產(chǎn)品介紹：
由于集成電路集成度以及時鐘速率的不斷提高，PCB板上存在大量雜散場和雜散電流，并以磁場形式相互耦合，導(dǎo)致產(chǎn)生GHz以上級別的輻射騷擾。由于PCB板上大量安裝高密度SMD器件，只有使用高分辨率探頭，才能真正找出電磁干擾的問題所在。
OI-IC系列無源近場探頭如果安裝在OI-EAS系列EMI掃描儀上，配套相應(yīng)自動測試軟件和干擾接收機(jī)，可實(shí)現(xiàn)對PCB板上布線、元器件或IC引腳的電磁泄漏場的自動掃描測試。
在任何PCB板上，很少存在純粹的電場或磁場輻射。分別使用電場和磁場兩種探頭，來了解騷擾的本質(zhì)，并確定導(dǎo)致該問題的根本原因，這些對于排查騷擾十分重要。一般情況下，磁場泄露是由于PCB板走線、線纜等導(dǎo)致的，而電場泄露則是由相鄰走線和信號平面之間的電壓差造成的。不同信號路徑設(shè)計將會導(dǎo)致不同區(qū)域內(nèi)不同類型電場或磁場占主導(dǎo)地位；因此，同時具備觀測以上兩個方面場的分析功能，能夠在測量分析過程中帶來更多的靈活性。
根據(jù)近場探頭探測場強(qiáng)量的不同，OI-IC系列近場探頭分為電場探頭（OI-ICE40）和磁場探頭（OI-ICH40）。
OI-ICE40是一款頻率高達(dá)40GHz，用于測量電場強(qiáng)度的無源近場探頭。測量頭通過特殊的阻尼系統(tǒng)與電纜屏蔽層分離。此外，探頭還包含一個電流衰減器。近場探頭的特殊探頭可直接在單個導(dǎo)體軌道上進(jìn)行測量，以定位E場源。
產(chǎn)品參數(shù)：
校準(zhǔn)因子（dB）曲線圖
