FE-2000A型鐵電測(cè)試儀
關(guān)鍵詞：
PYM 熱釋電測(cè)量
DTS 介電溫譜測(cè)量
RT 電阻測(cè)量
PZM 壓電測(cè)量
CHM 態(tài)電滯回線測(cè)量
IM 印跡測(cè)量
RM 保持力測(cè)量
FE-2000A型鐵電測(cè)試儀是一款可以兼容多種功能的鐵電綜合測(cè)試系統(tǒng)，即用于鐵電體的鐵電性能測(cè)量、可用于鐵電體的科學(xué)研究及近代物理實(shí)驗(yàn)中的固體物理實(shí)驗(yàn)以及工業(yè)化生產(chǎn)鐵電存儲(chǔ)器的鐵電性能檢測(cè)中。本測(cè)試系統(tǒng)主要包括可編程信號(hào)源、微電流放大器、積分器、放大倍數(shù)可編程放大器、模/數(shù)轉(zhuǎn)換器數(shù)/模轉(zhuǎn)換器、微機(jī)接口部分、微機(jī)和應(yīng)用軟件等部分組成。
FE -2000鐵電材料參數(shù)測(cè)試儀主要由正弦波、三角波、間歇三角波、梯形波發(fā)生器及正、負(fù)矩形脈沖和雙極性雙脈沖發(fā)生器外加鐵電材料電滯回線、I-V特性及開關(guān)特性測(cè)量電路構(gòu)成。適用于鐵電薄膜、鐵電體材料的電性能測(cè)量,可測(cè)量鐵電薄膜電滯回線、IーV特性及開關(guān)特性,可地測(cè)出具有非對(duì)稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值?？蓽y(cè)鐵電體材料的電滯回線及IV特性。同時(shí)也可作為ー臺(tái)通用信號(hào)發(fā)生器、高壓信號(hào)發(fā)生器使用。
一、測(cè)試系統(tǒng)：
本測(cè)試系統(tǒng)采用虛地模式測(cè)量電路,與傳統(tǒng)的Sawyer- Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測(cè)試精度僅取決于積分器積分電容的精度。減少了對(duì)測(cè)試的影響環(huán)節(jié),比較容易定標(biāo)和校準(zhǔn),并且能實(shí)現(xiàn)較高的測(cè)量準(zhǔn)確度。它不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線,還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流lk等參數(shù),以及對(duì)鐵電薄膜材料的鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測(cè)試。能夠較準(zhǔn)確地測(cè)量鐵電薄膜的鐵電性能。儀器采用一體化設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)測(cè)試結(jié)果全數(shù)字化,操作簡單方便。
二、主要及可擴(kuò)展功能：
DHM 動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)量
CVM CV測(cè)量
LM 漏電流測(cè)量
FM 疲勞測(cè)試PM
脈沖測(cè)量
PYM 熱釋電測(cè)量女
DTS 介電溫譜測(cè)量女
RT 電阻測(cè)量女
PZM 壓電測(cè)量
CHM 態(tài)電滯回線測(cè)量
IM 印跡測(cè)量
RM 保持力測(cè)量
BDM擊穿測(cè)試女
TSDC 熱刺激電流測(cè)量
ECM 電卡測(cè)試女
POM 油浴極化
三、主要軟件功能：
采用labview系統(tǒng)開發(fā)，符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料的各項(xiàng)測(cè)試需求，具備穩(wěn)定性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料可保存恢復(fù)，兼容，XP、win7、win10系統(tǒng)。
本測(cè)試系統(tǒng)由主控器、高壓放大器、變溫綜合測(cè)試平臺(tái)（配鐵電測(cè)試盒）或高低溫探針臺(tái)（配高壓探針）、計(jì)算機(jī)及系統(tǒng)軟件部分組成。主控器集成了可編程波形發(fā)生器、內(nèi)置驅(qū)動(dòng)電壓、電荷積分器、可編程放大器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器、通訊總線等功能，主控器提供擴(kuò)展外置高壓放大器接口，可擴(kuò)展±5 kV或±10 kV的高壓放大器。系統(tǒng)軟件包括可視化數(shù)據(jù)采集和管理功能，測(cè)試時(shí)，無需改變測(cè)試樣品的連接，即可實(shí)現(xiàn)滯回，脈沖，漏電，IV等性能測(cè)試。
四、主要性能指標(biāo)：
1) 輸出信號(hào)電壓：±10000V
2) 施加頻率：1Hz到1000Hz
3) 波形：正弦波、三角波、方波
4) USB示波器：4CH；70MHz
5) 絕緣電阻/漏電流測(cè)量：10TΩ/1pA,1000V
6) 電滯回線測(cè)試變溫范圍：RT~200℃
7) 變溫測(cè)量控制單元：精度0.1℃；功率：500W；接口：RS485
8) 測(cè)試采樣速度：<5秒/樣品•溫度點(diǎn)
9) 樣品規(guī)格：陶瓷塊體：Φ10-100mm，厚度0.1~10mm
薄膜樣品：Φ10-100mm，厚度1~100μm
10) 控制方式：計(jì)算機(jī)實(shí)時(shí)控制、實(shí)時(shí)顯示、實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)計(jì)算
11) 數(shù)據(jù)采集分析軟件：
a) 運(yùn)行環(huán)境 windows 7；
b) 測(cè)量時(shí)實(shí)時(shí)顯示采集到的電滯回線，可定量得到鐵電材料的飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流等參數(shù)；可以進(jìn)行鐵電材料的鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測(cè)試，可選擇測(cè)量模式、掃描電場(chǎng)的幅值等；
c) 依據(jù)位移回歸法繪制樣品D33應(yīng)變/位移曲線（蝴蝶曲線）
d) 測(cè)量結(jié)果可以保存為數(shù)據(jù)文件供Origin等數(shù)據(jù)處理軟件調(diào)用處理，也可保存和打印微機(jī)屏幕顯示結(jié)果界面；
e) 具有數(shù)據(jù)平滑化、電滯回線校正等
