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STD2000 MOSFET參數(shù)測試儀系統(tǒng)

參考價訂貨量

259000

≥1套

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 型號STD2000
  • 品牌其他品牌
  • 所在地西安市
  • 更新時間2024-04-15
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 入駐年限1
  • 實名認證已認證
  • 產(chǎn)品數(shù)量70
  • 人氣值298
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  陜西天士立科技有限公司,專業(yè)從事半導體檢測之“半導體電學測試系統(tǒng)”“半導體可靠性試驗臺”“半導體老化試驗臺”以及氣候環(huán)境試驗設備、力學環(huán)境試驗設備、參數(shù)化脈沖電源、半導體EDA仿真軟件、智慧工廠、碳化硅陶瓷材料、第三方檢測實驗室為一體的科研、制造、開發(fā)、服務性品牌。核心團隊匯集了來自院所高校和企業(yè)的從事電力電子、芯片開發(fā)、電源、軟件等領(lǐng)域人士。產(chǎn)品成熟可靠,久經(jīng)市場考驗,在替代同類進口產(chǎn)品方面有著突出的優(yōu)勢。


      “半導體檢測”系列產(chǎn)品覆蓋半導體功率器件的初始研發(fā)到規(guī)模量產(chǎn)再到應用端的全產(chǎn)業(yè)鏈。服務領(lǐng)域包括半導體器件及IC上游產(chǎn)業(yè)(設計、制造、封裝、IDM廠商、晶圓、DBC襯板)和應用端產(chǎn)業(yè)(院所高校、電子廠、軌道機車、新能源汽車、白色家電等......)應用場景主要有器件及IC研發(fā)期預演測試、晶圓廠自動化芯片測試、器件及IC后道封裝測試。應用端的來料檢驗、失效分析、器件選型、參數(shù)配對、壽命預估等。


     “環(huán)境試驗設備”包括力學振動臺、沖擊試驗臺、振動溫度濕度三綜合、高低溫環(huán)境試驗箱、各類氣候環(huán)境試驗箱、熱流儀、精密實時在線高低溫箱。


     “電氣工程”產(chǎn)品系列及服務包括電力半導體器件、模塊、組件的研制及綜合檢測設備;電氣自動化設備,電冶、電化學整流裝置;電力半導體變流裝置及各種高、中、低頻感應加熱電源,感應加熱爐,變壓器、整流器、電感器、電容器、互感器、傳感器及其配套設備;晶閘管光控高壓閥組、GTO、IGBT、IGCT、MOSFET驅(qū)動器;遠距離光電傳感轉(zhuǎn)換軟件控制系統(tǒng);光電脈沖觸發(fā)板、IGBT智能高壓驅(qū)動機車調(diào)速匯報板;SVC無功靜補裝置等。

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陜西天士立科技有限公司/STD2000/MOSFET參數(shù)測試儀系統(tǒng)可以測試Si,SiC,GaN & IGBT、Mosfet、Diode、BJT、SCR、OC/光耦......等很多電子元器件的靜態(tài)直流參數(shù)和IV曲線(如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開啟電壓/VCE(on)、跨導/Gfe/Gfs、壓降/Vf等
MOSFET參數(shù)測試儀系統(tǒng) 產(chǎn)品詳情

MOSFET參數(shù)測試儀系統(tǒng)


陜西天士立科技有限公司/STD2000/MOSFET參數(shù)測試儀系統(tǒng)可以測試Si,SiC,GaN & IGBT、Mosfet、DiodeBJT、SCROC/光耦......等很多電子元器件的靜態(tài)直流參數(shù)和IV曲線(如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開啟電壓/VCE(on)、跨導/Gfe/Gfs、壓降/Vf、內(nèi)阻Rds(on))以及IV特性曲線等

 

高壓源標配1400V(選配2KV),高流源標配100A(選配40A,200A,500A)柵極電壓40V,柵極電流100mA分辨率至1.5uV / 1.5pA,精度可至0.1%

 



陜西天士立科技有限公司

研發(fā)生產(chǎn) 半導體檢測·電學檢測·可靠性檢測·老化實驗  各類儀器設備

 

