MiniTest 7400測厚儀Elektrophysik批量出貨
配備眾多的接口，MiniTest 7400可以連接各種外接設(shè)備。紅外接口(IrDA®1.0)可作為標(biāo)準(zhǔn)配置。一個多用接線盒可用來作為一個USB接口連接各種設(shè)備，如外借電源、耳機(jī)、腳踏開關(guān)或警報器。對于單個裝置連接，則可選擇RS 232和USB連接線以及IrDA®//USB接口轉(zhuǎn)換器。
性能特點(diǎn)：
所有金屬基材上的非破壞性測量
多種圖形顯示選項(xiàng)
菜單控制界面，更強(qiáng)的數(shù)據(jù)和配置管理
用于簡易配置評估和數(shù)據(jù)設(shè)置報告的PC軟件
測量厚度高達(dá)35mm的各種耐磨探頭
SIDSP®技術(shù)提升度和重現(xiàn)性
MiniTest 7400測厚儀Elektrophysik批量出貨
模擬信號處理時代已成過去，數(shù)字信號處理將成為未來的趨勢。
SIDSP®明顯優(yōu)勢
EPK此項(xiàng)探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理新技術(shù)為涂層測厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新標(biāo)準(zhǔn)。高精度，高重現(xiàn)性，對溫度變化不敏感，適應(yīng)性強(qiáng)，這些都是SIDSP®的主要特點(diǎn)。創(chuàng)新的生產(chǎn)技術(shù)結(jié)合自動化校準(zhǔn)過程，而且每個探頭可獨(dú)立校準(zhǔn)，從而生產(chǎn)出高質(zhì)量7400的探頭。
這主要源于充分利用了SIDSP技術(shù)賦予的優(yōu)勢。的精密生產(chǎn)過程使得每個探頭都如出一轍的優(yōu)質(zhì)。
MiniTest 7400測厚儀內(nèi)存容量
應(yīng)用程序內(nèi)存數(shù)量10
每個應(yīng)用程序存儲器的批次數(shù)
具有單個值記憶的批次數(shù)量100
單個讀數(shù)的總內(nèi)存容量10,000
統(tǒng)計
從單值：x-，σ，kvar，n，max。，min。
從單值：x-，σ，kvar，n，max。，min。，CP，CPK
塊統(tǒng)計：x =，σ，kvar，n，max。，min。
塊統(tǒng)計：x =，σ，kvar，n，max。，min。，CP，CPK
從同一應(yīng)用程序（APPL）中的所有子組（BATCH）
分別將值和統(tǒng)計打印到APPL-BATCH組
顯示和打印輸出和測量時的日期和時間（年，月，日，小時，分鐘）
校準(zhǔn)方法
通過涂層校準(zhǔn)（CTC）
粗糙表面測量。幾乎可以消除粗糙度的影響
OFFSET函數(shù)添加或減少常量值
外部功能（觸發(fā)）將讀數(shù)傳送到存儲器
鍵鎖定以保護(hù)校準(zhǔn)
電池更換期間保存讀數(shù)
限制設(shè)置
測量單位為微米或密耳
篤摯儀器（上海）有限公司的產(chǎn)品和系統(tǒng)方案廣泛應(yīng)用于大中型國有企業(yè)、汽車制造業(yè)、精密機(jī)械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)線、質(zhì)量控制和教育事業(yè)，用于評價材料、部件及結(jié)構(gòu)的幾何特征和理化性能，推動著制造技術(shù)的精益求精。
