薄膜测厚仪
主要特点
接触式测量原理
德国测厚传感器
工业 TFT 屏，触摸屏操作
零导航深度的扁平化界面 UI，操作更加方便快捷
真彩色液晶显示试验数据、结果
手动、循环、预约定时多种测量模式
自动进样，支持左右双向进样
测试过程全自动完成
内嵌最*值、最小值、平均值、标准差数据统计分析功能
本机内置历史数据查询功能
配置微型打印机，可自动打印单次、统计报告
配置标准通信接口
可支持 DSM 实验室数据管理系统，实现数据统一管理（选购）
技术指标
测量范围：0～2mm（标配） 0～10mm（可选）
分 辨 率：0.1μm
测量速度：1~25 次/min（可调）
测 量 头：薄膜：50mm2，17.5±1kPa（标配）
纸张：200mm2，50±1kPa（可选）
进样步距：0.1mm~1500mm
进样速度：0.1mm/s~150mm/s
电 源：AC 220V 50Hz
进样装置尺寸：287 mm (L)×180 mm (B)×210 mm (H)
主机外形尺寸：330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)
进样装置净重：11kg
主机净重：38kg
薄膜测厚仪
产品配置
标准配置：主机、自动进样装置、薄膜测量头、微型打印机、标准量块一件
选 购 件：纸张测量头、配套软件、通信电缆、标准量块、DSM 实验室数据管理系统
注：产品技术规格如有变更，恕不另行通知，SYSTESTER 思克保留修改权与最终解释权！
执行标准 GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、 ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、 BS 4817
