簡單介紹
日本 3541 微電阻計 低電阻測試儀 3541 毫歐表
寬量程、高分辨率、適用于系統(tǒng)測試的電阻計
?廣范圍測量 低0.1μΩ(20.00mΩ)，高110MΩ
?快速采樣,快可達0.6ms (根據設定條件的不同,會有差異)
?補正偏置電壓,用9451(Pt)/溫度探頭進行溫度補正功能
?運用4端子測量技術,測試線接觸電阻可忽略不計
?具備統(tǒng)計、演算功能。若再另配選件的
測量電流：
20mΩ(顯示20.0000mΩ,分辨率0.1μΩ)~100MΩ量程(顯示110.000MΩ，分辨率1kΩ)，11檔切換
[Low Power ON時]2Ω(顯示2.00000Ω，分辨率10μΩ)~2kΩ量程(顯示2.00000kΩ，分辨率10mΩ)，4檔切換
測量精度：
(SLOW2) ± 0.007% rdg. ±0.0015%dgt.(2k/20kΩ)
[Low Power ON時]: ± 0.011% rdg. ±0.01%dgt.(2～2kΩ)
測量電流：
DC 1A～100nA, [Low Power ON時]: DC 10m～10μA
開路端子電壓 DC 5V(20/200m), 2.6V(2～20k),13V(1M～100M),[Low Power ON時]: 60mV
采樣速度：
快速 中速 低速 1 低速 2
50Hz 0.6ms ± 0.3ms 21ms ± 1ms 155ms ± 5ms 455ms ± 10ms
60Hz 0.6ms ± 0.3ms 17ms ± 1ms 149ms ± 5ms 449ms ± 10ms
應答時間(純電阻時)：上記采樣時間+約1ms(根據設定內容、試料的不同,會有差異)
其它功能：
溫度測量(-10.0~99.9 °C)，溫度補償阻抗值換算，卷線溫度上升值換算，比較功能，可儲存裝填30種設定條件,分類(BIN)測量(10分類), 統(tǒng)計運算,補償偏置電壓，遲延 , 平均數(shù)子輸入/輸出 輸出: BCD, 測量結束,比測儀結果, BIN結果,NG/開放連接器輸入: 條件選擇, 觸發(fā), 校準, 0ADJ,印刷 /C-MOS
供應電源 AC 100～240V, 50/60Hz, 30VA max.
體積于重量 215寬 × 80高 × 295厚mm, 2.6kg
