Dimension FastScan® 原子力顯微鏡 （AFM） 系統(tǒng)經(jīng)過專門設(shè)計，在不降低分辨率、不失去力控制、不增加設(shè)備復(fù)雜性，不帶來繁瑣操作的前提下，即可實現(xiàn)快速掃描。使用 FastScan，您可以即時快速地獲得 AFM 圖像，實現(xiàn)高性能 AFM 的預(yù)期高分辨率。無論您是以 >125Hz 掃描樣品表面尋找查找感興趣的區(qū)域時，或是在氣相或流體中以每秒 1 秒的速率采集AFM圖像，都能用FastScan得到優(yōu)異的高分辨圖像。Dimension FastScan這一變革性技術(shù)重新定義了 AFM 儀器的使用體驗。
高速、高分辨率原子力顯微鏡的
Dimension FastScan 是個也是一個高速針尖掃描原子力顯微鏡系統(tǒng)。Dimension FastScan 能在各種尺寸的樣品上實現(xiàn)高達每秒一幀的掃描速率，而不犧牲分辨率或任何儀器性能。結(jié)合 峰值力®輕敲模式，Dimension FastScan 使用線性控制回路實現(xiàn)了實時的力測量，從而在各種剛度的樣品表面上，無論是堅硬平滑的晶體表面還是柔軟粗糙的聚合物表面上，都能獲得高分辨的形貌及力學(xué)性能。
的生產(chǎn)力
Dimension FastScan 的每個方面（包括開放的大樣品臺設(shè)計和預(yù)先優(yōu)化的軟件設(shè)置）都經(jīng)過專門設(shè)計，實現(xiàn)極其簡易的操作。快速找尋樣品、快速進針、快速掃描、低噪音、極低的漂移速率（低至200 pm每分鐘）、擴展性的直觀用戶界面，再與的 Dimension 大樣品臺相結(jié)合，Dimension FastScan為操作者提供了全新的AFM使用體驗，更快地得到可供發(fā)表的數(shù)據(jù)。無須經(jīng)過繁復(fù)的調(diào)整和優(yōu)化，Dimension FastScan的 用戶可以立即獲得高質(zhì)量的結(jié)果。
用AFM拓展您的應(yīng)用
憑借一整套出色的AFM成像模式，布魯克能為您每項研究提供適用的 AFM 技術(shù)。
基于核心成像模式（接觸模式和輕敲模式），布魯克提供的全套 AFM測試模式，允許用戶探測樣品的電學(xué)、磁性等豐富性能。布魯克的全新的峰值力輕敲技術(shù)作為一種新的核心成像模式，已被應(yīng)用到多種測量模式中，能同時提供形貌、電學(xué)和力學(xué)性能數(shù)據(jù)。
