二維集成電路專用V-I動態(tài)阻抗端口測試通道：256路
二維電路板專用V-I動態(tài)阻抗端口測試通道：64/128/192/256路（可擴充至2048路）
三維掃頻V-I-F動態(tài)阻抗端口測試通道：64/128/192/256路（可擴充至2048路）

功能用途：

1）集成電路的來料質(zhì)量控制檢測與篩選、一致性檢測；
2）快速篩選、仿制集成電路及元器件；
3）對不良器件進行三維動態(tài)阻抗失效分析；
4）非加電條件下對集成電路、電路板進行全面的端口動態(tài)阻抗測試分析；
5）快速準確定位失效集成電路故障管腳，高效查找故障電路板的失效I/O管腳；
6）測試安全可靠，全面解決器件工藝、電路板工藝問題，快速解決集成電路及電路板故障點定位問題；
7）進行集成電路和電路板阻抗一致性檢測；
8）配合專用測控平臺軟件，實現(xiàn)集成電路、電路板定制化和自定義編程測試。

技術(shù)規(guī)格：

1）256路二維集成電路專用V-I端口動態(tài)阻抗測試通道；
2）64/128/192/256路二維電路板專用V-I端口動態(tài)阻抗測試通道；
3）64/128/192/256路V-I-F三維立體動態(tài)阻抗測試通道；
4）4路探筆測試，4路V-T/V-T-F測試通道；
5）顯示圖形模式:V-I, V-T, V-I-F, V-T-F；
6）可定制各種封裝通用集成電路測試治具；
7）可定制各種電路板I/O接口測試治具；
8）系統(tǒng)提供測試自定義報告輸出；中英文專用測試操作軟件；
9）設(shè)備可以64通道為步進擴充到2048組測試通道。

測試原理(V-I曲線測試)：

   對元器件的每個管腳施加一個安全的低功率的掃描驅(qū)動信號，產(chǎn)生一個阻抗特征圖，以備對比和存儲。被測器件和數(shù)據(jù)庫中標準動態(tài)阻抗圖相比對，阻抗圖的差異大小即可判斷元件的好壞和可用性。測試信號可設(shè)定的參數(shù)包括: 電壓、波形、源電阻、頻率。可根據(jù)需要進行調(diào)整以便得到準確的信息。

集成電路測試操作如此簡單:

1.從數(shù)據(jù)庫選擇要測試的集成電路型號.
2.將集成電路插入測試座.
3.執(zhí)行測試
4.得到PASS或FAIL的測試結(jié)果.

不需要電子專業(yè)知識.
適用于所有集成電路/封裝件.及各種類型電路板.
靈活、好安裝、宜操作.
測試結(jié)果直接: PASS或FAIL.
軟件可設(shè)定各種測試條件.
可提供完整的集成電路自定義測試分析報告.

英國ABI-AT256 A4全品種集成電路測試儀適合不同封裝形式的元件:

-雙列插腳(DIL)
-小型封裝集成集成電路(SOIC)
-小型封裝(SSOP, TSOP)
-塑料無引線芯片載體封裝(PLCC)
-四方扁平封裝(TQFP, PQFP, LQFP)
-球門陣列封裝(BGA)
注意: AT256 A4不受限于只能測試電子集成電路, 也可用于整個電路板的測試。

三維立體V-I-F動態(tài)阻抗端口測試



AT256 A4測試報告




AT256 A4集成電路測試儀

二維集成電路專用V-I動態(tài)阻抗端口測試通道：256路
二維電路板專用V-I動態(tài)阻抗端口測試通道：64/128/192/256路（可擴充至2048路)|
三維掃頻V-I-F動態(tài)阻抗端口測試通道：64/128/192/256路（可擴充至2048路）

北京金三航科技發(fā)展有限公司(英國ABI技術(shù)服務(wù)中心）提供:

集成電路測試儀,集成電路篩選測試儀,元器件篩選測試儀,元器件檢測儀,三維立體動態(tài)阻抗測試儀的使用技術(shù)培訓(xùn)服務(wù),測試程序開發(fā)編譯服務(wù),: .