FT6110系列可編程多通道電子負(fù)載陣列，是費(fèi)思在FT6100系列多通道電子負(fù)載陣列的集成上開發(fā)的一款主要針對電源ATE測試系統(tǒng)使用的高性能、高性價比的產(chǎn)品。
為了方便電源ATE測試系統(tǒng)開發(fā)，F(xiàn)T6110內(nèi)置了電壓電流紋波測試、動態(tài)掃頻、負(fù)載效應(yīng)測試、LED驅(qū)動測試、OCP測試、斜率設(shè)置等專項(xiàng)功能，并提供了完善的DLL開發(fā)包。支持支持C#、C++、Delph、Labview開發(fā)語言，方便用戶二次開發(fā)。
FT6110適用于電源生產(chǎn)測試、老化，電池化成、老化測試、線束測試等自動化領(lǐng)域。如：適配器電源，LED電源、直流轉(zhuǎn)換器、電動工具、手機(jī)充電器、平板電腦充電器、電池、不間斷電源（UPS）、電池管理系統(tǒng)（BMS）等產(chǎn)品的ATE自動化測試系統(tǒng)。
前面板
后面板
1. 負(fù)載輸入接線柱（正、負(fù)極）
2. SYSID設(shè)備地址撥碼
3. LAN通訊接口
4. RS485通訊接口
5. 開關(guān)量輸入輸出
6. AC插座
定態(tài)模式
CC恒流模式
CV恒壓模式
CR恒阻模式
CP恒功率模式
CC恒流模式：無論輸入電壓如何變化，負(fù)載始終消耗一個恒定的電流。
CV恒壓模式：負(fù)載將消耗足夠電流使輸入電壓維持在設(shè)定值。
CR恒阻模式：負(fù)載等效為一個恒定電阻，輸入電流會隨輸入電壓的改變而調(diào)整。
CP恒功率模式：負(fù)載將消耗一個恒定功率，輸入電流會隨輸入電壓的改變而線性調(diào)整以確保消耗功率不變。
LED模擬測試功能
LED V/I曲線圖
用戶通過配置LED工作電壓，LED工作電流，LED內(nèi)阻系數(shù)三個參數(shù)即可模擬LED實(shí)際帶載波形，為LED電源測試提供了更真實(shí)，更準(zhǔn)確的測試依據(jù)。
動態(tài)測試功能
動態(tài)測試功能波形示意圖
動態(tài)測試功能可根據(jù)設(shè)定規(guī)則使負(fù)載在兩個設(shè)定參數(shù)（主值與瞬態(tài)值）間切換，適用于電源動態(tài)特性測試。頻率可達(dá)50kHz，支持連續(xù)、脈沖、翻轉(zhuǎn)、上升斜率、下降斜率、量程切換參數(shù)設(shè)置。
自動測試功能
自動測試功能單個文件可支持100步測試，每步測試可以設(shè)置帶載模式、帶載值、檢測項(xiàng)目、檢測項(xiàng)上/下限值、運(yùn)行時間。運(yùn)行時間可設(shè)置范圍為0.1S～86400S。該功能只需完成產(chǎn)品插拔，負(fù)載將自動進(jìn)行測試、判斷，測試完成后以PASS或FAIL形式體現(xiàn)。
序列功能
序列功能波形示意圖
序列功能允許用戶編輯10個序列測試文件，文件可鏈接，可重復(fù)運(yùn)行。每個測試文件支持20個測試步驟。每個測試步驟中，用戶可設(shè)置帶載模式、帶載主值、單步時間。單步時間可設(shè)置范圍為0.001S~86400S。
動態(tài)掃頻功能
動態(tài)掃頻功能示意圖
動態(tài)掃頻功能可手動或自動連續(xù)調(diào)節(jié)帶載頻率，頻率可達(dá)50kHz。該測試功能可捕獲到電源類待測物在情況下的（Vp+）、最?。╒p-）電壓峰值。
負(fù)載效應(yīng)測試功能
電源類產(chǎn)品在輸出載荷變化時會引起輸出穩(wěn)定量的變化稱之為負(fù)載效應(yīng).負(fù)載效應(yīng)測試功能為用戶提供多組帶載參數(shù)，穩(wěn)定時間設(shè)置。測試完成后直接提供負(fù)載調(diào)整率、電壓變化率以及電源直流內(nèi)阻結(jié)果。
紋波測試功能
負(fù)載支持電壓紋波Vpp、電流紋波（Ipp）測量，帶寬10Hz～250kHz。在測量帶寬范圍內(nèi)，紋波測量精度高，重復(fù)性好。紋波一般而言包括工頻紋波和開關(guān)紋波兩個不同頻率段，負(fù)載紋波測量結(jié)果為兩種紋波疊加的綜合結(jié)果。
應(yīng)用案例
多機(jī)系統(tǒng)集成應(yīng)用示意圖
用戶可通過LAN或RS485接口進(jìn)行多機(jī)集成，通過FT6110系統(tǒng)軟件可對負(fù)載系統(tǒng)進(jìn)行所有功能操作、波形顯示及數(shù)據(jù)保存等功能。該軟件系統(tǒng)操作簡便，功能強(qiáng)大，使用者可輕易上手。
