大功率與高性能的組合
Veo相控陣超聲波探傷儀提升了Sonatest公司在創(chuàng)新技術(shù)產(chǎn)品研發(fā)領(lǐng)域的聲譽(yù)。Veo
操作簡(jiǎn)單、高性能、功能*。機(jī)殼帶有防滑條紋，技術(shù)人員可以用手指觸摸操作，
操作簡(jiǎn)單、易用、可靠。
超聲波相控陣技術(shù)已經(jīng)成為*無(wú)損檢測(cè)應(yīng)用的一種固定方法。相控陣技術(shù)允許使
用者控制例如聲束角度和焦距等參數(shù)，生成檢測(cè)部件的圖像，提高缺陷檢出能力并
提高了檢測(cè)速度。此外，*新的計(jì)算機(jī)技術(shù)可以處理并永遠(yuǎn)保存檢測(cè)記錄。Veo堅(jiān)
固的設(shè)計(jì)，直觀的用戶界面和廣泛的在線幫助功能給有相控陣基礎(chǔ)的技術(shù)人員帶來(lái)
了方便。典型應(yīng)用包括焊縫檢測(cè)、腐蝕檢測(cè)、宇航領(lǐng)域和復(fù)合檢測(cè)。
英國(guó)SONATEST超聲波相控陣探傷儀veo簡(jiǎn)單
采用直觀的菜單系統(tǒng)和工作驅(qū)動(dòng)流程，使設(shè)置和操作很快會(huì)變成習(xí)慣。有完整的幫
助菜單和向?qū)Р僮鳎瑫?huì)讓使用者通過(guò)掃描同時(shí)*優(yōu)化，確保veo永遠(yuǎn)處于*高水平。
*的3D掃描查看模式提供了正確設(shè)置，超聲波覆蓋情況可通過(guò)*直接的視覺(jué)確
認(rèn)，甚至在復(fù)雜的多探頭應(yīng)用中也可實(shí)現(xiàn)。
聲速、延遲、TCG、 DAC、TOFD的設(shè)置及編碼器校準(zhǔn)的快速高效向?qū)?，均作為?biāo)
準(zhǔn)提供。校準(zhǔn)狀態(tài)通過(guò)一個(gè)簡(jiǎn)單的轉(zhuǎn)換系統(tǒng)清晰的顯示在屏幕上，veo是否已校準(zhǔn)用
于檢測(cè)任務(wù)，操作者可一目了然。
菜單切換采用了Sonatest的第二代卷軸式導(dǎo)航技術(shù)，可快速的進(jìn)行參數(shù)設(shè)置，大多
數(shù)使用功能和文字?jǐn)?shù)字輸入均有快捷鍵。常用的開(kāi)始、停止和記錄鍵可在設(shè)置、采
集和記錄模式中快速切換
英國(guó)SONATEST超聲波相控陣探傷儀veo易用
強(qiáng)大的veo平臺(tái)使便攜式儀器提升到了一個(gè)新的水平，幫助您在現(xiàn)場(chǎng)將效率達(dá)到*
高。探頭在工件上所處的位置信息可以2D和3D模式顯示，使檢測(cè)設(shè)置簡(jiǎn)單化并提
供一個(gè)檢測(cè)報(bào)告參考。所有聚焦規(guī)則的調(diào)整都是實(shí)時(shí)的，角度分辨率可達(dá)0.1°,
1024聚焦規(guī)則不丟失性能。不同探頭的多重掃描可以同時(shí)顯示和評(píng)價(jià)。Veo支持
多重扇形掃描、頂部、邊部和端視圖選取C掃描。TOFD和相控陣檢測(cè)可以在全速
掃描下一前一后進(jìn)行，高達(dá)2G的數(shù)據(jù)文件可更高效的進(jìn)行大面積檢測(cè)。全波數(shù)據(jù)
可直接保存在U盤中方便備份和傳輸至PC機(jī)。
Veo有兩個(gè)專用通道用于常規(guī)的超聲波檢測(cè)?；赟onatest公司的Masterscan系
列超聲波探傷儀，該通道有400V脈沖發(fā)生器，時(shí)間校正增益和低噪聲放大器，適
用于大多數(shù)苛刻的應(yīng)用。
出色的硬件指標(biāo)通過(guò)全16位高速結(jié)構(gòu)和12位ADC技術(shù)基于濾波和提高圖像解析
度進(jìn)行實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)數(shù)字信號(hào)處理，為使用者提供了高質(zhì)量的超聲波數(shù)據(jù)。
測(cè)量和尺寸指示可以通過(guò)例如TOFD雙曲線指針和2D曲線峰值信號(hào)測(cè)量等*測(cè)
量工具的使用來(lái)快速完成?？梢钥焖僭诒緳C(jī)上生成報(bào)告，并以PDF格式保存到U
