Chroma 19036為業(yè)界結(jié)合脈沖測試，耐壓、絕緣電阻與直流電阻量測于單機(jī)的繞線組件電氣安規(guī)掃描分析儀，擁有5kVac/6kVdc高壓輸出、5kV絕緣電阻、6kV層間短路脈沖電壓與四線式直流電阻量測。符合繞線組件測試需求且提供多通道掃描測試，單機(jī)10通道輸出可達(dá)成一次多顆掃描測試，節(jié)省測試時(shí)間及人力成本。
繞線組件的測試項(xiàng)目包含AC/DC耐壓測試、IR絕緣電阻測試、繞線組件脈沖測試(IWT)及直流電阻(DCR)。將以上各項(xiàng)測試整合于19036繞線組件電氣安規(guī)掃描分析儀，可針對馬達(dá)、變壓器、電熱絲、電磁閥等相關(guān)繞線產(chǎn)品進(jìn)行安規(guī)測試，讓繞線組件生產(chǎn)廠商及用戶在質(zhì)量驗(yàn)證時(shí)，不但擁有可靠的測試質(zhì)量，能更有效率為產(chǎn)品質(zhì)量把關(guān)。
線圈自體絕緣不良通常是造成線圈于使用環(huán)境中發(fā)生層間短路、跨線短路、出腳短路之根源。其形成原因可能源于初始設(shè)計(jì)不良、加工制程不良，或絕緣材料之劣化等所引起，故在電氣安規(guī)測試制程中加入線圈層間短路測試，即可多組繞組一次掃描測試完成，進(jìn)一步的提升繞線組件質(zhì)量。
19036結(jié)合層間短路測試功能，具備6kV脈沖電壓，擁有波形面積比較、波形差面積比較、波形顫動(dòng)偵測(Flutter)及波形二階微分偵測(Laplacian)等判定，提供線圈自體絕緣不良以及電感量確認(rèn)之有效的檢測方法。
19036設(shè)計(jì)四線直流電阻量測接口，包含Drive與Sense并符合耐壓規(guī)格，可提供10通道的四線直流電阻量測與溫度補(bǔ)償功能。另可同時(shí)搭配16通道掃描盒最多可達(dá)到40通道掃描測試 。
19036提供高速接觸檢查(HSCC)功能，利用直接繞線電阻檢查快速掃描確認(rèn)多個(gè)繞組連接是否正常，解決繞線組件接觸不良而導(dǎo)致測試失敗的問題。
馬達(dá)測試標(biāo)準(zhǔn)如UL 1004-1，需求高功率的安規(guī)綜合測試儀。Chroma 19036其具有輸出及量測AC100mA/DC 20mA的能力。對于漏電流較大或大型設(shè)備電氣安規(guī)測試的使用者，高功率的耐壓測試與其他安規(guī)測試整合于一臺綜合測試儀，將為產(chǎn)線及品保驗(yàn)證帶來的效益，500VA的設(shè)計(jì)也符合IEC/UL對輸出功率的要求。
量測技術(shù)
耐壓測試 - Flashover Detection 電氣閃絡(luò)偵測 (ARC)
19036與Chroma其他安規(guī)測試系列儀器同樣具有Flashover偵測功能。Flashover是絕緣材料內(nèi)部或表面因高電界產(chǎn)生電氣放電，待測物失去原有之絕緣特性，形成瞬時(shí)或非連續(xù)性放電，導(dǎo)致碳化導(dǎo)電通路產(chǎn)生或產(chǎn)品傷害。若只以漏電流判定則無法檢出不良，須以測試電壓或漏電流之變化率判定檢出不良。因此Flashover偵測 為高壓測試的檢視項(xiàng)目之一。
 ▲ AC耐壓測試中未發(fā)生電器閃絡(luò)示意圖 |  ▲ AC耐壓測試中發(fā)生電器閃絡(luò)示意圖 |
脈沖測試
| 所謂的『繞線組件脈沖測試』基本上是以一『非破壞性』、高速、低能量之電壓脈沖施加在待測物上，再藉由分析/比對待測物良品與不良品之 等效波形以達(dá)到判定良否之目的。繞線組件脈沖測試主要功能乃在早期發(fā)現(xiàn)繞線組件中各種潛在之缺陷，例如：層間短路、電暈電弧或甚至是不易發(fā)覺之部分放電等。 四種判定模式
|  ▲ 脈沖測試波形的示意圖 |
DCR 直流電阻量測功能
- DCR量測(兩線/四線)
Chroma 19036可選擇四線或兩線式直流電阻量測，新型式設(shè)計(jì)接口提供10通道四線直流電阻測量，對于馬達(dá)及變壓器等多繞組樣品提供高準(zhǔn)確度量測，其量測范圍從0.1mΩ ~500kΩ。 - 直流電阻平衡判定 (DCR Balance)
三組繞線馬達(dá)的直流電阻不平衡時(shí)，易導(dǎo)致旋轉(zhuǎn)不平衡，長期使用后會造成質(zhì)量不良。直流電阻平衡功能將繞組的最小值相減，若超過設(shè)定值范圍即為不良品，是馬達(dá)類產(chǎn)品長期可靠度測試的輔助工具。 - 溫度補(bǔ)償功能(Temp Compensation)
