，主要用于提高產(chǎn)品的穩(wěn)定性和可靠性，是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)力的重要生產(chǎn)流程。廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領(lǐng)域。
型號(hào)與尺寸：
型號(hào)：根據(jù)具體廠商和產(chǎn)品系列而定
工作間尺寸（D×W×H）：根據(jù)客戶需求定制，范圍可從2m3到300m3。
溫度范圍與控制：
溫度范圍：通常為RT+10℃至80℃（或更高至85℃、100℃），具體取決于產(chǎn)品設(shè)計(jì)和應(yīng)用需求。
溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃（空載時(shí)）。
溫度偏差：≤±2℃（設(shè)定溫度與工作間實(shí)際溫差的差值），或≤±3℃（空載條件下）。
精度范圍與指示精度：溫度±0.1℃。
升溫速率：約1.0℃/min（空載時(shí)），或平均每分鐘1~5℃。
電源要求：
電源電壓：三相380V±10%。
電源頻率：50Hz±2%。
結(jié)構(gòu)與配置：
試驗(yàn)室體結(jié)構(gòu)：采用組合式庫板結(jié)構(gòu)，方便現(xiàn)場(chǎng)組裝。內(nèi)壁材料通常為SUS304不銹鋼板，外壁為優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板，并帶有靜電涂漆處理。
地面材料：防滑花紋鋼板，可安裝軌道以方便小車出入。
照明與通風(fēng)：工作間頂部安裝防爆照明燈，兩側(cè)留有電纜線引出孔?？赡芘鋫錈犸L(fēng)循環(huán)系統(tǒng)和排風(fēng)系統(tǒng)。
觀察窗與引線孔：根據(jù)需求定制觀察窗和用于外接測(cè)試電源線或信號(hào)線的引線孔。
控制系統(tǒng)：
控制器：采用彩色LCD顯示器和觸摸屏輸入方式，支持試驗(yàn)設(shè)定值、采樣值及時(shí)間曲線的保存和顯示。
接口與通信：配備485USB接口，支持通過優(yōu)盤轉(zhuǎn)存試驗(yàn)程序和數(shù)據(jù)，用于PC機(jī)分析和管理。
PID參數(shù)：控制器具有多組PID參數(shù)，可對(duì)整個(gè)溫度范圍進(jìn)行精細(xì)控制。
固態(tài)繼電器：控制系統(tǒng)可能采用固態(tài)繼電器過零觸發(fā)，以降低噪音、減少污染并提高控制精度。
安全保護(hù)措施：
超溫過載報(bào)警系統(tǒng)：配備超溫過載報(bào)警裝置，包括三色工作指示燈和聲光報(bào)警裝置。
漏電保護(hù)與短路保護(hù)：確保設(shè)備在漏電或加熱器短路時(shí)能夠安全關(guān)閉。
其他特性：
噪音大?。翰糠之a(chǎn)品可能特別強(qiáng)調(diào)低噪音設(shè)計(jì)，如≦55分貝。
定制性：由于應(yīng)用需求的多樣性，高溫老化房在很多方面（如尺寸、溫度范圍、控制系統(tǒng)等）都具有高度的定制性。
分類
房間隔離式測(cè)試系統(tǒng)型：房間尺寸根據(jù)客戶要求設(shè)計(jì)，活動(dòng)空間大，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，成本較低。
Chamber隔離式測(cè)試系統(tǒng)型：測(cè)試區(qū)采用推拉門及大視角玻璃視窗，操作人員在不用進(jìn)入老化房測(cè)試區(qū)內(nèi)就可以操作，并能清晰地看到產(chǎn)品狀況。
移動(dòng)式測(cè)試系統(tǒng)型：占地面積小，可以隨時(shí)搬遷移動(dòng)，適合產(chǎn)量少或研發(fā)試驗(yàn)產(chǎn)品小批量測(cè)試。
電子耐熱高溫老化房廣泛應(yīng)用于以下領(lǐng)域：
1、汽車電子：用于測(cè)試汽車電子設(shè)備在高溫環(huán)境下的性能和可靠性，如發(fā)動(dòng)機(jī)控制單元、車載娛樂系統(tǒng)等。
2、航空航天：用于測(cè)試航空航天電子設(shè)備在高溫、高海拔等惡劣環(huán)境下的性能和可靠性，確保其在惡劣條件下的正常工作。
3、軍事領(lǐng)域：用于測(cè)試軍事裝備中的電子設(shè)備在高溫、高濕等惡劣環(huán)境下的性能和可靠性，滿足軍事裝備的惡劣環(huán)境使用需求。
4、其他電子產(chǎn)品：如手機(jī)、電腦、平板等消費(fèi)電子產(chǎn)品，以及工業(yè)控制、醫(yī)療設(shè)備等領(lǐng)域的電子產(chǎn)品，都可以通過高溫老化房進(jìn)行高溫環(huán)境下的性能測(cè)試和可靠性評(píng)估。
