在偏光顯微鏡應(yīng)用的傳統(tǒng)領(lǐng)域中-地質(zhì)學(xué)、礦物學(xué)、金相學(xué)以及石化燃料資源的勘探,這些領(lǐng)域?qū)I(yè)偏光顯微鏡提出越來越高的標(biāo)準和技術(shù)要求
在現(xiàn)代材相學(xué)以及偏光顯微鏡應(yīng)用的傳統(tǒng)領(lǐng)域中,對于顯微鏡類檢測設(shè)備來說,面向未來的可升級化的設(shè)計是一項基本的要求。在工業(yè)諸如結(jié)構(gòu)材料、玻璃、塑料、半導(dǎo)體、紡織品、纖維等領(lǐng)域的分析以及刑偵學(xué)中,越來越多新挑戰(zhàn)擺在面前,這種情況下就需要高效、多功能和用戶化的設(shè)備系統(tǒng)來應(yīng)對它們。
這款儀器系統(tǒng)必須具有無應(yīng)力的光學(xué)系統(tǒng)、好高的光學(xué)分辨率以及較廣范圍觀察和測量技術(shù)的應(yīng)用。無論手動型、自動型或是編碼部件都需具備這些特點。無論是在常規(guī)檢測還是科研項目,要求檢驗設(shè)備具有簡便的操作性能、較高的性價比以及可進行數(shù)字化分析三個重要方面。
技術(shù)參數(shù):
光學(xué)系統(tǒng):ICCS光學(xué)系統(tǒng) 鏡體:FEM設(shè)計ACR編碼
1、物鏡:5X、10X、20X、50X 可選1.25X、2.5X、100X
2、目鏡:10X/23
3、物鏡轉(zhuǎn)盤:6孔對中物鏡轉(zhuǎn)盤
4、觀察方式:透射光:明場、單偏光、正交偏光、錐光
反射光:明場、暗場、單偏光、正交偏光、熒光、微分干涉
5、數(shù)字化圖像分析工作站:計算機、打印機、數(shù)字攝像頭、軟件
6、可配冷熱臺
7、可配顯微分光光度計(測量反射率)
1、物鏡:5X、10X、20X、50X 可選1.25X、2.5X、100X
2、目鏡:10X/23
3、物鏡轉(zhuǎn)盤:6孔對中物鏡轉(zhuǎn)盤
4、觀察方式:透射光:明場、單偏光、正交偏光、錐光
反射光:明場、暗場、單偏光、正交偏光、熒光、微分干涉
5、數(shù)字化圖像分析工作站:計算機、打印機、數(shù)字攝像頭、軟件
6、可配冷熱臺
7、可配顯微分光光度計(測量反射率)