NanoFlip納米壓痕儀可在真空和常壓條件下對硬度、模量、屈服強度、剛度和其他納米力學測試進行高精確度的測量。在掃描電子顯微鏡（SEM）和聚焦離子束（FIB）系統(tǒng)中，NanoFlip在測試（例如柱壓縮）方面表現(xiàn)優(yōu)異，可以將SEM圖像與機械測試數(shù)據(jù)同步。NanoFlip測量迅速，這對于惰性環(huán)境（例如手套箱）中測試異質材料很關鍵。系統(tǒng)所配置的可選套件，例如InForce50電磁驅動器，可以提供定量結果，從而為材料研究提供有價值的解決方案。
產(chǎn)品詳細 主要應用 提供選項 相關產(chǎn)品
產(chǎn)品描述
NanoFlip提供高精度XYZ位移，可定位樣品進行測試，還提供翻轉機制，可定位樣品進行成像。InView軟件附帶一套測試方法，涵蓋一系列測試協(xié)議，并允許用戶創(chuàng)建自己的新穎測試方法。InForce50驅動器在真空和常壓條件下表現(xiàn)同樣出色。InView軟件可以記錄SEM或其他顯微鏡圖像，并與機械測試數(shù)據(jù)進行同步。創(chuàng)新的FIB-to-Test技術允許樣品傾斜90°，無需移除樣品即可實現(xiàn)從FIB到壓痕測試的無縫過渡。
主要功能
InForce 50驅動器，用于電容位移測量，并配有電磁啟動的可互換探頭
InQuest高速控制器電子設備，具有100kHz數(shù)據(jù)采集速率和20μs時間常數(shù)
用于樣本定位的XYZ移動系統(tǒng)
SEM視頻捕獲，可以將SEM圖像和測試數(shù)據(jù)進行同步
的軟件集成壓頭校準系統(tǒng)，可實現(xiàn)快速，準確的壓頭校準
與Windows®10兼容的InView控制和數(shù)據(jù)查看軟件以及協(xié)助用戶設計實驗的方法開發(fā)功能
主要應用
硬度和模量測量（Oliver-Pharr）
連續(xù)剛度測量
高速材料性質分布圖
ISO 14577硬度測試
聚合物的納米動態(tài)力學分析（DMA）
定量刮擦和磨損測試
工業(yè)應用
大學、研究實驗室和研究所
支柱和微球制造
MEMS（微機電系統(tǒng)）
材料制造（結構壓縮/拉伸/斷裂測試）
電池和元件制造
