泰克Keithley 2650 系列高功率 SourceMeter® SMU 儀器
2650 系列大功率 SourceMeter SMU 儀器專為高電壓/電流電子產(chǎn)品和功率半導(dǎo)體元件（例如二極管、FET 和 IGBT、高亮度 LED、直流至直流轉(zhuǎn)換器、電池、太陽能電池及其他高功率材料、組件、模塊和部件）的檢定和測(cè)試而設(shè)計(jì)。 它們提供的功率、精度、速度、靈活性和易用性，可提高研發(fā)、生產(chǎn)測(cè)試和可靠性環(huán)境中的效率。 有兩種儀器可用，提供高達(dá) 3000V 或高達(dá) 2000W 的脈沖電流功率。
特點(diǎn) | 優(yōu)勢(shì) |
| 高度靈活的四象限電壓和電流源/負(fù)載，與高精度電壓表和電流表相耦合 | 提供相比同類產(chǎn)品頗具優(yōu)勢(shì)的性能，具有 6? 位分辨率。 |
| 源或阱 (2651A) 脈沖功率高達(dá) 2000W（±40V、±50A），或直流電源高達(dá) 200W（±10V@±20A、±20V@±10A、±40V@±5A）；輕松連接兩個(gè)器件（串聯(lián)或并聯(lián)）創(chuàng)建高達(dá) ±100A 或 ±80V 的解決方案 | 支持功率半導(dǎo)體、HBLED、光學(xué)設(shè)備、太陽能電池、GaN、SiC 和其他復(fù)合材料與設(shè)備的檢定/測(cè)試。應(yīng)用范圍包括半導(dǎo)體接點(diǎn)溫度檢定；高速、高精度數(shù)字化；電遷移研究；以及高電流、高功率設(shè)備測(cè)試。 |
| 源或阱 (2657A) 直流或脈沖功率高達(dá) 180W（±3000V@20mA、±1500V@120mA） | 提供功率半導(dǎo)體器件檢定和測(cè)試所需的高壓，包括 GaN、SiC 及其他復(fù)合材料和器件、高達(dá) 3kV 的故障和漏電測(cè)試以及亞毫秒瞬態(tài)檢定。 |
| 內(nèi)置基于網(wǎng)絡(luò)瀏覽器的軟件 | 支持通過任何瀏覽器、任何計(jì)算機(jī)、從任何地方進(jìn)行遠(yuǎn)程控制。 |
| 有數(shù)字化或積分測(cè)量模式可供選擇 | 支持精確檢定瞬態(tài)和穩(wěn)態(tài)行為，包括快速變化的熱效應(yīng)。 |
| TSP（測(cè)試腳本處理）技術(shù) | 可以與 2657A 型與 2600B 系列型號(hào)輕松地進(jìn)行系統(tǒng)集成。 |
| TSP-Link 通道擴(kuò)展總線 | 讓多臺(tái) 2651A 和 2657A 與所選 2600B 系列 SMU 儀器組合成多達(dá) 32 條通道的集成系統(tǒng)。 |
| 兼容于 8010 型高功率設(shè)備測(cè)試夾具和 8020 型高功率接口面板 | 為封裝部件或晶片級(jí)高功率設(shè)備測(cè)試提供安全而方便的連接。 |
| 免費(fèi)的測(cè)試腳本構(gòu)建器軟件工具 | 幫助您創(chuàng)建、修改、調(diào)試和存儲(chǔ) TSP 測(cè)試腳本。 |
| 選配的 ACS 基礎(chǔ)半導(dǎo)體元器件檢定軟件 | 開發(fā)、質(zhì)量檢驗(yàn)或故障分析期間執(zhí)行封裝部件檢定時(shí)，較大限度地提高工作效率。 |
大功率2651A 型數(shù)字源表進(jìn)一步豐富了2600A 系列產(chǎn)品。該源表專門針對(duì)大功率電子器 件的特性分析和測(cè)試而優(yōu)化設(shè)計(jì)，可幫助用戶在研發(fā)、可靠性及生產(chǎn)領(lǐng)域提高生產(chǎn)力，包 括高亮度LED、功率半導(dǎo)體、DC/DC 轉(zhuǎn)換器、電池，以及其他大功率材料、元件、模塊 和組件的特性分析和測(cè)試。