盤上。
對(duì)任何探傷儀來(lái)說(shuō)顯示部分都是一個(gè)重要的部件。Sonatest veo 配有彩色 TFT 液
晶顯示屏，在任何條件下都具有高可見(jiàn)度，在任何檢測(cè)狀態(tài)下都具有*高的顯示
尺寸比率。
英國(guó)SONATEST超聲波相控陣探傷儀veo可靠
耐用和經(jīng)得起考驗(yàn)的可靠性是使用NDT設(shè)備的基本要求。故障停機(jī)的損
失是高昂的，應(yīng)將其*小化，以確保*高的生產(chǎn)效率。Sonatest憑借產(chǎn)
品的防滑結(jié)構(gòu)和高質(zhì)量產(chǎn)品的良好聲譽(yù)已為工業(yè)領(lǐng)域服務(wù)超過(guò)50年。
Veo的設(shè)計(jì)在強(qiáng)度、防震、內(nèi)部框架等方面都滿足了苛刻的標(biāo)準(zhǔn)，裝有
碰撞緩沖框架，達(dá)到IP65密封標(biāo)準(zhǔn)。設(shè)計(jì)集成了很多功能，使現(xiàn)場(chǎng)工作
更加方便，veo可以用標(biāo)準(zhǔn)的相機(jī)支架在下方固定，在背面有四個(gè)支撐
點(diǎn)可用于三角架和其他裝備附件。此外，veo配有四個(gè)D型環(huán)和四點(diǎn)肩
背帶，使操作者易于移動(dòng)并可以將雙手解放用于掃描。Veo采用熱插拔
雙電池設(shè)計(jì)，可以節(jié)省時(shí)間并提高實(shí)戰(zhàn)可靠性。
UT Studio
UT Studio是基于計(jì)算機(jī)的相控陣分析和生成報(bào)告的軟件包。記錄的veo
數(shù)據(jù)文件可以很容易的通過(guò)U盤傳輸，并用于生成新的視窗和影像。采
用常見(jiàn)的窗口拖拽界面，使用者可以簡(jiǎn)單的將veo數(shù)據(jù)文件拖拽到顯示
模板中以創(chuàng)建多個(gè)視窗，例如頂部、尾部和B掃描等。
強(qiáng)大的測(cè)量指針和抽取器用于識(shí)別軌跡、尺寸和標(biāo)注缺陷。容易生成報(bào)
告，并以 PDF 格式輸出。
技術(shù)參數(shù)（技術(shù)參數(shù)更改恕不另行通知） 相控陣 脈沖發(fā)生器 常規(guī)的和相控陣 DAC 配置 16:64 (16 脈沖發(fā)生/接收器，上升至 64 元素) 點(diǎn)數(shù) 16 檢測(cè)模式 脈沖回波 和 發(fā)射/接收 DAC 數(shù)量 1 帶3個(gè)附屬DAC（相控陣的每個(gè)焦點(diǎn)規(guī)則） 探頭插座 I-PEX 時(shí)間校正增益 (TCG) 脈沖電壓 -50v 到-150v （10V 步進(jìn)） 點(diǎn)數(shù) 16 脈沖形狀 負(fù)方波（帶 ActiveEdge） 增益范圍 0-60 dB 脈沖寬度 10ns 至 500ns *大增益斜度 >50 dB/µs 邊緣時(shí)間 10 m *大脈沖重復(fù)頻率 20 kHz 顯示 焦點(diǎn)的數(shù)量 可達(dá) 1024 尺寸 25.9 cm (10.2 in) 寬屏 聚焦類型 恒定深度、恒定聲束路徑、恒定偏移量 分辨率 1024 x 600 像素 處理 平滑、平均、比例縮放、保持*大 顏色 260k (65535色掃描調(diào)色板) 濾波器 多重窄頻帶和寬頻帶 類型 TFT LCD 二次采樣 1:1 至 1:128 I/O 接口 檢波 射頻、全波、正半波、負(fù)半波 USB 接口 3 x USB 有證書(shū)接口(480 M) 同步 參考始脈沖或閘門，支持 IFT 以太網(wǎng) Gbit 以太網(wǎng) (1000 M) 多重組合 多重扇形掃描和 TOFD 掃描 視頻輸出 VGA 模擬 (1024 x 600) I/O 掃描與顯示 編碼器 1 或 2 軸正交編碼器 (LEMO 接頭) 支持的掃描 S-掃描 和 L-掃描 單極限和差分輸入 實(shí)時(shí)顯示 S，L，B，C-掃描，頂視圖和端視圖 數(shù)字輸入/輸出 2 個(gè)輸入線(5V TTL) 用于出發(fā)或同步 顏色表 彩虹色、灰度表、光譜色 (常規(guī)和 PA 模式之前共享) 指針 4 個(gè)輸出線(5V TTL, 20 mA) for alarm or 類型 笛卡爾坐標(biāo)、2D 盒、角型 other external control 測(cè)量 聲程長(zhǎng)度、深度、表面距離、角度 (常規(guī)和 PA 模式之前共享) 2D 盒峰值 和 角型盒 8 針 LEMO 插口 常規(guī)超聲波檢測(cè) / TOFD(單殼體晶片通道) 脈沖發(fā)生器 輸出功率 5 V, 500 mA, 電流極限 通道數(shù) 2 個(gè) 發(fā)射/接收（2 個(gè)多元通道） 2 個(gè) 接收 完整的幫助 激活的參數(shù)描述和優(yōu)化提示 檢測(cè)模式 脈沖反射法，發(fā)射/接收，TOFD 語(yǔ)言 6 種語(yǔ)言可選：英語(yǔ)、德語(yǔ)、法語(yǔ)、西班牙語(yǔ)、俄語(yǔ)、中文 探頭插座 BNC 或 LEMO 1 (生產(chǎn)廠選擇) 脈沖電壓 -400v（從-100 到-400V 可調(diào)，步進(jìn) 10V） 電池和電源 脈沖波形 負(fù)方波（帶 ActiveEdge） 電池 智能鋰電池組 脈沖寬度 25 ns 到 2000 ns 可調(diào), 分辨率 2.5 ns 電池?cái)?shù)量 2 邊緣時(shí)間 <20 ns 在 50 歐姆載荷下 操作 1 塊或 2 塊電池， 直流電源包 輸出阻抗 <10 歐姆 電池更換 熱插拔，不需要工具 接收器 電池充電 電池在主機(jī)上充電，操作和不操作是均可以充電 增益范圍 110 dB (-30 dB 到 80 dB) 電池連續(xù)工作時(shí)間 6+小時(shí)（典型操作） 輸入阻抗 400 歐姆 濾波器帶寬 窄頻帶：中心頻率 0.5 MHz,1MHz,2.25 MHz, 外殼 5MHz,10 MHz 和 15 MHz 尺寸 220 mm 高 x 335 mm 寬 x 115 mm 厚 寬頻帶：1 MHz 到18 MHz (-6dB) 重量 5.28 kg 1 塊電池 / 5.75 kg 2 塊電池 數(shù)據(jù)采集 環(huán)境 采樣率 50/100/200 MSPS 溫度 操作：-10 ℃ 至 40 ℃ ADC 分辨率 10 位/采樣 儲(chǔ)存：-25 ℃ 至 70 ℃ 數(shù)據(jù)采樣寬度 16 位/采樣 相對(duì)濕度 5 至 95% 不凝結(jié) 數(shù)據(jù)記錄 記錄全部原始數(shù)據(jù) 密封條件 符合IP65標(biāo)準(zhǔn) *大 A 掃描長(zhǎng)度 8192 采樣 保修 一年 *大脈沖重復(fù)頻率 12 kHz 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn) EN12668 處理 平滑、濾波、保持*大值 二次采樣 1:1 至 1:128 支持的檢測(cè)代碼 檢波 射頻、全波、正半波、負(fù)半波 其他相應(yīng)代碼也符合 同步 外部數(shù)字輸入、編碼器或內(nèi)部 掃描與顯示 • ASME 代碼 2235-9 對(duì)承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭使用超聲波檢測(cè) 支持的掃描 A-掃描 • ASME 代碼 2541 使用手工相控陣超聲波檢測(cè) 第 V 節(jié) ASME 實(shí)時(shí)顯示 A ,B-掃描 TOFD • ASTM E2491 相控陣超聲波檢測(cè)儀器和系統(tǒng)的性能評(píng)價(jià)特征標(biāo)準(zhǔn)指南 指針 • ASTM E2700 用相控陣超聲波接觸法檢測(cè)焊縫的通常練習(xí) 類型 笛卡爾坐標(biāo)、雙曲線 • CEN EN 583-6 - 無(wú)損檢測(cè)-超聲波檢測(cè)-第 6 部分-TOFD 缺陷檢測(cè)和測(cè)量方法 測(cè)量 聲程長(zhǎng)度、深度、表面距離 • BSI BS7706- 用超聲波 TOFD 技術(shù)發(fā)現(xiàn)、定位和測(cè)量缺陷的設(shè)置和校準(zhǔn)指南
