| X'Pert PRO MRD and MRD XL | 成功的薄膜分析標(biāo)準(zhǔn) | 針對(duì)薄膜的研究和生產(chǎn)控制——大到4英寸（MRD）或200mm(MRDXL)的全晶片測(cè)試 ， 可用C-to-C晶片樣品架自動(dòng)完成 |
把X射線衍射和散射技術(shù)從研究實(shí)驗(yàn)室擴(kuò)展到日常使用及生產(chǎn)控制可以通過(guò)一系列的技術(shù)和軟件開(kāi)發(fā)來(lái)實(shí)現(xiàn)，比如帕納科的超快探測(cè)器。
• 帶有直接光學(xué)位置靈敏（Direct Optical Position Sensing）的測(cè)角儀，是為連續(xù)多年的性能而設(shè)計(jì)的。
• 與CERN和其它技術(shù)的探測(cè)器物理研究單位共同開(kāi)發(fā)的全固態(tài)X射線探測(cè)技術(shù)。
• PIXcel3D： 世界上的可以進(jìn)行0維、1維和3維測(cè)量的面探測(cè)器。
• 一套完整的藝術(shù)級(jí)的分析軟件包，為了使用簡(jiǎn)便而設(shè)計(jì)，有詳盡的文本和指南的支持。
• 遍布世界的XRD專家網(wǎng)絡(luò)，能夠回答您的任何應(yīng)用問(wèn)題。
