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Agilent 4286A RF LCR表提供**、可靠的測(cè)量,以便提高電子元器件或電路設(shè)計(jì)的質(zhì)量和
性能。與反射測(cè)量技術(shù)不同,Agilent 4286A使用直接的電流-電壓測(cè)量技術(shù),可在廣泛的
阻抗范圍內(nèi)提供更**的阻抗測(cè)量結(jié)果。而且,由于的校準(zhǔn)技術(shù)(典型的Q精度:6%
@ 100 MHz,Q=100),還可以極大地改進(jìn)Q測(cè)量。因此,通過在射頻范圍內(nèi)測(cè)量設(shè)備的真
實(shí)阻抗值,您將能夠顯著降低設(shè)計(jì)的不確定度。
主要技術(shù)指標(biāo)
1 MHz至1 GHz,10 kHz步進(jìn)
1%基本精度
高速測(cè)量:15ms
帶有APC-3.5測(cè)試頭的1 m/3 m電纜 .
LCR測(cè)試儀HP 4284A : 20 Hz到1 MHz
LCR測(cè)試儀HP 4285A : 75KHz-30MHz
LCR測(cè)試儀HP 4286A : 1MHZ~1GHZ
LCR測(cè)試儀HP 4287A : 1MHZ~3GHZ