型號：GH/JXD-B
1．北京觀察顯微鏡長度測量。如測量孔距、基面距離、刻線距離、刻線寬度以及通孔外圓的直徑等。
2．讀數(shù)顯微鏡 JXB-D 可在不同方向上測量，擴大了顯微鏡使用范圍。
3．可判別礦石標本，檢查印刷照像底板。由于測量架能脫開底座，可固定在機床上直接對加工零件進行檢查。所以該儀器廣泛應用作觀察顯微鏡在機械、冶金、光學、科研等單位的檢查室、實驗室和車間
北京觀察顯微鏡技術參數(shù)：
| 型號 | JXD-B | JXD-250A | |
| 鏡筒 | 單目 | ||
| 目鏡 | 10(帶十字分化，焦距25) | ||
| 物鏡 | 3X | 工作距離：47.48 | |
| 視場直徑: 6.3 | |||
| 焦 距：36.34 | |||
| 8X（選購） | 工作距離：9.49 | ||
| 視場直徑: 2.2 | |||
| 焦 距：19.8 | |||
| 總放大倍數(shù) | 30 （標配） 80（選購） | ||
| 測量范圍 | 0-50MM | 0-250MM | |
| 測微鼓輪值 | 0.01MM | ||
| 測量精度 | 0．015MM | ||
| 光源 | 無(可選購) | ||
| 測量臺與物鏡間zui大距離 | 3X不小于150MM/8X不小于130MM | ||
選購件：CCD適配鏡II型，CCD適配鏡III型，
數(shù)碼攝像頭30萬，130萬，300萬等
數(shù)碼相機拍照系統(tǒng)
顯微圖像處理軟件（測量軟件）
顆粒分析軟件等
1．長度測量。如測量孔距、基面距離、刻線距離、刻線寬度以及通孔外圓的直徑等。
2．讀數(shù)顯微鏡 JXB-D 可在不同方向上測量，擴大了顯微鏡使用范圍。
3．可判別礦石標本，檢查印刷照像底板。由于測量架能脫開底座，可固定在機床上直接對加工零件進行檢查。所以該儀器廣泛應用作觀察顯微鏡在機械、冶金、光學、科研等單位的檢查室、實驗室和車間
技術參數(shù)：
| 型號 | JXD-B | JXD-250A | |
| 鏡筒 | 單目 | ||
| 目鏡 | 10(帶十字分化，焦距25) | ||
| 物鏡 | 3X | 工作距離：47.48 | |
| 視場直徑: 6.3 | |||
| 焦 距：36.34 | |||
| 8X（選購） | 工作距離：9.49 | ||
| 視場直徑: 2.2 | |||
| 焦 距：19.8 | |||
| 總放大倍數(shù) | 30 （標配） 80（選購） | ||
| 測量范圍 | 0-50MM | 0-250MM | |
| 測微鼓輪值 | 0.01MM | ||
| 測量精度 | 0．015MM | ||
| 光源 | 無(可選購) | ||
| 測量臺與物鏡間zui大距離 | 3X不小于150MM/8X不小于130MM | ||
選購件：CCD適配鏡II型，CCD適配鏡III型，
數(shù)碼攝像頭30萬，130萬，300萬等
數(shù)碼相機拍照系統(tǒng)
顯微圖像處理軟件（測量軟件）
顆粒分析軟件等