與2600A 系列產(chǎn)品的每個(gè)成員一樣，2651A 具有高靈活性、四象限電壓和電流源/負(fù)載， 組合了精密電壓和電流表。該源表可作為：
? 半導(dǎo)體特征分析儀
? 電壓或電流波形發(fā)生器
? 電壓或電流脈沖發(fā)生器
? 精密電源
? 真電流源
? 數(shù)字多用表(直流電壓，直流電流，電阻和功率，分辨率達(dá)5?位)
? 精密電子負(fù)載
2651A 型可輸出或吸入高達(dá)±40V 和50A。
主要特性：
? 源或阱：
- 2,000W脈沖功率(±40V，±50A);
- 200W直流功率(±10V@±20A、±20V@±10A、±40V@±5A)
? 方便地連接兩個(gè)單元(串聯(lián)或并聯(lián))形成±100A 或±80V 解決方案
? 1pA 分辨率，可精密測(cè)量極低的漏電流
? 1μs/點(diǎn)(1MHz)，連續(xù)18 位A/O 轉(zhuǎn)換器，精確的瞬態(tài)特性分析
? 1%至99%脈沖占空比，適用于脈寬調(diào)制(PWM)驅(qū)動(dòng)型器件和特殊驅(qū)動(dòng)類型期間的激勵(lì)
? 組合了精密電壓源、電流源、數(shù)字多用表、任意波形發(fā)生器、電壓或電流脈沖發(fā)生器及測(cè)量、電子負(fù)載及觸發(fā)控制器——多功能一體的儀器
? 包括TSP®Express 特性分析軟件、LabVIEW®驅(qū)動(dòng)，以及吉時(shí)利的Test Script Builder(測(cè)試腳本編輯器)軟件開關(guān)環(huán)境。
典型應(yīng)用：
? 功率半導(dǎo)體、HBLED 和光器件特性分析和測(cè)試
? GaN、SIC 及其他復(fù)合材料和
器件的特性分析
? 半導(dǎo)體結(jié)溫度特性分析
? 高速、高精度數(shù)字化
? 電遷移研究
? 大電流、大功率器件測(cè)試
兩種測(cè)量模式：數(shù)字化或積分
2651A 型有兩種測(cè)量模式可對(duì)瞬態(tài)和穩(wěn)態(tài)行為進(jìn)行精密地特性分析，包括快速變化的熱 效應(yīng)。每種模式均由其獨(dú)立的模/數(shù)(A/D)轉(zhuǎn)換器定義。
在數(shù)字化測(cè)量模式下，連續(xù)進(jìn)行1μs/點(diǎn)采樣，每秒可捕獲1,000,000 個(gè)讀數(shù)。其18 位 A/D 轉(zhuǎn)換器使用戶能夠精密測(cè)量瞬態(tài)特性。對(duì)于更準(zhǔn)確的測(cè)量，可利用基于22 位A/D 轉(zhuǎn) 換器的積分測(cè)量模式。全部2600A 系列儀器均具有積分測(cè)量模式。
每種測(cè)量模式下使用兩個(gè)A/D 轉(zhuǎn)換器(一個(gè) 用于電流，另一個(gè)用于電壓)，可同時(shí)運(yùn)行 用于準(zhǔn)確源讀回，不會(huì)影響測(cè)試效率。
雙數(shù)字化A/D 轉(zhuǎn)換器以高達(dá)1μs/點(diǎn)速率進(jìn)行連 續(xù)采樣，同時(shí)對(duì)電流和電壓波形進(jìn)行特性分析。
高速脈沖
2651A 型能夠準(zhǔn)確輸出和測(cè)量短至100μs 的脈沖，將測(cè)試期間的自熱效應(yīng)影響降至 。更大的控制靈活性使用戶能夠在 100μs 至DC 范圍內(nèi)編程脈寬，在1%至 99%范圍內(nèi)編程占空比。單臺(tái)儀器可輸出 高達(dá)50A 電流脈沖，兩臺(tái)組合可輸出高達(dá) 100A 電流脈沖。
擴(kuò)展能力
