超聲檢測(cè) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
衍射時(shí)差檢測(cè) 衍射時(shí)差法(TOFD)是一種使用兩個(gè)探頭以一發(fā)一收模式進(jìn)行檢測(cè)的技術(shù)。TOFD探測(cè)并記錄來(lái)自缺陷端部的衍射信號(hào),從而進(jìn)行缺陷探測(cè)和缺陷定量。TOFD數(shù)據(jù)顯示在灰度圖象B掃描視圖中。TOFD檢測(cè)方法符合ASME?2235規(guī)范,覆蓋范圍寬,且對(duì)缺陷進(jìn)行定量時(shí)無(wú)需考慮波幅。
盡管TOFD是一種非常強(qiáng)大有效的檢測(cè)技術(shù),但由于兩個(gè)檢測(cè)盲區(qū)的存在,其覆蓋范圍又有局限性。兩個(gè)盲區(qū)的位置在近表面和底面。 OmniScan® UT的檢測(cè)可同時(shí)使用TOFD與常規(guī)脈沖回波方法。脈沖回波法可以覆蓋盲區(qū),從而彌補(bǔ)了TOFD的不足之處。
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超聲軟件 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
全功能C掃描
所有的校準(zhǔn)過(guò)程均根據(jù)逐步向?qū)нM(jìn)行。
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超聲模塊技術(shù)規(guī)格 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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?單軸編碼B掃描檢測(cè) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
介紹OmniScan雙通道UT B掃描腐蝕成像成套功能。 該成套功能包括OmniScan MX UT、手動(dòng)遠(yuǎn)程掃查B掃描位置編碼器、TomoView Lite軟件、雙晶UT探頭。該成套功能可滿足B掃描檢測(cè)的需要:在鋼鐵結(jié)構(gòu)、平板、管道等材料上進(jìn)行抽點(diǎn)檢測(cè)和單線掃查。
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