AZtecWave采用全聚焦波譜儀，具有羅蘭圓幾何結(jié)構(gòu)和彎曲晶體
- 更高的峰背比意味著多數(shù)元素的檢測限值通常低于100ppm
- 電動入射狹縫優(yōu)化了每個X射線的分辨率和峰背比
- 對更大能量范圍的線系進行優(yōu)化，可使用更高的線系進行準確定量分析
- 雙計數(shù)器串聯(lián)使用，Ar-CH4優(yōu)化輕元素，Xe用于優(yōu)化高能線系收集
- 傾斜幾何結(jié)構(gòu)實現(xiàn)快速分析，可重復性高及樣品定位更容易
- 光譜儀迷你視圖和模擬圖實時顯示光譜儀的位置和設(shè)置
- 出色的能量分辨率可解析高密度的X射線譜線，輕松解決各種挑戰(zhàn)性的問題
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- SiKa <2eV
- FeKa <25eV
羅蘭圓幾何
波譜儀在掃描電鏡上使用了羅蘭圓的幾何設(shè)計。即樣品、衍射晶體和計數(shù)器必須都位于羅蘭圓上。
- 樣品與晶體，計數(shù)器與晶體之間的距離必須相同
- 使用彎曲和研磨后的晶體以獲得高分辨率
- 對于高能量線系的分析，無需嚴格的光路要求、緩慢的機械對中或傳輸損耗
- Wave的幾何結(jié)構(gòu)適用所有能量的線系，在掃描電鏡上提供真實波譜儀能量分辨率
- 對所有能量的X射線線系進行優(yōu)化，使其一直可用于分析
- 所有常見重疊元素線系均可區(qū)分，包括過渡金屬K線
- 使用低束流在更短時間內(nèi)獲得盡可能低的檢測限