利用TSP-Link®，可將多臺(tái)2651A 和其 他2600A 系列儀器組合在一起，形成最 多64 路通道的更大集成系統(tǒng)。利用內(nèi)置 500ns 觸發(fā)控制器，確保精密定時(shí)和嚴(yán) 格通道同步。源表儀器的隔離、獨(dú) 立通道確保了真正的SMU-per-pin 測(cè)試。
吉時(shí)利的TSP 和TSP-Link 技術(shù)確保實(shí)現(xiàn)真 正的SMU-per-pin 測(cè)試，不存在基于主機(jī)系 統(tǒng)的功率和/或通道限制。
此外，兩臺(tái)2651A 型采用TSP-Link 并 聯(lián)時(shí)，電流量程從50A 擴(kuò)展至100A。 當(dāng)兩個(gè)單元串聯(lián)時(shí)，電壓范圍從40V 擴(kuò) 展至80V。內(nèi)置智能特性使多個(gè)單元可 作為單臺(tái)儀器進(jìn)行尋址，簡化了測(cè)試， 由此形成業(yè)內(nèi)的動(dòng)態(tài)范圍(100A 至 1pA)。這種能力確保用戶可測(cè)試各種各 樣的功率半導(dǎo)體和其他器件。
高達(dá)50A (2 個(gè)單元可達(dá)100A)的精密測(cè)量確 保更完善和準(zhǔn)確的特性分析。
1μV 測(cè)量分辨率和高達(dá)50A (2 個(gè)單元可達(dá) 100A)的電流源輸出確保低電平Rds 測(cè)量，支 持新一代器件。
2600A 系列儀器的標(biāo)準(zhǔn)能力
每款2651A 均具備其他2600A 系列儀器 提供的全部特性和能力，包括：
? 既可作為臺(tái)式I-V 特性分析工具，又可 作為多通道I-V 測(cè)試系統(tǒng)的組成部分。
? 無需編程或安裝，TSP Express 軟件 即可快速、簡便地執(zhí)行常見的I-V 測(cè)試。
? ACS 基本版軟件，用于半導(dǎo)體元器件 特性分析(選件)。ACS 基本版軟件現(xiàn) 在具備一種Trace 模式，用于產(chǎn)生一 套特性曲線。
? 吉時(shí)利的TSP®(測(cè)試腳本處理器)軟件， 能夠創(chuàng)建用戶自定義測(cè)試腳本，實(shí)現(xiàn) 自動(dòng)化程度更高的測(cè)試，并且支持創(chuàng) 建編程序列，使儀器在沒有PC 直接控 制的情況下異步工作。
? 多臺(tái)2600A 系列儀器連接在一個(gè)系統(tǒng) 中，實(shí)現(xiàn)并行測(cè)試和精密定時(shí)。
? 符合LXI class C 標(biāo)準(zhǔn)。
? 14 位I/O 線，與探針臺(tái)、元件裝卸裝 置或其他自動(dòng)化工具直接交互。
? USB 端口，利用USB 存儲(chǔ)裝置實(shí)現(xiàn)更 大的數(shù)據(jù)和程序存儲(chǔ)空間。
簡明技術(shù)指標(biāo)
電壓準(zhǔn)確度
| 源 | 測(cè)量 | ||||
量程 | 編程分辨率 | 準(zhǔn)確度±(% 讀數(shù)電流) | 顯示分辨率 | 積分ADC 準(zhǔn)確度±(% 讀數(shù)+電壓) | 高速ADC 準(zhǔn)確度±(% 讀數(shù)+電壓) |
100.000 mV | 5 μV | 0.02% + 500 μV | 1 μV | 0.015% + 300 μV | 0.015% + 600 μV |
1.00000 V | 50 μV | 0.02% + 500 μV | 10 μV | 0.015% + 300 μV | 0.015% + 600 μV |
10.0000 V | 500 μV | 0.02% + 5 mV | 100 μV | 0.015% + 3 mV | 0.015% + 8 mV |
20.0000 V | 500 μV | 0.02% + 5 mV | 100 μV | 0.015% + 3 mV | 0.015% + 8 mV |