 

一:規(guī)格&環(huán)境

1.1、產(chǎn)品信息

產(chǎn)品型號:STD2000

產(chǎn)品名稱:MOSFET參數(shù)測試儀

1.2物理規(guī)格

主機尺寸:深660*430*210(mm)

主機重量:<35kg

1.3、電氣環(huán)境

主機功耗:<300W

海拔高度:海拔不超過 4000m;

環(huán)境要求:-20℃~60℃(儲存)、5℃~50℃(工作);

相對濕度: 20%RH75%RH (無凝露,濕球溫度計溫度 45℃以下);

大氣壓力:86Kpa106Kpa

防護條件:無較大灰塵,腐蝕或爆炸性氣體,導電粉塵等;

電網(wǎng)要求:AC220V、±10%、50Hz±1Hz;

工作時間:連續(xù);

 

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第二部分:應用場景和產(chǎn)品特點

一、應用場景

1、測試分析(功率器件研發(fā)設計階段的初始測試主要功能為曲線追蹤儀

2失效分析(對失效器件進行測試分析,查找失效機理。以便于對電子整機的整體設計和使用過程提出改善方案)

3、選型配對(在器件焊接至電路板之前進行全部測試,將測試數(shù)據(jù)比較一致的器件進行分類配對)

4、來料檢驗(研究所及電子廠的質(zhì)量部(IQC)對入廠器件進行抽檢/全檢,把控器件的良品率)

5、量產(chǎn)測試(可連接機械手、掃碼槍、分選機等各類輔助機械設備,實現(xiàn)規(guī)模化、自動化測試)

6替代進口STD2000MOSFET參數(shù)測試儀可替代同級別進口產(chǎn)品)

 

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二、產(chǎn)品特點

1、程控高壓源10~1400V,提供2000V選配;

2、程控高流源1uA~100A,提供40A,200A,500A選配;

3、驅(qū)動電壓10mV~40V

4、控制極電流10uA~100mA;

5、16ADC1M/S采樣速率;

6、自動識別器件極性 NPN/PNP

7、曲線追蹤儀,四線開爾文連接保證加載測量的準確

8、通過 RS232 接口連接校準數(shù)字表,對系統(tǒng)進行校驗

9、不同的封裝形式提供對應的夾具和適配器(如TO220、SOP-8、DIP、SOT-23等等)

10MOSFET參數(shù)測試儀能測很多電子元器件如二極管、三極管、MOSFET、IGBT、可控硅、光耦、繼電器等等);

11MOSFET參數(shù)測試儀能實現(xiàn)曲線追蹤儀(如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開啟電壓/VCE(on)、跨導/Gfe/Gfs、壓降/Vf、導通內(nèi)阻Rds(on)

12、結(jié)電容參數(shù)也可以測試,諸如Cka,CissCrss,Coss;

13、脈沖電流自動加熱功能,方便高溫測試,無需外掛升溫裝置;

14、Prober 接口、Handler 接口可選(16Bin,連接分選機效率1h/9000個;

15、MOSFET參數(shù)測試儀在各大電子廠的IQC、實驗室有著廣泛的應用;

 

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第三部分:產(chǎn)品介紹

3.1、產(chǎn)品介紹

STD2000MOSFET參數(shù)測試儀是由我公司技術(shù)團隊結(jié)合MOSFET參數(shù)測試儀的多年經(jīng)驗,以及眾多國內(nèi)外測試系統(tǒng)產(chǎn)品的熟悉了解后,自主開發(fā)設計的全新一代MOSFET參數(shù)測試儀”。軟件及硬件均由團隊自主完成。這就決定了這款產(chǎn)品的功能性和可靠性能夠得到持續(xù)完善和不斷的提升。

 

