半導體推力測試儀是微電子和電子制造領(lǐng)域的重要儀器設備，它在測試精度、重復性、可靠性、操控性和外觀設計等方面，均達到高的水平。主要是用于微電子封裝和PCBA電子組裝制造及其失效分析領(lǐng)域的專用動態(tài)測試儀器。鍵合拉力測試儀LED芯片推力測試機

　　該設備廣泛應用于現(xiàn)代中、大功率變換器中的主流半導體開關(guān)器件，其動態(tài)特性決定裝置的開關(guān)損耗、功率密度、器件應力以及電磁兼容性，直接影響變換器的性能。因此準確測量功率開關(guān)元件的動態(tài)性能具有重要的實際意義。用于測試小型衛(wèi)星的推力系統(tǒng)。它可以測量有效推力、推力穩(wěn)定性和推力變化率等關(guān)鍵參數(shù)。鍵合拉力測試儀LED芯片推力測試機

產(chǎn)品優(yōu)勢：

1.采用測試工位自動模式，在軟件選擇測試工位后，系統(tǒng)自動到達對應工作位。

2.三個工作傳感器，采用獨立采集系統(tǒng)，保證測試精度。

3.每項傳感器采用獨立防碰撞及過力保護系統(tǒng)。

4.每項測試工位采用獨立安全限位及限速功能。

5.人性化的操作界面，人員操作方便。

6.高精度傳感系統(tǒng)結(jié)合力學算法，確保測試的精度。

產(chǎn)品特點：

1.采用精密動態(tài)傳感采集技術(shù)，確保測試數(shù)據(jù)精度的真實性。

2.采用進口傳動部件，確保機臺運行穩(wěn)定性及測試精度。

3.三工位自動旋轉(zhuǎn)切換，避免因人員誤操作帶來的設備損壞。

4.霍爾雙搖桿四向操作，讓操作簡單、方便。

5.匹配工廠MES系統(tǒng)。

6.測試數(shù)據(jù)實時保存與導出，方便快捷。

測試參數(shù)：

設備型號: LB-8500L

外形尺寸: 1500mm*1200mm*1650mm

設備重量: 約 800KG

電源供應: 110V/220V@5.0A 50/60Hz

氣壓供應: 4.5-6Bar

控制電腦: 聯(lián)想/惠普原裝 PC

電腦系統(tǒng): Windows7/Windows10 正版系統(tǒng)

顯微鏡: 標配三目連續(xù)變倍顯微鏡+高清 CCD 相機

傳感器更換方式: 手動更換（根據(jù)測試需要選擇相應的測試模組，軟件自動識別模組量程）

平臺治具: 360 度旋轉(zhuǎn)，平臺可共用各種測試治具

XY 軸絲桿有效行程: 500mm*300mm，測試力 100KG

XY軸移動速度: 采用霍爾搖桿對 XY 軸自由控制，移動速度為 10mm/S

XY 軸絲桿精度: 重復精度±5um 分辯率≤0.125 ；2mm 以內(nèi)精度±2um

Z 軸絲桿有效行程: 100mm 分辯率≤0.125um，測試力 20KG

Z 軸移動速度: 采用霍爾搖桿對 Z 軸自由控制，移動速度為 8mm/S

Z 軸絲桿精度: ±2um 剪切精度：2mm 以內(nèi)精度±1um

傳感器精度: 傳感器精度±0.003%；綜合測試精度±0.25%

設備治具: 根據(jù)樣品或圖紙按產(chǎn)品設計治具（出廠標配一套）

設備校正: 設備出廠標配相應校正治具及砝碼一套

質(zhì)量保證: 設備整機質(zhì)保 2 年，軟件升（人為損壞不含）