OXFORD-243E手持式測(cè)厚儀是緊固件行業(yè)應(yīng)用的理想工具
牛津儀器公司提供可靠的高一般的測(cè)試方法,例如一般測(cè)厚儀制造商采用的普通磁感應(yīng)和渦流方式,由于探頭的" 升離效應(yīng)" 導(dǎo)致的底材效應(yīng),和由于測(cè)試件形狀和結(jié)構(gòu)導(dǎo)致的干擾,都無(wú)法達(dá)到對(duì)金屬性鍍層厚度的測(cè)量。
牛津儀器將新的基于相位的電渦流技術(shù)應(yīng)用到OXFORD-243E,使其達(dá)到了±3%以內(nèi)(對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)片)的準(zhǔn)確度和0.3% 以內(nèi)的度。牛津儀器對(duì)電渦流技術(shù)的應(yīng)用,將底材效應(yīng)小化,使得測(cè)量且不受零件的幾何形狀影響。另外,儀器一般不需要在鐵質(zhì)底材上進(jìn)行校準(zhǔn)。ECP-M探頭專為較難測(cè)量的金屬覆層設(shè)計(jì),此單探頭可以測(cè)量鐵質(zhì)底材上幾乎有金屬覆層,例如鋅、鎳、銅、鉻和鎘。更小的探針為極小的、形狀特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的測(cè)量。
優(yōu)勢(shì):
1、采用基于相位的電渦流技術(shù),集測(cè)量、價(jià)格合理、質(zhì)量可靠的優(yōu)勢(shì)于一體的手持式測(cè)厚儀。
2、是一款靈便、易用的儀器,專為金屬表面處理者設(shè)計(jì)。配置的單探頭可測(cè)量,鐵質(zhì)底上有金屬鍍層-即使在極小的、形狀特殊的或表面粗糙的樣品上都可以進(jìn)行測(cè)量。
3、易于用戶控制,并且可以同X線熒光測(cè)儀的準(zhǔn)確性和精密性媲美。
4、為了讓客戶能以低成本購(gòu)買OXFORD-243E免去了對(duì)多探頭、操作培訓(xùn)和持續(xù)保養(yǎng)的需要。牛津儀器公司提供可靠的高品質(zhì)產(chǎn)品,并擁有快速響應(yīng)的客戶服務(wù)團(tuán)隊(duì)。
測(cè)量技術(shù):
一般的測(cè)試方法,例如一般測(cè)厚儀制造商采用的普通磁感應(yīng)和渦流方式,由于探頭的" 升離效應(yīng)" 導(dǎo)致的底材效應(yīng),和由于測(cè)試件形狀和結(jié)構(gòu)導(dǎo)致的干擾,都無(wú)法達(dá)到對(duì)金屬性鍍層厚度的測(cè)量。
牛津儀器將新的基于相位的電渦流技術(shù)應(yīng)用到OXFORD-243E,使其達(dá)到了±3%以內(nèi)(對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)片)的準(zhǔn)確度和0.3% 以內(nèi)的度。
牛津儀器對(duì)電渦流技術(shù)的應(yīng)用,將底材效應(yīng)小化,使得測(cè)量且不受零件的幾何形狀影響。
另外,儀器一般不需要在鐵質(zhì)底材上進(jìn)行校準(zhǔn)。
基本配置包括:
ECP-M探頭及拆除指南 |
Rs232串行電纜 |
校準(zhǔn)用鐵上鍍鋅標(biāo)準(zhǔn)片組 |
可單獨(dú)選配SMTP-1(磁感應(yīng)探頭) |
測(cè)量范圍: ECP-M探頭規(guī)格(mm)
鐵上鍍層 | 鍍層厚度范圍 | 探頭 |
Zn | 0–38μm | ECP-M |
Cd | 0–38μm | ECP-M |
Cr | 0–38μm | ECP-M |
Cu | 0–10μm | ECP-M |
Non-Mag/Fe | 1270μm | SMP-1 |
小凸面半徑 | 1.143 |
小凹面半徑 | 1.524 |
測(cè)量高度 | 101.6 |
小測(cè)量直徑 | 2.286 |
技術(shù)參數(shù)及功能:
底材小 | 304.8 |
準(zhǔn)確度:相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)片±3% |
度:0.3% |
分辨率:0.1μm |
電渦流:遵循DIN50984, BS5411 Part 3, ISO 2360, ISO 21968草案, ASTM B499, 及ASTM E376 |
存儲(chǔ)量:26,500 條存儲(chǔ)讀數(shù) |
尺寸:14.9 x 7.94 x 3.02 cm |
重量:0.26 kg 包括電池 |
單位:英制和公制的自動(dòng)轉(zhuǎn)換 |
接口:RS-232串行接口,波特率可調(diào),用于下載至打印機(jī)或計(jì)算機(jī) |
顯示屏:三位數(shù)LCD液晶顯示 |
電池:9伏堿性電池,65小時(shí)連續(xù)使用 |
的ECP-M探頭:ECP-M探頭專為較難測(cè)量的金屬覆層設(shè)計(jì),此單探頭可以測(cè)量,鐵質(zhì)底材上幾乎有金屬覆層,例如鋅、鎳、銅、鉻和鎘。更小的探針為極小的、形狀特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的測(cè)量。 |