MOSFET參數(shù)測試儀脈沖信號源輸出方面,高壓源標配1400V(選配2KV),高流源標配100A(選配40A,200A,500A)柵極電壓40V,柵極電流100mA,分辨率至1uV / 1.5pA,精度可至0.1%。程控軟件基于Lab VIEW平臺編寫,填充式菜單界面。采用帶有開爾文感應結(jié)構(gòu)的測試插座,自動補償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測試電纜長度引起的任何壓降,保證測試結(jié)果準確可靠。產(chǎn)品可測試 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs, DIODEs, MOSFETs, BJTs, SCRs 7大類26分類的電子元器件。涵蓋電子產(chǎn)品中幾乎所有的常見器件。無論電壓電流源還是功能配置都有著擴展性。

 

產(chǎn)品為桌面放置的臺式機結(jié)構(gòu),由測試主機和程控電腦兩大部分組成。外掛各類夾具和適配器,還能夠通過Prober 接口、Handler 接口可選(16Bin)連接分選機和機械手建立工作站,實現(xiàn)快速批量化測試。通過軟件設置可依照被測器件的參數(shù)等級進行自動分類存放。能夠應對“來料檢驗”“失效分析”“選型配對”“量產(chǎn)測試”等不同場景。

 

MOSFET參數(shù)測試儀產(chǎn)品的可靠性和測試數(shù)據(jù)的重復性以及測試效率都有著非常優(yōu)秀的表現(xiàn)。創(chuàng)新的“點控式夾具”讓操作人員在夾具上實現(xiàn)一點即測。操作更簡單效率更高。測試數(shù)據(jù)可保存為EXCEL文本,方便快捷的完成曲線追蹤儀。

3.2、人機界面(STD2000MOSFET參數(shù)測試儀)

 

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第四部分:功能配置

4.1配置選項

STD2000MOSFET參數(shù)測試儀的功能配置如下

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4.2、適配器選型

STD2000MOSFET參數(shù)測試儀的適配器有如下

 

 

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4.3、測試種類及參數(shù)

STD2000MOSFET參數(shù)測試儀的測試種類和參數(shù)如下

(1)二極管類:二極管  Diode

Kelvin,Vrrm,Irrm,Vf,△Vf,△Vrrm,Cka,Tr(選配);

(2)二極管類:穩(wěn)壓二極管  ZDZener Diode

Kelvin,Vzlr,Vf,△Vf,△Vz,Roz,lzm,Cka

(3)二極管類:穩(wěn)壓二極管  ZDZener Diode

Kelvin、Vz、lr、Vf、△Vf、△Vz、Roz、lzm、Cka;

(4)二極管類:三端肖特基二極管SBDSchottkyBarrierDiode

Kelvin 、Type_ident 、Pin_test 、Vrrm、IrrmVf、△Vf、V_Vrrm、I_Irrm、△Vrrm、CkaTr(選配);

(5)二極管類:瞬態(tài)二極管  TVS

Kelvin 、Vrrm Irrm、Vf、△Vf、△Vrrm 、Cka ;

(6)二極管類:整流橋堆

Kelvin 、VrrmIrrm、Ir_acVf、△Vf、△Vrrm 、Cka;

(7)二極管類:三相整流橋堆

Kelvin Vrrm 、IrrmIr_ac、Vf、△Vf、△VrrmCka;

(8)三極管類:三極管

Kelvin 、Type_ident、Pin_chk 、V(br)cbo 、V(br)ceo 、V(br)ebo 、Icbo、lceo、Iebo、Hfe、Vce(sat)、Vbe(sat)、△Vsat、△Bvceo 、△Bvcbo 、Vbe、lcmVsd 、Ccbo 、Cces、HeaterTr (選配)、Ts(選配)、Value_process

(9) 三極管類:雙向可控硅

KelvinType_ident、Qs_chkPin_test、IgtVgt、Vtm、Vdrm、Vrrm、Vdrm rrm、IrrmIdrm、Irrm_drmIh、IL、C_vtm、△Vdrm、△Vrrm、△Vtm

(10)三極管類:單向可控硅

Kelvin、 Type_ident、 Qs_chkPin test、 lgtVgt、 Vtm、 Vdrm VrrmIH、IL、△VdrmVrrm、Vtm;

(11)三極管類:MOSFET

Kelvin Type_ident、Pin_test、VGS(th) 、V(BR)Dss 、Rds(on) 、Bvds_rz、△BvdsGfs、Igssldss 、Idss zero 、Vds(on)、 Vsd、Ciss、CossCrss、Bvgs 、ld_lim 、HeaterValue_proces、△Rds(on) ;