當(dāng)量測較小的直流電阻值時(shí)，常會遇到溫差所造成的問題。當(dāng)量測時(shí)的溫度不同時(shí)，量測的阻值也會不同。因此19036加入了溫度補(bǔ)償功能 (Temp Compensation)，經(jīng)由溫度系數(shù)的轉(zhuǎn)換，將直流電阻換算為標(biāo)準(zhǔn)溫度下量測的值，減少溫度差異造成的影響。
接觸檢查功能
高速接觸檢查 High Speed Contact Check (HSCC)
當(dāng)測試回路發(fā)生開路時(shí)，不良品可能會被誤判為良品，導(dǎo)致測試的結(jié)果無效。若測試回路發(fā)生短路時(shí)，可于耐壓測試前提早得知，減少對治具設(shè)備的傷害。高速接觸檢查可更快速掃描待測物在回路上的接觸是否正常，讓耐壓測試前的接觸檢查比以往更快完成。
副步驟功能(SUB-Step)
部分生產(chǎn)廠商常以并聯(lián)進(jìn)行耐壓測試以提升生產(chǎn)檢測速度，但并聯(lián)測試時(shí)，無法正確設(shè)定電流上下限值，導(dǎo)致不良品流出; 以及不良品需至后測站另加進(jìn)行測試，增加站數(shù)及成本。19036系列提供次測項(xiàng)功能(sub-step)。當(dāng)生產(chǎn)需要并聯(lián)測試時(shí)，經(jīng)由程序的編輯，以不良(Fail)做為次測項(xiàng)啟動(dòng)條件。意指當(dāng)測試于主測項(xiàng)(并聯(lián))不良時(shí)，才會進(jìn)行次測項(xiàng)測試(單顆)，即可判斷出不良品為哪一顆待測物，可達(dá)到高產(chǎn)速與高檢測質(zhì)量之優(yōu)化。
例：
Step 1: AC Hipot / pin1 to pin5, 6, 7
Sub step 1.1: AC Hipot / pin1 to pin5
Sub step 1.2: AC Hipot / pin1 to pin6
Sub step 1.3: AC Hipot / pin1 to pin7
人體接地保護(hù)功能(GFI)
Chroma 19036擁有GFI人體保護(hù)功能來保護(hù)測試人員。在突發(fā)人體感電的情形下，GFI能夠立即切斷儀器之電壓輸出，保護(hù)操作員不受電氣傷害。GFI功能以偵測從地端(Earth GND)流回之電流(Ioperator)與LOW端電流(Idevice)，比較后若大于0.5mA，則會在立即切斷電壓輸出。
 ▲ 測試多個(gè)變壓器的接線示意圖 |  ▲ 人體接地保護(hù)功能的示意圖 |
產(chǎn)品應(yīng)用
旋轉(zhuǎn)電機(jī)組件 - △ / Y馬達(dá)、風(fēng)扇、轉(zhuǎn)子/ 定子
從電動(dòng)車主馬達(dá)、服務(wù)器馬達(dá)、揚(yáng)升馬達(dá)與風(fēng)扇等所有旋轉(zhuǎn)電機(jī)類產(chǎn)品，其制程中會進(jìn)行脈沖測試 、耐壓測試及直流阻抗量測等測試來確保產(chǎn)品質(zhì)量。并參考JB/T 7080國標(biāo)機(jī)械行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行測試。19036之直流電阻量測上可進(jìn)行四線式量測，單端點(diǎn)包含Drive和Sense共10組獨(dú)立通道讓您可以一次掃描測試三顆待測物，提高生產(chǎn)產(chǎn)能。每個(gè)通道可分別設(shè)定為高壓輸出/參考端/關(guān)閉。
Y型馬達(dá)
Y型馬達(dá)測試項(xiàng)目為：
- HSCC / OSC
- DCR Test
- Impulse Test
- Hi-pot –Sub step test
△與Y型馬達(dá)繞組
針對△型與Y型馬達(dá)繞組(無中心抽頭式)無法直接進(jìn)行直流電阻量測的問題，Chroma 19036具有馬達(dá)繞線電阻計(jì)算功能， 經(jīng)計(jì)算后得到R1, R2, R3的數(shù)值。
40通道掃描測試
A190359掃描儀提供16個(gè)測試通道，每個(gè)通道都可設(shè)定為H(高壓輸出)，L(參考點(diǎn))或是Off(不設(shè)定)。19036與A190359組合可應(yīng)用于多PIN或少量多樣型之待測物以及cell單元式產(chǎn)線，單站完成所有測試。
| ▲ Δ型馬達(dá)接線范例 | ▲ Y型馬達(dá)接線范例 |
 |  ▲ 19036與四線式擴(kuò)充掃描盒x2的接線范例 |