40.0000 V | 500 μV | 0.02% + 12 mV | 100 μV | 0.015% + 8 mV | 0.015% + 15 mV |
其他源技術(shù)指標(biāo)
噪聲(10Hz–20MHz)：<100mv 峰-峰值(典型=""><30mv rms="">
過沖：電壓：<±(0.1% +="">
電流：<>
遠(yuǎn)端檢測(cè)工作范圍：
HI 和SENSE HI 之間的電壓 = 3V。
LO 和SENSE LO 之間的電壓 = 3V。
電壓源輸出建立時(shí)間：<50μs>
電流源輸出建立時(shí)間：<80μs>
每路源引線的阻抗：阻抗受限于遠(yuǎn)端
檢測(cè)工作范圍的3V 壓降。
電阻 = 3V/源電流值(A)。
3V = L di/dt。
其他測(cè)量技術(shù)指標(biāo)
負(fù)載阻抗：
常規(guī)模式：10nF(典型值)，3μH(典型值)。
大電容模式：50μF(典型值)，3μH(典型值)。
測(cè)量輸入阻抗：>10GΩ。
共模電壓：250 VDC。
接觸檢查：內(nèi)置。
功率技術(shù)指標(biāo)
輸出功率和源/阱限值：
| 電壓 | 電流 |
| 202 W， | 202 W， |
| ±10.1 V @ ±20.0 A | ± 5.05 A @ ± 40 V |
| ±20.2 V @ ±10.0 A | ± 10.1 A @ ± 20 V |
| ±40.4 V @ ± 5.0 A | ± 20.2 A @ ± 10 V |
| 四象限輸出或吸入操作。 | 四象限輸出或吸入操作。 |
電流和電壓量程擴(kuò)展：兩臺(tái)2651A 可通過串聯(lián)或并聯(lián)擴(kuò)展某些應(yīng)用下的工作量程和功率性能。請(qǐng)參見網(wǎng)站.cn 的應(yīng)用指南。
>
有源負(fù)載操作：注意：當(dāng)2651A 配合另一臺(tái)系統(tǒng)源表儀器或其他任何有源負(fù)載工作時(shí)，需要將2651A 的輸出關(guān)閉 模式設(shè)置為“OUTPUT_ACTIVE_LOAD”。更多詳細(xì)信息請(qǐng)參考2651A 的參考手冊(cè)。
脈沖技術(shù)指標(biāo)
最小可編程脈寬：100μs。 脈寬編程分辨率：1μs。 從脈沖起點(diǎn)至關(guān)閉時(shí)間起點(diǎn)測(cè)得：
最小脈沖上升時(shí)間：
| 電流量程 | 負(fù)載電阻 | 上升時(shí)間(典型值) |
| 50 A | 0.05 Ω | 25 μs |
| 50 A | 0.2 Ω | 57 μs |
| 50 A | 0.4 Ω | 85 μs |
| 20 A | 0.5 Ω | 90 μs |
| 50 A | 0.8 Ω | 120 μs |
| 20 A | 1 Ω | 180 μs |
| 10 A | 2 Ω | 330 μs |
| 5 A | 8 Ω | 400 μs |
占空比：1%–99%
測(cè)量速度技術(shù)指標(biāo)
掃描速率(操作/秒)，60Hz (50Hz)：
| A/D 轉(zhuǎn)換器速 度 | (操作/秒)，6 | 0Hz (50Hz)： 用戶腳本測(cè)量至 存儲(chǔ)器 | 用戶腳本測(cè)量至 | 用戶腳本源測(cè)量至 | 用戶腳本源測(cè)量 | 掃描 API 源測(cè)量 | 掃描 API 源測(cè)量 |
| 0.001 NPLC | 內(nèi)部 | 20000 (20000) | 10000 (10000) | 7000 (7000) | 6200 (6200) | 12000 (12000) | 5900 (5900) |