(12)三極管類:雙MOSFET

Kelvin、 Pin_chk、Ic_fx_chkType_ident、 Vgs1(th)、 VGs2(th)VBR)Dss1、 VBR)Dss2Rds1(on)、 Rds2(on)Bvds1 rz、 Bvds2_rzGfs1、Gfs2lgss1、lgss2、Idss1、Idss2、Vsd1Vsd2、Ciss、CossCrss;

(13)三極管類:JFET

Kelvin、VGS(off )V(BR)Dss、Rds(on)Bvds_rz、Gfslgss、 Idss(off)、 Idss(on)vds(on)、 VsdCiss、Crss、Coss;

(14)三極管類:IGBT

Kelvin、VGE(th)V(BR)CES、Vce(on)Gfe、lgeslces、Vf、CissCoss、Crss

(15)三極管類:三端開關(guān)功率驅(qū)動器

Kelvin、Vbb(AZ)Von(CL)、 RsonIbb(off)、Il(lim)、Coss、Fun_pin_volt;

(16)三極管類:七端半橋驅(qū)動器

Kelvin、lvs(off)、lvs(on)、Rson_hRson_l、linIinh、ls_Volt、Sr_volt

(17)三極管類:高邊功率開關(guān)

Kelvin、Vbb(AZ)Von(CL)、Rson、Ibb(off)、ll(Iim)、Coss、Fun_pin_volt

(18)保護類:壓敏電阻

Kelvin、VrrmVdrm、Irrm、Idrm、Cka、 △Vr ;

(19)保護類:單組電壓保護器

Kelvin Vrrm、VdrmIrrm、Idrm、Cka、△Vr;

(20)保護類:雙組電壓保護器

KelvinVrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr;

(21)穩(wěn)壓集成類:三端穩(wěn)壓器

Kelvin 、Type_ident 、Treg_ix_chk 、Vout Reg_Line、Reg_LoadIB、IB_I、Roz、△IB、VDISC、Max_loRo、Ext _Sw、Ic_fx_chk;

(22)穩(wěn)壓集成類:基準ICTL431

Kelvin、Vref、△Vreflref、Imin、loffZka、Vka;

(23)穩(wěn)壓集成類:四端穩(wěn)壓

KelvinType_ident、Treg_ix_chk、Vout、Reg_Line、Reg_LoadIB、IB_IRoz、△lB、VDIsc、Max_lo、Ro、Ext_Sw、Ic_fx_chk

(24)穩(wěn)壓集成類:開關(guān)穩(wěn)壓集成器

選配;

(25)繼電器類:4腳單刀單組、5腳單刀雙組、8腳雙組雙刀、8腳雙組四刀、固態(tài)繼電器

Kelvin、Pin_chkDip6_type_ident、VfIr、Vl、IlIft、Ron、Ton(選配)、Toff(選配);

(26)光耦類:4腳光耦、6腳光耦、8腳光耦、16腳光耦

Kelvin、Pin_chk、Vf、Ir、BvceoBveco、IceoCtr、Vce(sat)、TrTf;

(27)傳感監(jiān)測類:

電流傳感器(ACS712XX系列、CSNR_15XX系列)(選配);

霍爾器件(MT44XX系列、A12XX系列)(選配);

電壓監(jiān)控器(選配);

電壓復位IC(選配);

曲線追蹤儀

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第五部分:性能指標

STD2000MOSFET參數(shù)測試儀的性能指標如下

5.1、電流/電壓源VIS自帶VI測量單元

1加壓(FV)

量程±40V分辨率625uV精度±0.1% 設定值±3mV

量程±20V分辨率320uV精度±0.1% 設定值±3mV

量程±10V分辨率160uV精度±0.1% 設定值±3mV

量程±5V分辨率80uV精度±0.1% 設定值±2mV

量程±2V分辨率32uV精度±0.1% 設定值±2mV

2加流(FI)

