| CT200涂層測厚儀-精度（1%H+1um)覆層測厚儀 CT200涂層測厚儀功能特點： 1.采用碼值穩(wěn)定的AD測量方法，淘汰頻率不穩(wěn)的振蕩電路法，使F1.5示值誤差達(dá)到1%H+1 um，高于目前覆層測厚儀普遍的3%H+1 um示值誤差； 2.采用精密檢波電路，50um以下測量值更加穩(wěn)定準(zhǔn)確 3.采用數(shù)字技術(shù)，有效減小現(xiàn)場電磁干擾對測值影響。 4.磁性測厚方法(配F型測頭),可無損地測量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)。 5.磁性測厚方法可配F1.5,F3.5,F10多種探頭。探頭采用紅寶石耐磨設(shè)計，淘汰鍍鉻設(shè)計，延長探頭使用壽命，保持長期使用測量精度。 6.可定制測量范圍從200um到20mm的各種異型F傳感器。 7.渦流測厚方法，配N型測頭測量非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。 8.渦流測厚方法可配N1.5,N3.5探頭,可定制測量范圍從200um到20mm的各種異型N傳感器。 9.具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式和單次測量方式 10.具有存貯功能：可同時存貯測量值和測試時間信息 11.操作過程有蜂鳴聲提示 12.設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式：手動關(guān)機(jī)方式和自動關(guān)機(jī)方式 13.高亮LED背光顯示，顯示更清晰 14.探頭前端保護(hù)套可拆除，適應(yīng)小尺寸空間測量  CT200涂層測厚儀技術(shù)參數(shù)：
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