| 0.001 NPLC | 數(shù)字 I/O | 8100 (8100) | 7100 (7100) | 5500 (5500) | 5100 (5100) | 11200 (11200) | 5700 (5700) |
| 0.1 NPLC | 內(nèi)部 | 580 (480) | 560 (470) | 550 (465) | 550 (460) | 560 (470) | 545 (460) |
| 1.0 NPLC | 內(nèi)部 | 59 (49) | 59 (49) | 59 (49) | 59 (49) | 59 (49) | 59 (49) |
HS ADC | 內(nèi)部 | 38500 (38500) | 20000 (20000) | 10000 (10000) | 9500 (9500) | 14300 (14300) | 6300 (6300) |
單次測(cè)量速率(操作/秒)，60Hz (50Hz)：
A/D 轉(zhuǎn)換器速度 | 觸發(fā)源 | 測(cè)量至 GPIB | 源輸出測(cè)量至 | 源輸出測(cè)量合格/不合格 |
| 0.001 NPLC | 內(nèi)部 | 1900 (1800) | 1400 (1400) | 1400 (1400) |
| 1.0 NPLC | 內(nèi)部 | 58 (48) | 57 (48) | 57 (48) |
測(cè)量量程變化：143 μs
源量程變化：2.5 ms
源功能量程變化：1.0 ms
高速ADC 脈沖串測(cè)量速率：
| 脈沖串長度(讀數(shù)) | 讀數(shù)/s | 脈沖串/s |
100 | 1M | 400 |
500 | 1M | 80 |
1000 | 1M | 40 |
2500 | 1M | 16 |
| 5000 | 1M | 8 |
觸發(fā)和同步技術(shù)指標(biāo)
觸發(fā)：觸發(fā)輸入至觸發(fā)輸出：0.5μs，典型值。
同步：單或多節(jié)點(diǎn)同步源變化：<>
編程
測(cè)試腳本編輯器(TSB)：集成開發(fā)環(huán)境，用于創(chuàng)建、運(yùn)行和管理TSP 腳本。
TSP Express(嵌入式)：無需編程或安裝，即可快速、簡便地執(zhí)行常見的IV 測(cè)試。
其他軟件接口：TSP Express(嵌入式)、Direct GPIB/VISA、Read/Write， 利用VB、VC/C++、VC#、LabVIEW、LabWindows/CVI 等讀/寫。
系統(tǒng)擴(kuò)展
利用TSP-Link 擴(kuò)展接口，使支持TSP 的儀器之間能夠進(jìn)行觸發(fā)和通信。
通用技術(shù)指標(biāo)
USB：USB 2.1 主機(jī)控制器，支持外部數(shù)據(jù)存儲(chǔ)。
接觸檢查：1ms 最小測(cè)量時(shí)間；5%基本準(zhǔn)確度。
PC 接口：IEEE-488.1 和.2；LXI Class C Ethernet；RS-232。
數(shù)字I/O 接口：輸入/輸出引腳：14 位 I/O。5.25V。
電源：100 V 至250 VAC，50 Hz – 60 Hz(自動(dòng)檢測(cè))，550 VA
制冷：強(qiáng)制風(fēng)冷。側(cè)面和頂部吸入，后背板排出。
EMC：符合歐盟EMC 指令。
安全：UL 認(rèn)證，符合UL61010-1:2004 標(biāo)準(zhǔn)符合歐盟低電壓指令。
質(zhì)保：1 年。
尺寸：89mm 高× 435mm 寬× 549mm 深(3.5 in × 17.1 in × 21.6 in)。臺(tái)式配置(含把 手和支腳)：104mm 高× 483mm 寬× 620mm 深(4.1 in × 19 in × 24.4 in)
重量：9.98kg (22 lbs).