量程±40A 分辨率625uA精度±0.5% 設定值±30mA

量程±4A 分辨率62.5uA精度±0.2% 設定值±2mA

量程±400mA分辨率6.25uA精度±0.1% 設定值±500uA

量程±40mA分辨率625nA精度±0.1% 設定值±50uA

量程±4mA分辨率62.5nA精度±0.1% 設定值±5uA

量程±400uA分辨率6.25nA精度±0.1% 設定值±500nA

量程±40uA分辨率625pA精度±0.1% 設定值±50nA

量程±4uA分辨率62.5pA精度±0.1% 設定值±5nA

說明:電流大于1.5A自動轉(zhuǎn)為脈沖方式輸出,脈寬范圍:300us-1000us可調(diào)

3電流測量(MI)

量程±40A分辨率1.22mA精度±1% 讀數(shù)值±20mA

量程±4A分辨率122uA精度±0.5% 讀數(shù)值±2mA

量程±400mA分辨率12.2uA精度±0.5% 讀數(shù)值±200uA

量程±40mA分辨率1.22uA精度±0.5% 讀數(shù)值±20uA

量程±4mA分辨率122nA精度±0.5% 讀數(shù)值±2uA

量程±400uA分辨率12.2nA精度±0.5% 讀數(shù)值±200nA

量程±40uA分辨率1.22nA精度±1% 讀數(shù)值±20nA

4電壓測量(MV)

量程±40V分辨率1.22mV精度±1% 讀數(shù)值±20mV

量程±20V分辨率122uV 精度±0.5% 讀數(shù)值±2mV

量程±10V分辨率12.2uV 精度±0.5% 讀數(shù)值±200uV

量程±5V分辨率1.22uV 精度±0.5% 讀數(shù)值±20uV

5.2數(shù)據(jù)采集部分VM

16ADC,1M/S采樣速率

1電壓測量(MV)

量程±2000V分辨率30.5mV精度±0.5%讀數(shù)值±200mV

量程±1000V分辨率15.3mV精度±0.2%讀數(shù)值±20mV

量程±100V分辨率1.53mV精度±0.1%讀數(shù)值±10mV

量程±10V分辨率153uV精度±0.1%讀數(shù)值±5mV

量程±1V分辨率15.3uV精度±0.1%讀數(shù)值±2mV

量程±0.1V分辨率1.53uV精度±0.2%讀數(shù)值±2mV

2漏電流測量(MI)

量程±100mA分辨率1.53uA精度±0.2%讀數(shù)值±100uA

量程±10mA分辨率153nA精度±0.1%讀數(shù)值±3uA

量程±1mA分辨率15.3nA精度±0.1%讀數(shù)值±300nA

量程±100uA分辨率1.53nA精度±0.1%讀數(shù)值±100nA

量程±10uA分辨率153pA精度±0.1%讀數(shù)值±20nA

量程±1uA 分辨率15.3pA精度±0.5%讀數(shù)值±5nA

量程±100nA分辨率1.53pA精度±0.5%讀數(shù)值±0.5nA

3電容容量測量(MC)

量程6nF分辨率10PF精度±5%讀數(shù)值±50PF

量程60nF分辨率100PF精度±5%讀數(shù)值±100PF

5.3高壓源HVS(基本)12DAC

1加壓(FV)

量程2000V/10mA分辨率30.5mV精度±0.5%設定值±500mV

量程200V/10mA分辨率30.5mV精度±0.2%設定值±50mV

量程40V/50mA分辨率30.5mV精度±0.1%設定值±5mV

2加流(FI)

量程10mA分辨率3.81uA 精度±0.5%設定值±10uA

量程2mA分辨率381nA精度±0.5%設定值±2uA

量程200uA分辨率38.1nA精度±0.5%設定值±200nA

量程20uA分辨率3.81nA精度±0.5%設定值±20nA

量程2uA分辨率381pA精度±0.5%設定值±20nA

STD2000MOSFET參數(shù)測試儀能測很多電子元器件如二極管、三極管、MOSFETIGBT、可控硅、光耦、繼電器等等產(chǎn)品廣泛的應用在院所高校、封測廠、電子廠.....

 

 

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