镀层测厚仪XF-P1
XF-P1型镀层测厚仪是一款面向镀层、膜厚、涂层行业厚度无损检测的X射线荧光光谱仪，可广泛应用于涂层厚度产品质量的管理。该产品既可以分析各种金属涂层厚度以及成分分析，可同时分析基材和镀材的成分及厚度。采用基本参数法算法，无需标样，检测速度快，测试稳定性好、准确性高。
产品展示
产品特点
元素检测范围：铝(3)～铀(No.92)
分析范围：≤50μm
检测精度：相对误差≤±1%（最小基体影响）
检测样品：镀层厚度/成分/液体浓度。
定制TCP/IP协议API接口，支持对模块的控制、状态监控及数据采集
支持配件：XY平台微动装置
XY双轴行程：±15mm
产品规格
输入电压：交流100～240V，50Hz
产品包装尺寸：770mm x 510mm x 400mm
产品尺寸：467mm x 345mm x 336mm
样品腔尺寸：306mm x 248mm x 124mm
额定功率：<150W
毛重：50KG
净重：32KG
噪音：50dB
使用环境：
温度：15℃～31℃
湿度：<70%（不结露）
核心部件
探测器：AMPTEK定制版Fast-SDD探测器
内置工控电脑：四核i5工控电脑
高压电源：50KV/1mA数字高压电源
X射线管：50KV/1mA
窗口材料：铍窗
靶材：钨
焦点：ϕ 0.1mm
准直器：0.1mm×0.2mm/0.2mm×0.5mm/ϕ1.0mm
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