環(huán)境：室內(nèi)使用。
校準(zhǔn)周期：1 年。
2657A是一種高電壓、高功率、低電流源測(cè)量單元（SMU），具有迄今為止的功率、 精度、速度、靈活性和易用性，能夠大大提高研發(fā)、生產(chǎn)測(cè)試和可靠性環(huán)境的測(cè)試效 率。2657A是專門針對(duì)高壓電子和功率半導(dǎo)體器件的特征分析與測(cè)試而設(shè)計(jì)的，例如 二極管、FET和IGBT，以及其它一些需要高電壓、快速響應(yīng)和精確測(cè)量電壓和電流的元 件和材料。2657A是吉時(shí)利功率半導(dǎo)體特征分析和測(cè)試解決方案的2600A系列產(chǎn)品，具 有業(yè)界的功率和的低電流性能。這些用戶可配置的解決方案采用了業(yè)界大的參數(shù)式特征分析軟件平臺(tái)，能夠隨著用戶應(yīng)用的發(fā)展進(jìn)行升級(jí)。
2657A與其它2600A系列數(shù)字源表一樣，具有高度靈活的四象限電壓和電流源/負(fù)載， 并配置了精密電壓和電流計(jì)。它可以用作：
? 半導(dǎo)體特征分析儀
? 電壓或電流波形發(fā)生器
? 電壓或電流脈沖發(fā)生器
? 支持電壓和電流讀回的精密電源
? 真電流源
? 數(shù)字萬用表（DCV、DCI、歐姆 和六位半分辨率電源）
? 精密電子負(fù)載
2657A能夠提供或吸收高達(dá)3000V@20mA或1500V@120mA的電源
主要特性：
? 提供或吸收高達(dá)180W的直流或脈沖電 源（±3000V@20mA，±1500V@120mA）
? 1fA低電流分辨率
? 用于高精度和高速瞬態(tài)捕獲的雙22位 精度ADC和每點(diǎn)雙18位1μs數(shù)字轉(zhuǎn)換器
? 易于與其它2600A數(shù)字源表進(jìn)行系統(tǒng)集 成的全TSP®兼容能力
? 單臺(tái)儀器內(nèi)集成了精密電源、電流 源、DMM、任意波形發(fā)生器、電壓或電 流脈沖發(fā)生器、電子18位負(fù)載和觸發(fā) 控制器
? 內(nèi)含TSP® Express特征分析軟 件、LabVIEW ®驅(qū)動(dòng)和吉時(shí)利的Test Script Builder軟件開發(fā)環(huán)
典型應(yīng)用：
? 功率半導(dǎo)體器件特征分析與測(cè)試
? GaN、SiC和其它一些復(fù)合材料與器件 的特征分析
? 高達(dá)3kV的擊穿與漏流測(cè)試
? 亞毫秒瞬態(tài)特征分析
兩種測(cè)量模式：數(shù)字式或積分式 利用2657A的兩種測(cè)量模式，可以對(duì)器件的瞬態(tài)和穩(wěn)態(tài)特性進(jìn)行精確的特征分析，包括快 速改變熱效應(yīng)。每種模式是由其獨(dú)立的模數(shù)（A/D）轉(zhuǎn)換器決定的。
數(shù)字式測(cè)量模式能夠?qū)崿F(xiàn)高達(dá)1μs的采樣速度。利用其雙18位數(shù)字轉(zhuǎn)換器能夠同時(shí)捕獲 電壓和電流瞬態(tài)。在積分式測(cè)量模式下，利用其雙22位積分式模數(shù)轉(zhuǎn)換器能夠?qū)崿F(xiàn)更精 確的電壓與電流測(cè)量。每種測(cè)量模式都使用兩個(gè)A/D轉(zhuǎn)換器，一個(gè)用于電流，另一個(gè)用于 電壓，兩個(gè)轉(zhuǎn)換器同時(shí)工作可以實(shí)現(xiàn)精確的電源讀回，且不影響測(cè)試產(chǎn)能。
雙高速A/D轉(zhuǎn)換器能夠?qū)崿F(xiàn)每點(diǎn)1μs的采樣速度，支持電壓和電流的全同時(shí)特征分析。
擴(kuò)展功能
通過TSP-Link®技術(shù)，2657A能夠與其它2600A系列儀器連接在一起，構(gòu)成更大的具有 32個(gè)節(jié)點(diǎn)的集成式系統(tǒng)。內(nèi)置的500ns觸發(fā)控制器能夠確保精確定時(shí)與緊密通道同步功 能。利用隔離且獨(dú)立的數(shù)字源表通道可以進(jìn)行真正的每pin腳SMU測(cè)試。
高功率器件測(cè)試夾具
