菲希爾Couloscope CMS2 庫侖法測厚儀
COULOSCOPE CMS STEP可以通過定位于電位-時(shí)間表中相關(guān)部分的雙指針來方便地測出鍍層厚度和電位差。這個(gè)圖表能夠外部保存或通過RS232轉(zhuǎn)換到PC電腦中。
在電鍍行業(yè)中，對(duì)多層鎳鍍層中各自層的同時(shí)的厚度及電極電位的測定變成了一個(gè)越來越重要的需求，德國Fischer庫倫測厚儀CouloScope CMS STEP正是應(yīng)此而成功研制并大量應(yīng)用。的多鍍層組成為不含硫的半光亮鎳層和含硫的光亮鎳層。這兩個(gè)鎳層間足夠的電位差導(dǎo)致了光亮鎳層優(yōu)先腐蝕于半光亮鎳層。這種次序也就延遲了整個(gè)鎳層的穿透速度，并且給了基材相對(duì)于單鍍層更好的防腐保護(hù)。
特征：
標(biāo)準(zhǔn)：DIN EN ISO 2177 ； ASTM B504
大屏幕點(diǎn)陣液晶顯示屏，可顯示文字與圖形：126 * 70 mm
可設(shè)置和儲(chǔ)存：50個(gè)應(yīng)用程式、600個(gè)數(shù)據(jù)組；3 000個(gè)數(shù)據(jù)
統(tǒng)計(jì)：平均值、zui大值、zui小值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、測量次數(shù)、Cp、Cpk 和直方圖
使用多層菜單和軟鍵，使操作更方便
RS232 接口可通過電纜和傳輸軟件將數(shù)據(jù)傳到 PC
模擬輸出： 0 ～ -18V
輸入阻抗： ＞ 2 KΩ
工作溫度： 10 ℃ ～ 40 ℃
儀器重量： 6 kg
電源： AC 220 V ，50-60 Hz；zui大功耗 ≤ 85 VA
尺寸： 350W * 140H * 200D mm
COULOSCOPECMS
COULOSCOPECMS STEP
庫侖鍍層厚度測試儀
分步測量： 鍍層厚度和電位差
測量：
Au、Cd、Cr、Pd、Ni、Sn、Zn、Pb、Pb60Sn40、Brass 等金屬
基材可為 Cu and Cu-Alloy、Al and Al-Alloy、Zn and Zn-Alloy、Ni、Fe、非金屬材料等
COULOSCOPE CMS雙層鎳鍍層庫倫測厚儀基本配置：
儀器：Couloscope CMS
測量臺(tái)： V24、V26、V18 等
電解液： F1 ～ F22
作為測量鍍層厚度zui簡單的方法之一，庫侖法可以用于 各種鍍層組合。 尤其對(duì)于多鍍層結(jié)構(gòu)， 當(dāng)允許破壞性測 量時(shí)，它提供了一個(gè)比 X 射線更經(jīng)濟(jì)的替代方法。
很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可 以用 CMS2 簡單快速地測量。這個(gè)方法為任何金屬鍍層 提供了的測量。在厚度范圍 0.05 - 50 μm 內(nèi)， 很多 材料不需要預(yù)設(shè)定；基材組成和幾何形狀對(duì)于測量都 是無關(guān)緊要的。
