部份：系統(tǒng)組成整體概述
產(chǎn)品用途：冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要用于測(cè)試材料對(duì)溫或低溫的抵抗力，這種情況類似于不連續(xù)地處于高溫或低溫中的情形，冷熱沖擊試驗(yàn)?zāi)苁垢鞣N物品在zui短的時(shí)間內(nèi)完成測(cè)試
符合標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T2423.1-2008試驗(yàn)A 、GB/T2423.2-2008試驗(yàn)B、GB-T10592-2008、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗(yàn)的要求。
滿足的試驗(yàn)方法：GJB150.5-86 溫度沖擊試驗(yàn)，符合MIL，IEC，JIS規(guī)范。
第二部份：冷熱沖擊試驗(yàn)箱用途： 冷熱沖擊試驗(yàn)箱廣泛用于電子電器零元件、自動(dòng)化零部件、通訊元件、汽車 配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量,從精密的IC到重機(jī)械的元件，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。 第三部份：冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)： GB-2423.1-89（IEC68-2-1）試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法。 GB-2423.2-89（IEC68-2-2）試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法。 GJB360.8-87（MIL-STD-202F）高溫壽命試驗(yàn)。 GBJ150.3(MIL-STD-810D)高溫試驗(yàn)方法。 GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法。 GJB150.3-86； GJB150.4-86； GJB150.5-86；
注：由于公司產(chǎn)品在持續(xù)研發(fā)和升級(jí)過(guò)程中，故針對(duì)我司網(wǎng)上展示的相關(guān)產(chǎn)品和參數(shù)沒有及時(shí)更新的，詳細(xì)產(chǎn)品信息以我司業(yè)務(wù)部同事發(fā)送的產(chǎn)品和報(bào)價(jià)單的參數(shù)為準(zhǔn)， 恕不另行通知！
