FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD
FISCHERSCOPE®X-RAY XDV-SDD系列是Fischer的高級產(chǎn)品線之一。 它配備了具有高能量分辨率的硅漂移檢測器。 結(jié)合大口徑,XDV-SDD系列可實現(xiàn)出色的測量結(jié)果。 大型,易于接近的測量室使其既適用于組件上的fl的測量,也適用于幾何形狀復(fù)雜的大型樣品。
FISCHERSCOPE X-RAY XDV -SDD是Fischer強大的X射線設(shè)備之一。它的硅漂移檢測器對輕元素的X射線輻射很敏感。這允許非常低的檢測限以及與NiP,RoHS和非常薄(<0.05 µm)的薄膜有關(guān)的測量應(yīng)用。這就是XDV -SDD在研發(fā),實驗室和過程認(rèn)證設(shè)置中表現(xiàn)出色的原因。另外,它的易用性使其在生產(chǎn)控制中很重要。
NiP / Fe:P濃度和層厚 | 鈍化層:Cr / Zn / Fe |
特點:
● 配備了高性能的X射線管和大窗口的硅漂移探測器(SDD),能高精度地測量很薄的鍍層● 很耐用的設(shè)計結(jié)構(gòu),能以非常出色的長期穩(wěn)定性用于連續(xù)測量
● 可編程XY平臺和Z軸,用于自動化連續(xù)測量
● 擁有實時的視頻顯示和輔助激光點,使得樣品定位變得快速而簡便
應(yīng)用鍍層厚度測量? 測量非常薄鍍層,如電子和半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中厚度小于0.1um的Au和Pd鍍層 ? 測量汽車制造業(yè)中的硬質(zhì)涂層 ? 光伏產(chǎn)業(yè)中的鍍層厚度測量 | 材料分析? 電子、包裝和消費品中按照RoHS, WEEE, CPSIA等指令對有害物質(zhì)(如重金屬)進(jìn)行鑒別? 分析黃金和其他貴金屬及其合金 ? 測定功能性鍍層的組分,如NiP鍍層中的P含量 |