8010高功率器件測(cè)試夾具能夠?yàn)楦哌_(dá)3000V或100A下帶封裝的高功率器件的測(cè)試提供安全和 方便的連接。8010提供的連接支持一個(gè)高壓數(shù)字源表（2657A）、一個(gè)或兩個(gè)高電流數(shù)字源表 （2651A）、三個(gè)低功率數(shù)字源表（其它2600A系列或4200-SCS SMU）。利用這一功能，就可以 安全而準(zhǔn)確地對(duì)雙端（二極管）、三端（晶體管）甚至四端或五端器件進(jìn)行特征分析。8010具 有全互鎖功能最多可支持六臺(tái)數(shù)字源表。8010集成了保護(hù)電路，能夠保護(hù)低壓數(shù)字源表免受 2657A輸出高壓造成的器件故障。8010內(nèi)含高電流（100A）和高電壓（3000V）測(cè)試測(cè)試接口。還 有可選的各種備用測(cè)試接口，包括TO-247、TO-220、軸心線，以及可以構(gòu)建自定義接口的一個(gè) 空接口模塊。除了標(biāo)準(zhǔn)的香蕉跳線，8010還具有背板指示器和熱探針端口，可簡化系統(tǒng)集成。
2600A系列儀器的標(biāo)準(zhǔn)功能
2每臺(tái)2657A都具有其它2600A系列數(shù)字源 表所具有的特性和功能：
? 使用靈活，可用作臺(tái)式I-V特征 分析工具，也可以作為多通道I-V 測(cè)試系統(tǒng)的組成模塊；
? TSP Express軟件，無需編程或安 裝其它軟件即可快速而方便地執(zhí) 行常用的I-V測(cè)試。
? 用于半導(dǎo)體元件特征分析的ACS Basic Edition軟件（可選）。ACS Basic Edition現(xiàn)在提供了“Trace” 模式，可產(chǎn)生一套特征曲線。
? 吉時(shí)利的Test Script Processor (TSP)技術(shù)支持創(chuàng)建并運(yùn)行自定義 的用戶測(cè)試腳本，用于實(shí)現(xiàn)高速自 動(dòng)化測(cè)試，以及創(chuàng)建使測(cè)試儀能夠 在沒有PC直接控制的情況下進(jìn)行 異步操作的程序序列。
? 當(dāng)系統(tǒng)中多臺(tái)2600A系列儀器 連接在一起時(shí)，具有并行測(cè)試 執(zhí)行和精確定時(shí)功能。 ? 兼容LXI Class C。
? 14位數(shù)字I/O線，用于直接連接探針 臺(tái)、元件機(jī)械手或其它自動(dòng)化工具。
? USB端口，用于通過USB存儲(chǔ)器保存額 外的數(shù)據(jù)和測(cè)試程序。
2657A主要技術(shù)指標(biāo)1
| 源 | 測(cè)量 | ||||
| 量程 | 編程分辨率 | 精度 | 顯示分辨率 | 積分ADC精度2 ±(% rdg + V) | 高速ADC精度3 ±(% rdg + V) |
| 200 V | 5 mV | 0.03% + 50 mV | 100 μV | 0.025% + 50 mV | 0.05% + 100 mV |
| 500 V | 10 mV | 0.03% + 125 mV | 100 μV | 0.025% + 100 mV | 0.05% + 200 mV |
| 1500 V | 40 mV | 0.03% + 375 mV | 1 mV | 0.025% + 300 mV | 0.05% + 600 mV |
| 3000 V | 80 mV | 0.03% + 750 mV | 1 mV | 0.025% + 600 mV | 0.05% + 1.2 V |
電流精度指標(biāo)4
| 源 | 測(cè)量 | ||||
| 量程 | 編程分辨率 | 精度 | 顯示分辨率 | 積分ADC精度2 ±(% rdg + A) | 高速ADC精度 3 ±(% rdg + A) |
| 1 nA | 30 fA | 0.1% + 2E–12 + VoE–15 | 1 fA | 0.1% + 6E–13 + VoE–15 | 0.2% + 6E–13 + VoE–15 |
| 10 nA | 300 fA | 0.1% + 5E–12 + VoE–15 | 10 fA | 0.1% + 5E–12 + VoE–15 | 0.2% + 5E–12 + VoE–15 |
| 100 nA | 3 pA | 0.1% + 6E–11 + VoE–13 | 100 fA | 0.1% + 6E–11 + VoE–13 | 0.2%+ 6E–11 + VoE–13 |
