功能特點(diǎn)

A.絕緣崩潰檢測

常規(guī)測試耐壓，如圖A-1所示，只是設(shè)定了上升時(shí)間和測試電壓值，如果在測試時(shí)間內(nèi)，被測件出現(xiàn)擊穿現(xiàn)象，則判斷耐壓不良，直接切斷測試電壓。因此，常規(guī)耐壓檢測僅能判斷在電壓下耐壓是否合格。

但是有些被動(dòng)組件或者材料，需要檢測其高壓耐受程度，并得出準(zhǔn)確的崩潰電壓值，那么常規(guī)的耐壓檢測方法就無能為力了。因此TH9120A/TH9120D增加了崩潰電壓檢測功能，如圖A-2所示，崩潰電壓測試功能是根據(jù)設(shè)定爬升的起始電壓、截止電壓、電壓步進(jìn)及時(shí)間間隔，逐漸對(duì)被測件進(jìn)行測量，當(dāng)被測件出現(xiàn)耐壓絕緣不良的現(xiàn)象后，自動(dòng)保存此時(shí)的電壓值即為崩潰電壓。

如果電壓值爬升到截止電壓，被測件仍未出現(xiàn)崩潰現(xiàn)象，則可以重新設(shè)置截止電壓等，進(jìn)行進(jìn)一步分析，直至得到正確的崩潰電壓值。崩潰電壓測試模式，可以對(duì)被測件進(jìn)行分析，準(zhǔn)確獲知產(chǎn)生絕緣不良的耐壓程度，研究人員由此可針對(duì)組件絕緣較弱的部份進(jìn)行改善。

B. 耐壓絕緣測試和電弧偵測(ARC)

耐壓不良是指在耐壓測試中有電氣閃絡(luò)或絕緣破壞發(fā)生?，F(xiàn)在耐壓絕緣測試已經(jīng)成為各類電器設(shè)備和絕緣材料安全測試的標(biāo)準(zhǔn)配備。但是,僅僅考慮到絕緣失效并不能解決產(chǎn)品安全問題,另一類現(xiàn)象,電弧放電ARC在耐壓測試中越來越得到重視,放電與絕緣能力之間具有的相關(guān)性，所以ARC偵測是控制產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵。

以下兩種情況會(huì)出現(xiàn)電弧放電現(xiàn)象：

a) 當(dāng)材料承受較高電壓，電場強(qiáng)度大于氣體的電離能時(shí)，會(huì)讓材料表面氣體發(fā)生瞬時(shí)電離現(xiàn)象，此時(shí)會(huì)在材料表面形成打火并對(duì)材料形成溫升現(xiàn)象。長期的打火和溫升可能會(huì)造成材料的質(zhì)變，進(jìn)而導(dǎo)致絕緣劣化，使得電壓耐受程度下降，最終發(fā)生絕緣失效。

b) 被測件檢測點(diǎn)間距過小時(shí),在被測件兩端施加較高電壓，檢測點(diǎn)兩端空間里的空氣會(huì)被電離，形成打火現(xiàn)象，也就是拉弧現(xiàn)象。拉弧現(xiàn)象產(chǎn)生高頻的瞬時(shí)放電，在測試過程中產(chǎn)生了一個(gè)高頻電流信號(hào)如圖，電弧偵測（ARC）功能是用高頻電量量測的方式偵測，判斷出材料絕緣性能是否有不良。

C. 開短路偵測功能（僅TH9120A）

在耐壓測試過程中由于被測件與測試線接觸不良、測試線損壞等，會(huì)發(fā)生開路現(xiàn)象，導(dǎo)致不良品誤判為良品；被測件損壞或者被測端間距太小導(dǎo)致測試線短路現(xiàn)象，使用OCS功能，儀器可預(yù)先偵知測試端開短路情況，減少對(duì)治具設(shè)備的傷害，節(jié)省測試成本。

一般耐壓測試產(chǎn)品皆呈電容性(CDUT)，在正常狀態(tài)下可能在數(shù)十pF至數(shù)μF之間。開路時(shí)可等效為串聯(lián)一個(gè)低于10pF的小電容COPEN，使總?cè)萘窟h(yuǎn)低于正常產(chǎn)品。短路時(shí)電容量遠(yuǎn)大于正常容量。因此可利用電容量變化之上下限值判斷，減少產(chǎn)線接觸不良的問題發(fā)生。

D. 引腳檢測（接觸檢查功能）

對(duì)于產(chǎn)線測試時(shí)的接觸檢查問題，除OSC功能外，還增加了引腳檢測功能（圖D），確保被測件與測試線連接可靠，提升測試可靠度與效率。

E. 后面板輸出功能

可在儀器后面板輸出高壓(圖E)，自動(dòng)化測試或系統(tǒng)集成接線更美觀，更方便。