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產(chǎn)品參數(shù)
產(chǎn)品編號(hào): Emspira所屬品牌: Leica產(chǎn)品型號(hào): 額定功率：按實(shí)際方案提供所屬類別: 清潔度分析系統(tǒng)所屬用途: 金相組織觀察應(yīng)用領(lǐng)域:產(chǎn)品特性: 徠卡顯微系統(tǒng)公司的清潔度分析系統(tǒng)可提供優(yōu)化的軟件和的目視與化學(xué)分析二合一解決方案。下載相關(guān)資料
徠卡Emspira清潔度分析系統(tǒng)
Cleanliness Analysis Systems
快速發(fā)現(xiàn)污染源
汽車與電子行業(yè)供應(yīng)商和制造商可以使用高效可靠的技術(shù)清潔度解決方案來分析顆粒數(shù)量、尺寸和成分，確保提高產(chǎn)品性能和使用壽命。 徠卡顯微系統(tǒng)公司的清潔度分析系統(tǒng)可提供優(yōu)化的軟件和的目視與化學(xué)分析二合一解決方案。
您將獲得的優(yōu)勢
- 在更短的時(shí)間內(nèi)進(jìn)行更多的分析，提高通量。
- 更好地了解顆粒來源，改善風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估，做出更有信心的決定。
- 滿足您當(dāng)前的所有需求，并為不斷變化的需求做好準(zhǔn)備。
更快獲得結(jié)果
確保更高效地獲得清潔度分析結(jié)果：
- 對(duì)于大小介于5-10微米之間的顆粒，可節(jié)省30%的過濾器樣本掃描時(shí)間。
- 對(duì)于大小超過25微米的顆粒，對(duì)過濾器樣本上顆粒物的掃描速度可以提高3倍。
更快地識(shí)別過濾器樣本上的反光顆粒，通過優(yōu)化算法更快地計(jì)算不規(guī)則形狀顆粒的圓形直徑。
通過自動(dòng)分析多個(gè)過濾器樣本的顆粒進(jìn)一步簡化您的工作流程，通過每批次同時(shí)分析多個(gè)過濾器來節(jié)省時(shí)間。