1 μA | 30 pA | 0.03% + 700 pA | 1 pA | 0.025% + 400 pA | 0.08% + 800 nA |
| 10 μA | 300 pA | 0.03% + 5 nA | 10 pA | 0.025% + 1.5 nA | 0.08% + 3 nA |
100 μA | 3 nA | 0.03% + 60 nA | 100 pA | 0.02 % + 25 nA | 0.05% + 50 nA |
| 1 mA | 30 nA | 0.03% + 300 nA | 1 nA | 0.02 % + 200 nA | 0.05%+ 400 nA |
| 2 mA | 60 nA | 0.03% + 1.2 μA | 1 nA | 0.02 % + 500 nA | 0.05% + 1 μA |
| 20 mA | 600 nA | 0.03% + 12 μA | 10 nA | 0.02 % + 5 μA | 0.05%+ 10 μA |
| 120 mA | 3 μA | 0.03% + 36 μA | 100 nA | 0.02 % + 24 μA | 0.05%+ 50 μA |
1.對(duì)于0°到18°C以及28°到50°C的溫度，精度下降 ±(0.15 × 精度指標(biāo)) °C。
2. 對(duì)于NPLC設(shè)置<>
| NPLC 設(shè)置 | 200V和500V | 1500V和3000V | 100nA | 1μA到120mA |
| 0.1 | 0.01% | 0.01% | 0.01% | 0.01% |
| 0.01 | 0.08% | 0.07% | 0.1 % | 0.05% |
| 0.001 | 0.8 % | 0.6 % | 1 % | 0.5 % |
3.18位ADC。間隔1μs的1000個(gè)樣本均值。
4.對(duì)于0°到18°C以及28°到50°C的溫度，精度下降 ±(0.35 × 精度指標(biāo)) °C
其它特性
典型電壓源噪聲：量程的0.005%。
典型電流源噪聲：量程的0.08%。
典型電壓源設(shè)置：<><>
典型電流源設(shè)置：<><>
相關(guān)指標(biāo)如有改變恕不另行通知。
觸發(fā)與同步指標(biāo)
觸發(fā)：TRIGGER IN到TRIGGER OUT：0.5µs，典型值。
同步：單節(jié)點(diǎn)或多節(jié)點(diǎn)同步源變化：<>
編程
TEST SCRIPT BUILDER: 用于編輯、運(yùn)行和管理TSP腳本的集成式開發(fā)環(huán)境。
TSP EXPRESS （內(nèi)嵌的）：無需編程或安裝其它軟件即可使用戶快速而方便地執(zhí)行常見I-V測(cè)試的工具。
軟件接口：TSP EXPRESS（內(nèi)嵌的）、DIRECT GPIB/VISA、支持VB的讀/寫、VC/C++、 VC#、LABVIEW、TESTPOINT、LABWINDOWS/CVI等。
系統(tǒng)擴(kuò)展
支持TSP功能的儀器通過TSP-Link擴(kuò)展接口可以相互觸發(fā)和通信。如下圖所示：
2657A能夠提供或吸收高達(dá)3000V@20mA或1500V@120mA的電源
一般性指標(biāo)
USB：USB 2.1主控制器，支持外部數(shù)據(jù)存儲(chǔ)。
接觸檢查：± 50Ω
PC接口：IEEE-488.1和.2；LXI CLASS C以太網(wǎng)；RS-232。
數(shù)字I/O接口：輸入/輸出腳：14個(gè)漏極開路I/O位。5.25V。
電源：100V到250V交流，50HZ–60HZ（自動(dòng)檢測(cè)），功率550VA。
冷卻：強(qiáng)迫風(fēng)冷。側(cè)面和頂部吸氣，后部排氣。
EMC：符合歐盟EMC指令。
安全性：ETL列出（待確認(rèn)）。符合歐盟低壓指令。
質(zhì)保期：1年。
尺寸：高89mm × 寬435mm × 深549mm（3.5in × 17.1in × 21.6in）。測(cè)試臺(tái)配置（帶手柄和腿）：高104mm × 寬483mm × 深620mm（4.1in × 19in × 24.4in）。
重量：9.98KG（22lbs）。
使用環(huán)境：僅適合室內(nèi)使用。
校準(zhǔn)周期：一年。
泰克Keithley 2650 系列高功率 SourceMeter® SMU 儀器
