| Leeb 測量原理 – 由 Proceq 發(fā)明 | |
| Leeb 硬度原理基于動(dòng)態(tài)（回彈）法。帶堅(jiān)硬金屬壓頭的沖擊體由彈簧向檢測件表面推進(jìn)。當(dāng)沖擊體沖擊測試表面時(shí)，表面出現(xiàn)變形，從而導(dǎo)致動(dòng)能損耗。當(dāng)沖擊體在檢測的沖擊和反彈階段分別距離表面特定距離時(shí)，能量損失通過對(duì)比速度 vi 和 vr進(jìn)行檢測。 通過沖擊體中的磁鐵在準(zhǔn)確定位于沖擊裝置的繞組中產(chǎn)生感應(yīng)電壓來測量速度。檢測到的電壓與沖擊體的速度成正比。然后信號(hào)處理會(huì)給出硬度讀數(shù)。 |  |
| 優(yōu)勢 | ● 可使用完整的 Leeb 探頭包，并與 Portable Rockwell 和 UCI 相結(jié)合 ● 具有所有 Equotip 產(chǎn)品倍受肯定的高精度 ● 內(nèi)置強(qiáng)大的報(bào)告功能，隨時(shí)準(zhǔn)備好可用的數(shù)據(jù)資料 |  |
| 默認(rèn)單位 | HL | |
| 可用單位 | HB，HV，HRA，HRB，HRC，HS，MPA | |
| 可用探頭 | Leeb D / DC / DL / S / E / G / C | |
| 與其他方法相結(jié)合 | Portable Rockwell，UCI | |
| 平均粗糙度 Ra (µm / µinch) | 7 / 275 (Leeb G) | |
| *小質(zhì)量 (kg/lbs) | 0.02 / 0.045 (Leeb C) | |
| *小厚度 (mm/inch) | 1 / 0.04 (Leeb C) |
| 功能 | | 應(yīng)用 | ||
| 儀器固件 | ? 沖擊方向自動(dòng)修正 ? 個(gè)性化用戶資料和視圖 ? 集成至自動(dòng)測試環(huán)境中（包括遠(yuǎn)程控制） ? 支持 11 種語言和時(shí)區(qū) | | 標(biāo)準(zhǔn)到大對(duì)象 | √ |
| PC軟件 | Equotip Link 可提供直接報(bào)告和自定義報(bào)告 | | 圓形對(duì)象 | 與支撐環(huán)結(jié)合使用 |
| 顯示屏 | 7“帶雙核處理器的彩色堅(jiān)固的觸摸屏裝置（800×480像素） | | 輕薄對(duì)象（＜2Kg） | 帶有沖擊裝置 Leeb C |
| 內(nèi)存 | 內(nèi)置 8 GB 閃存（> 1000000 個(gè)測量值） | | 非常堅(jiān)硬的對(duì)象 | 帶有沖擊裝置 Leeb S 和 E |
| 連接 | USB 主機(jī)/設(shè)備和以太網(wǎng) | | 鑄件 | 帶有沖擊裝置 Leeb G 和 D |
| 測量范圍 | 150 – 950 HL | | 拋光的對(duì)象 | 帶有沖擊裝置 Leeb C |
| 測量精度 | ± 4 HL（800 HL 時(shí)為 0.5%） | | 不易接觸 | 帶有沖擊裝置 Leeb DC 和 DL |
 | | 細(xì)小對(duì)象（＜5mm） | x | |
| | 熱處理表面 | √ | ||
| | 其他應(yīng)用 | ● 適合物聯(lián)網(wǎng) (IoT) 和工業(yè) 4.0 環(huán)境 ● 法蘭, 發(fā)動(dòng)機(jī)組, 軸, 齒輪, 起落架, 紙卷檢測, 線圈, 鋼筋, 管道與熱處理 | ||
| 標(biāo)準(zhǔn)化 | |
標(biāo)準(zhǔn) | 準(zhǔn)則 |
| ● ASTM A 956 ● ASTM E 140 ● ASTM A 370 ● ISO 16859 ● DIN 50156 ● GB/T 17394 ● JB/T 9378 | ● ASME CRTD-91 ● DGZfP 準(zhǔn)則 MC 1 ● VDI / VDE 準(zhǔn)則 2616 文件 1 ● Nordtest 技術(shù)報(bào)告 424-1, 424-2, 424-3 |
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| 配件 | |
測量配件 | |
| ● Equotip Leeb 沖擊裝置 D (356 00 100) ● Equotip Leeb 沖擊裝置 E (356 00 400) ● Equotip Leeb 沖擊裝置 G (356 00 300) ● 適用于 D/DC/D+15/C/E/S 的支撐環(huán)組（12 件裝） (353 03 000) ● 電池組 (327 01 033) ● Equotip Leeb 沖擊裝置 S ● Equotip Leeb 沖擊裝置 DL ● 快速充電器（外置）(327 01 053) ● 特殊二合一套件: Equotip 550 Portable Rockwell & Leeb D 套件 (356 10 021), Equotip 550 Leeb D & UCI 套件 (356 10 022) |  |
驗(yàn)證工具 | |
| ● Equotip 測試塊 E，<810 HLE / ~63 HRC (357 14 400) ● Equotip 測試塊 G，~570 HLG / ~340 HB (357 32 300) ● Equotip 測試塊 D/DC，<775 HLD / ~56 HRC (357 13 100) ● Equotip 測試塊 D/DC，~775 HLD / ~56 HRC，Proceq 出廠 |
