德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司MiniTest 2500/4500涂層測(cè)厚儀為
MiniTest1100-4100系列的升級(jí)產(chǎn)品，為涂層測(cè)量領(lǐng)域的廣泛任務(wù)提供了多種探頭、不同的校準(zhǔn)方法和評(píng)估選項(xiàng)。
MiniTest 2500/4500涂層測(cè)厚儀具有IP65防護(hù)等級(jí)，
人機(jī)工程學(xué)設(shè)計(jì)，高對(duì)比度顯示屏和背光鍵盤，以及其他有用的功能。
可存儲(chǔ)多達(dá)200萬(wàn)個(gè)測(cè)量值，通過(guò)USB接口向計(jì)算機(jī)傳輸數(shù)據(jù)。MiniTest4500還提供藍(lán)牙連接。
MiniTest1100-4100系列的探頭都兼容于MiniTest2500/4500
- 鋼上的非磁性涂層厚度范圍可達(dá)0~50 mm
- 用于有色金屬上的絕緣涂層厚度范圍可達(dá)0~100 mm
- 耐高溫探頭，溫度高達(dá)250°C和350°C
- 測(cè)量細(xì)管內(nèi)壁的直角加長(zhǎng)桿探頭
- 所有探頭都配有耐磨表面，確保使用壽命。
MiniTest 2500/4500涂層測(cè)厚儀功能
| MiniTest2500 | MiniTest4500 | |
| 可存儲(chǔ)的讀數(shù)總數(shù) *大批組數(shù)量 具有獨(dú)立校準(zhǔn)值的應(yīng)用程序存儲(chǔ)數(shù)量 具有相同校準(zhǔn)值的批組每個(gè)應(yīng)用程序存儲(chǔ)的批組數(shù)量 | 2000000 1 - - | 2000000 超過(guò)9500 99 99 |
| 統(tǒng)計(jì)功能(每批組) | kvar, n, max., min. | kvar, n, max., min., CP, CPK |
| 校準(zhǔn) | - | 如果無(wú)基材使用，則通過(guò)涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC) |
| 補(bǔ)償功能 | - | 用于從讀數(shù)中加/減一個(gè)恒定值 |
| 極限設(shè)置(用戶自定義) | - | 超出限制時(shí)的光信號(hào)和聲音信號(hào)報(bào)警 |
| 測(cè)量單位 | μm, mm, cm, mils, inch | |
| 接口 可升級(jí)接口 | USB | USB和藍(lán)牙 4.0 |
| - | 報(bào)警輸出，腳踏開(kāi)關(guān)觸發(fā)，RS 232接口 | |
| 電源/每次更換電池的工作時(shí)間 | 3 x AA (LR06) 電池和USB/大約為150小時(shí)(不使用背光) | |
| 規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn) | DIN EN ISO1461, 2064, 2178, 2360, 2808, 3882；ISO 19840； ASTM B244,B499, D7091, E376 | |
| 顯示 | 53 x 46 mm，帶背光 | |
| 操作溫度/存儲(chǔ)溫度 | 10 ~60°C / –20 ~ 70°C | |
| 尺寸/重量 | 53mm x 89mm x 36mm/ 320g(儀器包括電池)，橡膠保護(hù)套90g | |
| 防護(hù)等級(jí) | IP 65 | |
可選探頭
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇*適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
| 探頭 | 量程 | 低端 分辨率 | 誤差 | *小曲率 半徑(凸/凹) | *小測(cè)量 區(qū)域直徑 | *小基 體厚度 |
| F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±(1%+0.7μm) | 0.75/5mm | 3mm | 0.1mm |
| F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±(1%+1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm |
| F10 | 0-10mm | 5μm | ±(1%+10μm) | 5/16mm | 20mm | 1mm |
| F20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%+20μm) | 10/30mm | 40mm | 2mm |
| F50 | 0-50mm | 10μm | ±(3%+50μm) | 50/200mm | 300mm | 2mm |
| N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±(1%+0.5μm) | 1/5mm | 2mm | 50μm |
| N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 2.5mm | 2mm | 100μm |
| N10 | 0-10mm | 10μm | ±(1%+25μm) | 25/100mm | 50mm | 50μm |
| N20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%+50μm) | 25/100mm | 70mm | 50μm |
| N100 | 0-100mm | 100μm | ±(1%+0.3mm) | 100mm/平面 | 200mm | 50μm |
| FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F：0.5mm/N：50μm |
| FN1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 平面/6mm | 5mm | F：0.5mm/N：50μm |
| F2HT | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%+1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm |
| 注： | F型探頭：測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層 N型探頭：測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層 FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能 FN1.6/90為直角探頭，用于管內(nèi)測(cè)量 N.08Cr用于測(cè)量銅上鍍鉻。 F2HT為高溫探頭，有兩款，允許在高達(dá)250°C或350° C表面溫度的熱表面上進(jìn)行涂層厚度測(cè)量 |
