Dimension Icon 原子力顯微鏡 (AFM）的性能、功能及附件等方面具有全新表現(xiàn)，在聚合物、半導(dǎo)體、能源、數(shù)據(jù)存儲及材料領(lǐng)域的納米研究中將會得到廣泛應(yīng)用。Dimension Icon 是 Dimension 系列產(chǎn)品中的新款設(shè)備 。這個系統(tǒng)經(jīng)過從上到下的設(shè)計，在易用性、高分辨率及快速 成像等方面有突出表現(xiàn)。

Dimension? Icon? 優(yōu)秀的圖像分辨率，與 Bruker 的電子掃描算法相結(jié)合，顯著提升了測量速度與質(zhì)量。Dimension? 系列大樣品臺原子力顯微鏡始終處于行業(yè)優(yōu)秀地位，Dimension? Icon?是針尖掃描技術(shù)的又一次革新，配置溫度補償位置傳感器，實現(xiàn)了 Z 軸亞埃級和 XY 軸埃級的低噪音水平，將其應(yīng)用在 90 微米掃描范圍的大樣品臺體系上，效果甚至優(yōu)于高分辨小樣品臺 AFM的開環(huán)噪音水平。全新設(shè)計的 XYZ 閉環(huán)掃描頭，即使在較高的掃描速度工作時，也不會損壞圖像質(zhì)量，實現(xiàn)了更大的數(shù)據(jù)采集輸出量。